评价用基板、缺陷检查方法以及缺陷检测装置

    公开(公告)号:CN103229046A

    公开(公告)日:2013-07-31

    申请号:CN201180057111.0

    申请日:2011-08-22

    Abstract: 本发明提供一种用于评价包含在有机材料中的异物缺陷的评价用基板及其缺陷检查方法和缺陷检查装置。本发明的评价用基板的特征在于,具备:基板;配置在上述基板上的第一膜;配置在上述第一膜上并在其上形成包含上述有机材料的膜的第二膜,上述第一膜被设定为,关于在上述第二膜的蚀刻中使用的蚀刻剂的蚀刻速率比上述第二膜的蚀刻低,并且可光学检测的缺陷的检测下限值小于或等于上述第二膜的缺陷的检测下限值,上述第二膜的膜厚度被设定为使用缺陷检查装置等光学测量的雾度(Haze)值取最小值或极小值附近的值。

    评价用基板、缺陷检查方法以及缺陷检测装置

    公开(公告)号:CN103229046B

    公开(公告)日:2015-10-21

    申请号:CN201180057111.0

    申请日:2011-08-22

    Abstract: 本发明提供一种用于评价包含在有机材料中的异物缺陷的评价用基板及其缺陷检查方法和缺陷检查装置。本发明的评价用基板的特征在于,具备:基板;配置在上述基板上的第一膜;配置在上述第一膜上并在其上形成包含上述有机材料的膜的第二膜,上述第一膜被设定为,关于在上述第二膜的蚀刻中使用的蚀刻剂的蚀刻速率比上述第二膜的蚀刻低,并且可光学检测的缺陷的检测下限值小于或等于上述第二膜的缺陷的检测下限值,上述第二膜的膜厚度被设定为使用缺陷检查装置等光学测量的雾度(Haze)值取最小值或极小值附近的值。

    图像传感器模块
    5.
    发明授权

    公开(公告)号:CN107924924B

    公开(公告)日:2022-12-06

    申请号:CN201680047033.9

    申请日:2016-08-01

    Abstract: 提供能够实现简便并且高精度的光学系统的组装的图像传感器模块的构造。图像传感器模块具有:中介层基板,其具有第一面和与第一面相反侧的第二面,该中介层基板具有透光性并且具有多个贯穿孔;图像传感器,其配置在与中介层基板的第一面对置的位置,在中介层基板侧具有配置有多个光电转换元件的受光面,该图像传感器经由多个贯穿孔中的电极而与外部电路连接;以及透镜单元,其配置在与中介层基板的第二面对置的位置。

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