-
公开(公告)号:CN109323744A
公开(公告)日:2019-02-12
申请号:CN201811140808.4
申请日:2018-09-28
Applicant: 李军
IPC: G01G19/50 , G01N23/083 , G01N23/087 , G01N30/02 , G01N35/00 , C12Q1/6858 , C12Q1/6806 , G16B40/00 , G16B20/20
Abstract: 本发明公开了一种T2DM绝经后女性WNT3A基因多态性与骨代谢关系的研究及其应用,以新疆石河子地区人群为基础,观察Wnt3a基因rs752107及rs708114位点多态性在T2DM绝经后女性的分布特点,同时分析其与BMD、糖代谢、脂代谢、骨代谢指标的相关性,以求能进一步探讨Wnt3a基因在T2DM绝经后女性骨代谢中的相关机制,为2型糖尿病合并骨质疏松机制的研究或防治及个体化诊疗提供理论依据。
-
公开(公告)号:CN109195526A
公开(公告)日:2019-01-11
申请号:CN201780033712.5
申请日:2017-05-31
Applicant: 皇家飞利浦有限公司
Inventor: J·E·弗雷登贝里 , K·E·L·贝里格伦
IPC: A61B6/00 , G01N23/04 , G01N23/087 , A61B6/02
Abstract: 本发明提出了对谱图像数据与非谱图像数据进行组合以便克服不同数据获取方法的限制。来自所述方法的结果优选根据空间频率进行组合,从而谱图像数据在低频率下提供高准确性,而非谱图像数据在高频率下帮助减少噪声。本发明实现了X射线成像的不同领域中的一系列应用,诸如改善的组织对比度和组织表征。
-
公开(公告)号:CN105277578B
公开(公告)日:2018-06-12
申请号:CN201410252245.3
申请日:2014-06-09
Applicant: 北京君和信达科技有限公司
IPC: G01N23/087 , G01V5/00
CPC classification number: G01N23/087
Abstract: 本发明公开了一种提高双能辐射系统材料识别能力的方法,包括:步骤一,确定被检测材料的原子序数和厚度;步骤二,基于被检测材料的原子序数和厚度计算脉冲数量比(或剂量比);步骤三,将双能辐射系统的脉冲数量比(或剂量比)调节为计算好的比例。本发明还公开了一种双能辐射系统。利用本发明可以快速地获得双能辐射系统的最佳材料识别状态,在此状态下进行扫描检查,双能系统的材料识别能力具有大幅提高。
-
公开(公告)号:CN104603606B
公开(公告)日:2018-04-24
申请号:CN201380045976.4
申请日:2013-07-18
Applicant: 西门子公司
IPC: G01N23/087
CPC classification number: G01T1/36 , A61B6/032 , A61B6/0457 , A61B6/4014 , A61B6/4241 , A61B6/482 , A61B6/5205 , A61B6/5258 , G01T1/17
Abstract: 本发明的内容是,除了强度之外附加地还引入X射线辐射的谱组成,用于确定由对象(7)引起的衰减。本发明的另一个方面是一种装置,特别是用于X射线或CT系统(1)的辐射监视器(M),其适合用于执行提到的按照本发明的过程。
-
公开(公告)号:CN107677692A
公开(公告)日:2018-02-09
申请号:CN201710860693.5
申请日:2017-09-21
Applicant: 中国科学院上海应用物理研究所
IPC: G01N23/04 , G01N23/087
Abstract: 本发明涉及一种防腐剂处理的竹材或木材的无损检测方法,包括:防腐剂处理得到试样;利用同步辐射X射线对金属元素标准样品进行扫描,利用所述K吸收边校正同步辐射能量;每间隔能量T对所述试样进行连续曝光成像得到一系列X射线投影图,差值为能量T的第三辐射能量和第四辐射能量对应第一X射线投影图和第二X射线投影图;选取第一X射线投影图和第二X射线投影图相减得到金属元素的分布情况。根据本发明的方法,检测精确,操作便捷,适应于无损检测防腐剂处理的竹材,也适用于无损检测防腐剂处理的木材。
-
公开(公告)号:CN107076685A
公开(公告)日:2017-08-18
申请号:CN201580060141.5
申请日:2015-10-05
Applicant: 株式会社石田
Inventor: 栖原一浩
IPC: G01N23/04 , G01N23/087 , G01N23/18 , G01T1/20
CPC classification number: G01N23/043 , G01N23/04 , G01N23/083 , G01N23/087 , G01N23/16 , G01N23/18 , G01N23/223 , G01N2223/04 , G01N2223/076 , G01N2223/406 , G01N2223/505 , G01N2223/643 , G01T1/20
Abstract: 一种既抑制制造成本又能够检测宽能量带的X射线的X射线检查装置(10),具备:X射线照射器(13)、线传感器组装体(14)等。线传感器组装体(14)具有多个检测单元(41)等。检测单元(41)具有闪烁器(53)、配置于其上面的包括多个元件的检测主体(52)以及支撑它们的陶瓷支承板(51)。在线传感器组装体(14)中,以检测单元(41)等的闪烁器(53)及检测主体(52)与邻接的检测单元的闪烁器(52)及检测主体(53)无间隙排列的方式,多个检测单元(41)等在前后方向上排列。
-
公开(公告)号:CN104132953B
公开(公告)日:2017-03-29
申请号:CN201410384492.9
申请日:2014-08-06
Applicant: 中国科学技术大学
IPC: G01N23/087 , A61B6/00
Abstract: 本发明公开了一种双能X射线相位衬度成像装置及其实现方法,该双能X射线相位衬度成像装置沿光路依次包括X光机、源光栅、分束光栅、样品室、分析光栅和X射线探测器,其中:X光机用于发出X射线;源光栅用于将大焦点的X光源分成为若干个不相干的小焦点光源;分束光栅用于将小焦点光源分成若干束,照射到样品室中的样品上,并在分析光栅上形成几何投影;样品室用于放置并固定样品,同时带动样品进行旋转;分析光栅用于与分束光栅一起在X射线探测器上形成莫尔条纹;X射线探测器用于获取并记录该莫尔条纹。利用本发明进行双能X射线相位衬度成像时,选取的两个能量值V高和V低可以根据实际情况随意调整,从而扩大双能X射线相位衬度成像的使用范围。
-
公开(公告)号:CN105628718A
公开(公告)日:2016-06-01
申请号:CN201410610841.4
申请日:2014-11-04
Applicant: 同方威视技术股份有限公司
IPC: G01N23/04 , G01N23/087
CPC classification number: G01N23/046 , A61B6/032 , A61B6/4035 , A61B6/4241 , A61B6/4291 , A61B6/463 , A61B6/482 , A61B6/484 , G01N23/087 , G01N2223/401 , G01N2223/408 , G01N2223/419 , G01N2223/605
Abstract: 本发明涉及多能谱X射线光栅成像系统与成像方法。本发明的多能谱X射线光栅成像系统具备发射对被检测物体进行照射的X射线的非相干X射线源、由彼此平行配置且依次布置在X射线传播方向上的第一吸收光栅和第二吸收光栅组成的光栅模块以及接收通过了第一以及第二吸收光栅的X射线的能谱分辨型X射线探测器,第一吸收光栅和第二吸收光栅之一在其至少一个周期范围内进行相位步进动作,在每个相位步进过程,非相干X射线源发射X射线对被检测物体进行照射,能谱分辨型X射线探测器接收X射线并对X射线进行能谱分辨,经过一次相位步进过程和数据采集,能谱分辨型X射线探测器上每个像素点处每个能量段的X射线的光强表示为一个光强曲线。
-
公开(公告)号:CN105277578A
公开(公告)日:2016-01-27
申请号:CN201410252245.3
申请日:2014-06-09
Applicant: 北京君和信达科技有限公司
IPC: G01N23/087 , G01V5/00
CPC classification number: G01N23/087
Abstract: 本发明公开了一种提高双能辐射系统材料识别能力的方法,包括:步骤一,确定被检测材料的原子序数和厚度;步骤二,基于被检测材料的原子序数和厚度计算脉冲数量比(或剂量比);步骤三,将双能辐射系统的脉冲数量比(或剂量比)调节为计算好的比例。本发明还公开了一种双能辐射系统。利用本发明可以快速地获得双能辐射系统的最佳材料识别状态,在此状态下进行扫描检查,双能系统的材料识别能力具有大幅提高。
-
公开(公告)号:CN102753963B
公开(公告)日:2016-01-20
申请号:CN201080063482.5
申请日:2010-11-02
Applicant: 法国原子能与替代能委员会
Inventor: 派翠克·奥维尔·巴菲特 , 吉洛姆·贝尔德约蒂 , 维诺妮卡·雷布菲尔 , 尚·瑞科
IPC: G01N23/083 , G01N23/087
CPC classification number: G01N23/087
Abstract: 本发明涉及一种用于特征化材料的性质的方法,其特征在于,其包含下列步骤:-提供介于X射线光源(1)及侦测器之间的此材料的至少一个样本(100),-使用所述X射线光源(1)使N个X射线放射光谱透射穿过所述材料,每一个达时间Δt,-计算此材料的透射函数以作为能量或侦测通道的函数,-在至少两个能量区的每一个中,计算透射函数的积分,因此形成至少一个第一透射系数(α1)及第二透射系数(α2)。
-
-
-
-
-
-
-
-
-