-
公开(公告)号：CN103903666A
公开(公告)日：2014-07-02
申请号：CN201410148270.7
申请日：2014-04-14
Applicant: 中国科学技术大学
IPC: G21K3/00
Abstract: 本发明涉及X射线相位衬度成像技术领域，公开了一种对X光机出射光谱进行带通滤波的方法，该方法是将盛满碘化钾溶液或碘化钠溶液的有机玻璃容器与X光机阳极出射面对准，使有机玻璃容器中的碘化钾溶液或碘化钠溶液能完全覆盖X光机阳极发出的锥束X射线，利用碘化钾溶液或碘化钠溶液对不同能量段X射线衰减能力的差异性，来滤除X光机出射光谱中的高能部分和低能部分。滤除X光机出射光谱中的高能部分，提高了常规X光源光栅相位衬度成像的位移曲线对比度，增加了相位信息提取的灵敏度和准确性。滤除X光机出射射线的低能部分，降低了样品的辐射损伤，去除了重建伪影，增加了X射线光栅相位衬度系统的成像质量。
-
公开(公告)号：CN103377746A
公开(公告)日：2013-10-30
申请号：CN201210111518.3
申请日：2012-04-16
Applicant: 中国科学技术大学
IPC: G21K7/00
Abstract: 本发明公开了一种实现显微镜系统超分辨成像的方法。该方法基于一包括光源、聚焦镜、物镜和图像探测器的显微镜系统，包括：搭建显微镜系统；改变显微镜系统中聚焦镜的数值孔径，采集样品的分别对应不同聚焦镜数值孔径的至少两张暗场像；在至少两张暗场像中分别提取对应像素的散射强度值，构造以聚焦镜数值孔径为自变量，以所提取的散射强度值为因变量的实验散射强度曲线；由实验散射强度曲线获得样品上瑞利分辨单元内部亚分辨尺度的微观结构信息，实现显微镜的超分辨成像。本发明具有突破显微镜系统的固有分辨率极限、并提升成像衬度的优点。
-
-
公开(公告)号：CN104622492A
公开(公告)日：2015-05-20
申请号：CN201310557196.X
申请日：2013-11-11
Applicant: 中国科学技术大学
CPC classification number: G01N23/04 , A61B6/4035 , A61B6/4291 , A61B6/484 , G01N23/20075
Abstract: 本发明公开了一种大视场、高衬度、低剂量的硬X射线光栅相位衬度成像装置和方法，所述装置包括源发射器(31)、源光栅(G0)、分束光栅(G1)、分析光栅(G2)和探测器(32)，该源光栅(G0)、分束光栅(G1)、分析光栅(G2)和探测器(32)依次设置在源发射器(31)的传播路径上，分束光栅(G1)的周期为30～50μm、高宽比不大于20。本发明通过增大光栅周期，提高分束光栅的空占比，同时增加物体到分析光栅的距离，提供了一种高图像衬度、低辐射剂量、大视场相位衬度成像的装置与方法，并且本发明能够利用常规多色X光源和现有的光栅制作工艺，适于实际临床应用。
-
公开(公告)号：CN104504710A
公开(公告)日：2015-04-08
申请号：CN201410840694.X
申请日：2014-12-30
Applicant: 中国科学技术大学
CPC classification number: G06T7/70 , G06T2207/10116
Abstract: 本发明公开了一种X射线光栅相位衬度成像中的摩尔条纹的识别方法及装置，所述方法包括：步骤1：对待识别的摩尔条纹图像进行光照不均匀修正；步骤2：对经过光照不均匀修正后的摩尔条纹图像进行滤波；步骤3：对滤波后的摩尔条纹图像进行二值化，获得二值化图像；步骤4：对所述二值化图像进行细化，以提取二值化图像中摩尔条纹的中心线；步骤5：根据所提取的摩尔条纹的中心线识别摩尔条纹的精确位置。本发明提供的方法实现了摩尔条纹角度和方向计算的自动化，避免的仪器使用者的主观因素导致的误差，并且仪器调节速度大大提高，精确度也得到了很好的保证。
-
Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN104132953B
公开(公告)日：2017-03-29
申请号：CN201410384492.9
申请日：2014-08-06
Applicant: 中国科学技术大学
IPC: G01N23/087 , A61B6/00
Abstract: 本发明公开了一种双能X射线相位衬度成像装置及其实现方法，该双能X射线相位衬度成像装置沿光路依次包括X光机、源光栅、分束光栅、样品室、分析光栅和X射线探测器，其中：X光机用于发出X射线；源光栅用于将大焦点的X光源分成为若干个不相干的小焦点光源；分束光栅用于将小焦点光源分成若干束，照射到样品室中的样品上，并在分析光栅上形成几何投影；样品室用于放置并固定样品，同时带动样品进行旋转；分析光栅用于与分束光栅一起在X射线探测器上形成莫尔条纹；X射线探测器用于获取并记录该莫尔条纹。利用本发明进行双能X射线相位衬度成像时，选取的两个能量值V高和V低可以根据实际情况随意调整，从而扩大双能X射线相位衬度成像的使用范围。
-
公开(公告)号：CN103900502B
公开(公告)日：2017-01-04
申请号：CN201410153744.7
申请日：2014-04-16
Applicant: 中国科学技术大学
IPC: G01B15/00
Abstract: 本发明公开了一种基于X射线几何投影莫尔条纹的精密位移测量装置，该装置包括：同步辐射加速器，用于产生平行同步X射线光；双晶单色器将X射线光转换为单一波长、高准直的平行X射线；X射线垂直照射顺序平行放置的指示光栅和标尺光栅，以产生莫尔条纹；标尺光栅与运动部件连接在一起；X射线探测器，用于探测莫尔条纹并输出相应的电信号；条纹细分和显示装置，用于对X射线探测器输出的电信号进行条纹细分和显示处理。本发明还公开了一种基于X射线几何投影莫尔条纹的精密位移测量方法。本发明能够提高现有光栅莫尔条纹位移测量技术的分辨率和灵敏度，增加两块光栅之间的距离，降低光栅安装过程中的难度，提高系统使用的稳定性和可靠性。
-
-
公开(公告)号：CN104535595A
公开(公告)日：2015-04-22
申请号：CN201510012249.9
申请日：2015-01-09
Applicant: 中国科学技术大学
Abstract: 本发明公开了一种用于X射线光栅相位衬度成像的背景扣除方法，成像系统包括X光机(1)、源光栅(2)、分束光栅(3)、样品室(4)、分析光栅(5)和X射线探测器(6)。本发明利用相位步进法采集到的图像，通过循环移动样品图像和背景图像的顺序，而使各像素的初始相位远离相位跳变区，从而可以使样品产生的相位没有跨过跳变区，进而可以避免相位纠缠现象的发生。同时基于本发明专利的背景扣除方法可以灵活调节相位测量的范围，如调节为(-π+3，π+3]，而传统方法的相位测量范围是固定在(-π，π]区间内的，本发明专利因此可以在某些应用情况下获得优势。
-
公开(公告)号：CN103900502A
公开(公告)日：2014-07-02
申请号：CN201410153744.7
申请日：2014-04-16
Applicant: 中国科学技术大学
IPC: G01B15/00
Abstract: 本发明公开了一种基于X射线几何投影莫尔条纹的精密位移测量装置，该装置包括：同步辐射加速器，用于产生平行同步X射线光；双晶单色器将X射线光转换为单一波长、高准直的平行X射线；X射线垂直照射顺序平行放置的指示光栅和标尺光栅，以产生莫尔条纹；标尺光栅与运动部件连接在一起；X射线探测器，用于探测莫尔条纹并输出相应的电信号；条纹细分和显示装置，用于对X射线探测器输出的电信号进行条纹细分和显示处理。本发明还公开了一种基于X射线几何投影莫尔条纹的精密位移测量方法。本发明能够提高现有光栅莫尔条纹位移测量技术的分辨率和灵敏度，增加两块光栅之间的距离，降低光栅安装过程中的难度，提高系统使用的稳定性和可靠性。
-
-
-
-
-
-
-
-
-
Search Results
19
records
(took 0.026 seconds)
