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公开(公告)号：CN114113167B
公开(公告)日：2024-07-09
申请号：CN202111446517.X
申请日：2021-11-26
Applicant: 中国科学技术大学
IPC: G01N23/041
Abstract: 本公开提供一种X射线Talbot‑Lau光栅相衬成像方法，包括：S1：基于现实设计条件和要求完成传统Talbot‑Lau成像系统基本参数设定；S2：根据基本参数计算成像系统的理论总长度；S3：根据理论总长度和目标长度确定缩放因子；以及S4：根据缩放因子对成像系统整体进行伸缩调整，完成X射线Talbot‑Lau光栅相衬成像。成像系统，包括：X射线源，用于提供X射线照明；源光栅，用于将X射线分成多个内部相干、相互之间空间非相干的小尺寸的线型X射线源；可调相位光栅，能够沿光轴方向移动，用于在线型X射线源照射下产生干涉图样；可调分析光栅，能够与可调相位光栅同向移动，用于解析干涉图样；X射线探测器，用于数据的采集；以及计算机，用于数据储存以及数据分析处理。
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公开(公告)号：CN110133010B
公开(公告)日：2020-10-27
申请号：CN201910274368.X
申请日：2019-04-04
Applicant: 中国科学技术大学
IPC: G01N23/041
Abstract: 本公开提供了一种X射线相位衬度成像方法，包括：步骤1，采集背景图像并形成背景位移曲线；步骤2，计算步骤1中所述背景位移曲线的特征物理量；步骤3，根据步骤2所计算的背景位移曲线的特征物理量选取优化步进位，基于所述优化步进位采集物体的正向图像和反向图像；以及步骤4，根据步骤3中所述正向图像和反向图像、优化步进位以及所述特征物理量完成X射线相位衬度成像。
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公开(公告)号：CN106290414B
公开(公告)日：2019-10-22
申请号：CN201610618771.6
申请日：2016-07-29
Applicant: 中国科学技术大学
IPC: G01N23/04 , G01N23/083 , G01N23/20
Abstract: 本发明公开了一种X射线相位衬度成像装置和成像方法，装置包括X射线管(11)、源光栅(12)、样品台‑、分束光栅(13)、分析光栅(15)和X射线探测器(16)，各部件的中心都在水平方向上共轴。其中，源光栅(12)、分束光栅(13)和分析光栅(15)的衬底面均正对着所述X射线管(11)。本发明调转了三块光栅的放置方向，无需改变现有的校正步骤、采集方法以及信息分离方法，就能将传统方法中吸收光栅周期性结构的吸收部分承担的能量沉积转移一部分到衬底部分，使得衬底受到的辐照剂量、能量沉积和热分布更加均匀，减小相应的热效应带来的光栅振动乃至变形，提高系统的稳定性，延长光栅使用寿命。
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公开(公告)号：CN104504710B
公开(公告)日：2017-04-12
申请号：CN201410840694.X
申请日：2014-12-30
Applicant: 中国科学技术大学
Abstract: 本发明公开了一种X射线光栅相位衬度成像中的摩尔条纹的识别方法及装置，所述方法包括：步骤1：对待识别的摩尔条纹图像进行光照不均匀修正；步骤2：对经过光照不均匀修正后的摩尔条纹图像进行滤波；步骤3：对滤波后的摩尔条纹图像进行二值化，获得二值化图像；步骤4：对所述二值化图像进行细化，以提取二值化图像中摩尔条纹的中心线；步骤5：根据所提取的摩尔条纹的中心线识别摩尔条纹的精确位置。本发明提供的方法实现了摩尔条纹角度和方向计算的自动化，避免的仪器使用者的主观因素导致的误差，并且仪器调节速度大大提高，精确度也得到了很好的保证。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN106290414A
公开(公告)日：2017-01-04
申请号：CN201610618771.6
申请日：2016-07-29
Applicant: 中国科学技术大学
Abstract: 本发明公开了一种X射线相位衬底成像装置和成像方法，装置包括X射线管(11)、源光栅和X射线探测器(16)，各部件的中心都在水平方向上共轴。其中，源光栅(12)、分束光栅(13)和分析光栅(15)的衬底面均正对着所述X射线管(11)。本发明调转了三块光栅的放置方向，无需改变现有的校正步骤、采集方法以及信息分离方法，就能将传统方法中吸收光栅周期性结构的吸收部分承担的能量沉积转移一部分到衬底部分，使得衬底受到的辐照剂量、能量沉积和热分布更加均匀，减小相应的热效应带来的光栅振动乃至变形，提高系统的稳定性，延长光栅使用寿命。(12)、样品台(4)、分束光栅(13)、分析光栅(15)
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公开(公告)号：CN103903666B
公开(公告)日：2016-11-09
申请号：CN201410148270.7
申请日：2014-04-14
Applicant: 中国科学技术大学
IPC: G21K3/00
Abstract: 本发明涉及X射线相位衬度成像技术领域，公开了一种对X光机出射光谱进行带通滤波的方法，该方法是将盛满碘化钾溶液或碘化钠溶液的有机玻璃容器与X光机阳极出射面对准，使有机玻璃容器中的碘化钾溶液或碘化钠溶液能完全覆盖X光机阳极发出的锥束X射线，利用碘化钾溶液或碘化钠溶液对不同能量段X射线衰减能力的差异性，来滤除X光机出射光谱中的高能部分和低能部分。滤除X光机出射光谱中的高能部分，提高了常规X光源光栅相位衬度成像的位移曲线对比度，增加了相位信息提取的灵敏度和准确性。滤除X光机出射射线的低能部分，降低了样品的辐射损伤，去除了重建伪影，增加了X射线光栅相位衬度系统的成像质量。
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公开(公告)号：CN103377746B
公开(公告)日：2015-12-02
申请号：CN201210111518.3
申请日：2012-04-16
Applicant: 中国科学技术大学
IPC: G21K7/00
Abstract: 本发明公开了一种实现显微镜系统超分辨成像的方法。该方法基于一包括光源、聚焦镜、物镜和图像探测器的显微镜系统，包括：搭建显微镜系统；改变显微镜系统中聚焦镜的数值孔径，采集样品的分别对应不同聚焦镜数值孔径的至少两张暗场像；在至少两张暗场像中分别提取对应像素的散射强度值，构造以聚焦镜数值孔径为自变量，以所提取的散射强度值为因变量的实验散射强度曲线；由实验散射强度曲线获得样品上瑞利分辨单元内部亚分辨尺度的微观结构信息，实现显微镜的超分辨成像。本发明具有突破显微镜系统的固有分辨率极限、并提升成像衬度的优点。
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公开(公告)号：CN104458777A
公开(公告)日：2015-03-25
申请号：CN201410841493.1
申请日：2014-12-30
Applicant: 中国科学技术大学
IPC: G01N23/04
Abstract: 本发明公开了一种用于X射线相位衬度成像的积分水桶相位测量方法，应用于X射线相位衬度成像系统。所述方法包括如下步骤：S1、在垂直于光路的横向平面上，沿垂直于分析光栅栅条的方向上使分析光栅在一个光栅周期内做连续的往复直线运动，同时使样品室保持连续的旋转运动，期间X射线探测器一直在采集图像，分析光栅每运动一个单位步距，探测器采集一张图像，即一张图像的曝光时间等于分析光栅移动一个单位步距的时间；S2、根据步骤S1采集的图像计算样品的相位信息。本发明有利于保证快速X射线相位衬度成像过程中机械系统的稳定性，同时能减少样品所接受的不必要的辐射剂量。
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公开(公告)号：CN104132953A
公开(公告)日：2014-11-05
申请号：CN201410384492.9
申请日：2014-08-06
Applicant: 中国科学技术大学
IPC: G01N23/087 , A61B6/00
Abstract: 本发明公开了一种双能X射线相位衬度成像装置及其实现方法，该双能X射线相位衬度成像装置沿光路依次包括X光机、源光栅、分束光栅、样品室、分析光栅和X射线探测器，其中：X光机用于发出X射线；源光栅用于将大焦点的X光源分成为若干个不相干的小焦点光源；分束光栅用于将小焦点光源分成若干束，照射到样品室中的样品上，并在在分析光栅上形成几何投影；样品室用于放置并固定样品，同时带动样品进行旋转；分析光栅用于与分束光栅一起在X射线探测器上形成莫尔条纹；X射线探测器用于获取并记录该莫尔条纹。利用本发明进行双能X射线相位衬度成像时，选取的两个能量值V高和V低可以根据实际情况随意调整，从而扩大双能X射线相位衬度成像的使用范围。
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