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公开(公告)号：CN104504710A
公开(公告)日：2015-04-08
申请号：CN201410840694.X
申请日：2014-12-30
Applicant: 中国科学技术大学
CPC classification number: G06T7/70 , G06T2207/10116
Abstract: 本发明公开了一种X射线光栅相位衬度成像中的摩尔条纹的识别方法及装置，所述方法包括：步骤1：对待识别的摩尔条纹图像进行光照不均匀修正；步骤2：对经过光照不均匀修正后的摩尔条纹图像进行滤波；步骤3：对滤波后的摩尔条纹图像进行二值化，获得二值化图像；步骤4：对所述二值化图像进行细化，以提取二值化图像中摩尔条纹的中心线；步骤5：根据所提取的摩尔条纹的中心线识别摩尔条纹的精确位置。本发明提供的方法实现了摩尔条纹角度和方向计算的自动化，避免的仪器使用者的主观因素导致的误差，并且仪器调节速度大大提高，精确度也得到了很好的保证。
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公开(公告)号：CN104458777B
公开(公告)日：2018-07-03
申请号：CN201410841493.1
申请日：2014-12-30
Applicant: 中国科学技术大学
IPC: G01N23/04 , G01N23/046
Abstract: 本发明公开了一种用于X射线相位衬度成像的积分水桶相位测量方法，应用于X射线相位衬度成像系统。所述方法包括如下步骤：S1、在垂直于光路的横向平面上，沿垂直于分析光栅栅条的方向上使分析光栅在一个光栅周期内做连续的往复直线运动，同时使样品室保持连续的旋转运动，期间X射线探测器一直在采集图像，分析光栅每运动一个单位步距，探测器采集一张图像，即一张图像的曝光时间等于分析光栅移动一个单位步距的时间；S2、根据步骤S1采集的图像计算样品的相位信息。本发明有利于保证快速X射线相位衬度成像过程中机械系统的稳定性，同时能减少样品所接受的不必要的辐射剂量。
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公开(公告)号：CN104535595B
公开(公告)日：2017-05-31
申请号：CN201510012249.9
申请日：2015-01-09
Applicant: 中国科学技术大学
Abstract: 本发明公开了一种用于X射线光栅相位衬度成像的背景扣除方法，成像系统包括X光机(1)、源光栅(2)、分束光栅(3)、样品室(4)、分析光栅(5)和X射线探测器(6)。本发明利用相位步进法采集到的图像，通过循环移动样品图像和背景图像的顺序，而使各像素的初始相位远离相位跳变区，从而可以使样品产生的相位没有跨过跳变区，进而可以避免相位纠缠现象的发生。同时基于本发明专利的背景扣除方法可以灵活调节相位测量的范围，如调节为(‑π+3，π+3]，而传统方法的相位测量范围是固定在(‑π，π]区间内的，本发明专利因此可以在某些应用情况下获得优势。
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公开(公告)号：CN103903666A
公开(公告)日：2014-07-02
申请号：CN201410148270.7
申请日：2014-04-14
Applicant: 中国科学技术大学
IPC: G21K3/00
Abstract: 本发明涉及X射线相位衬度成像技术领域，公开了一种对X光机出射光谱进行带通滤波的方法，该方法是将盛满碘化钾溶液或碘化钠溶液的有机玻璃容器与X光机阳极出射面对准，使有机玻璃容器中的碘化钾溶液或碘化钠溶液能完全覆盖X光机阳极发出的锥束X射线，利用碘化钾溶液或碘化钠溶液对不同能量段X射线衰减能力的差异性，来滤除X光机出射光谱中的高能部分和低能部分。滤除X光机出射光谱中的高能部分，提高了常规X光源光栅相位衬度成像的位移曲线对比度，增加了相位信息提取的灵敏度和准确性。滤除X光机出射射线的低能部分，降低了样品的辐射损伤，去除了重建伪影，增加了X射线光栅相位衬度系统的成像质量。
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公开(公告)号：CN104504710B
公开(公告)日：2017-04-12
申请号：CN201410840694.X
申请日：2014-12-30
Applicant: 中国科学技术大学
Abstract: 本发明公开了一种X射线光栅相位衬度成像中的摩尔条纹的识别方法及装置，所述方法包括：步骤1：对待识别的摩尔条纹图像进行光照不均匀修正；步骤2：对经过光照不均匀修正后的摩尔条纹图像进行滤波；步骤3：对滤波后的摩尔条纹图像进行二值化，获得二值化图像；步骤4：对所述二值化图像进行细化，以提取二值化图像中摩尔条纹的中心线；步骤5：根据所提取的摩尔条纹的中心线识别摩尔条纹的精确位置。本发明提供的方法实现了摩尔条纹角度和方向计算的自动化，避免的仪器使用者的主观因素导致的误差，并且仪器调节速度大大提高，精确度也得到了很好的保证。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN103903666B
公开(公告)日：2016-11-09
申请号：CN201410148270.7
申请日：2014-04-14
Applicant: 中国科学技术大学
IPC: G21K3/00
Abstract: 本发明涉及X射线相位衬度成像技术领域，公开了一种对X光机出射光谱进行带通滤波的方法，该方法是将盛满碘化钾溶液或碘化钠溶液的有机玻璃容器与X光机阳极出射面对准，使有机玻璃容器中的碘化钾溶液或碘化钠溶液能完全覆盖X光机阳极发出的锥束X射线，利用碘化钾溶液或碘化钠溶液对不同能量段X射线衰减能力的差异性，来滤除X光机出射光谱中的高能部分和低能部分。滤除X光机出射光谱中的高能部分，提高了常规X光源光栅相位衬度成像的位移曲线对比度，增加了相位信息提取的灵敏度和准确性。滤除X光机出射射线的低能部分，降低了样品的辐射损伤，去除了重建伪影，增加了X射线光栅相位衬度系统的成像质量。
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公开(公告)号：CN105486693A
公开(公告)日：2016-04-13
申请号：CN201610035277.7
申请日：2016-01-19
Applicant: 中国科学技术大学
IPC: G01N21/95
CPC classification number: G01N21/95
Abstract: 本发明公开了一种无损检测高精度元件缺陷的方法，包括：搭建依次设置的且包含X射线光源、源光栅G0、分束光栅G1、分析光栅G2及探测器的光路，该光路中的源光栅G0的周期与分析光栅G2的周期、分束光栅G1的周期与分析光栅G2的周期满足预设条件；将待检测高精度元件放置于分束光栅G1与分析光栅G2之间，对待检测高精度元件进行相位衬度成像，获得待检测高精度元件的折射信号和吸收信号，从而对其缺陷进行检测。采用本发明公开的方法，可以快速高效地检测高精度元件的微小缺陷，适用于非透明物体。
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公开(公告)号：CN104458777A
公开(公告)日：2015-03-25
申请号：CN201410841493.1
申请日：2014-12-30
Applicant: 中国科学技术大学
IPC: G01N23/04
Abstract: 本发明公开了一种用于X射线相位衬度成像的积分水桶相位测量方法，应用于X射线相位衬度成像系统。所述方法包括如下步骤：S1、在垂直于光路的横向平面上，沿垂直于分析光栅栅条的方向上使分析光栅在一个光栅周期内做连续的往复直线运动，同时使样品室保持连续的旋转运动，期间X射线探测器一直在采集图像，分析光栅每运动一个单位步距，探测器采集一张图像，即一张图像的曝光时间等于分析光栅移动一个单位步距的时间；S2、根据步骤S1采集的图像计算样品的相位信息。本发明有利于保证快速X射线相位衬度成像过程中机械系统的稳定性，同时能减少样品所接受的不必要的辐射剂量。
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公开(公告)号：CN104132953A
公开(公告)日：2014-11-05
申请号：CN201410384492.9
申请日：2014-08-06
Applicant: 中国科学技术大学
IPC: G01N23/087 , A61B6/00
Abstract: 本发明公开了一种双能X射线相位衬度成像装置及其实现方法，该双能X射线相位衬度成像装置沿光路依次包括X光机、源光栅、分束光栅、样品室、分析光栅和X射线探测器，其中：X光机用于发出X射线；源光栅用于将大焦点的X光源分成为若干个不相干的小焦点光源；分束光栅用于将小焦点光源分成若干束，照射到样品室中的样品上，并在在分析光栅上形成几何投影；样品室用于放置并固定样品，同时带动样品进行旋转；分析光栅用于与分束光栅一起在X射线探测器上形成莫尔条纹；X射线探测器用于获取并记录该莫尔条纹。利用本发明进行双能X射线相位衬度成像时，选取的两个能量值V高和V低可以根据实际情况随意调整，从而扩大双能X射线相位衬度成像的使用范围。
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公开(公告)号：CN104132953B
公开(公告)日：2017-03-29
申请号：CN201410384492.9
申请日：2014-08-06
Applicant: 中国科学技术大学
IPC: G01N23/087 , A61B6/00
Abstract: 本发明公开了一种双能X射线相位衬度成像装置及其实现方法，该双能X射线相位衬度成像装置沿光路依次包括X光机、源光栅、分束光栅、样品室、分析光栅和X射线探测器，其中：X光机用于发出X射线；源光栅用于将大焦点的X光源分成为若干个不相干的小焦点光源；分束光栅用于将小焦点光源分成若干束，照射到样品室中的样品上，并在分析光栅上形成几何投影；样品室用于放置并固定样品，同时带动样品进行旋转；分析光栅用于与分束光栅一起在X射线探测器上形成莫尔条纹；X射线探测器用于获取并记录该莫尔条纹。利用本发明进行双能X射线相位衬度成像时，选取的两个能量值V高和V低可以根据实际情况随意调整，从而扩大双能X射线相位衬度成像的使用范围。
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