使用材料的透射函数而辨识材料的方法及装置
Abstract:
本发明涉及一种用于特征化材料的性质的方法,其特征在于,其包含下列步骤:-提供介于X射线光源(1)及侦测器之间的此材料的至少一个样本(100),-使用所述X射线光源(1)使N个X射线放射光谱透射穿过所述材料,每一个达时间Δt,-计算此材料的透射函数以作为能量或侦测通道的函数,-在至少两个能量区的每一个中,计算透射函数的积分,因此形成至少一个第一透射系数(α1)及第二透射系数(α2)。
Public/Granted literature
Patent Agency Ranking
0/0