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公开(公告)号：CN102753963A
公开(公告)日：2012-10-24
申请号：CN201080063482.5
申请日：2010-11-02
Applicant: 法国原子能与替代能委员会
Inventor： 派翠克·奥维尔·巴菲特 , 吉洛姆·贝尔德约蒂 , 维诺妮卡·雷布菲尔 , 尚·瑞科
IPC: G01N23/083 , G01N23/087
CPC classification number: G01N23/087
Abstract: 本发明涉及一种用于特征化材料的性质的方法，其特征在于，其包含下列步骤：-提供介于X射线光源(1)及侦测器之间的此材料的至少一个样本(100)，-使用所述X射线光源(1)使N个X射线放射光谱透射穿过所述材料，每一个达时间Δt，-计算此材料的透射函数以作为能量或侦测通道的函数，-在至少两个能量区的每一个中，计算透射函数的积分，因此形成至少一个第一透射系数(α1)及第二透射系数(α2)。
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公开(公告)号：CN102753963B
公开(公告)日：2016-01-20
申请号：CN201080063482.5
申请日：2010-11-02
Applicant: 法国原子能与替代能委员会
Inventor： 派翠克·奥维尔·巴菲特 , 吉洛姆·贝尔德约蒂 , 维诺妮卡·雷布菲尔 , 尚·瑞科
IPC: G01N23/083 , G01N23/087
CPC classification number: G01N23/087
Abstract: 本发明涉及一种用于特征化材料的性质的方法，其特征在于，其包含下列步骤：-提供介于X射线光源(1)及侦测器之间的此材料的至少一个样本(100)，-使用所述X射线光源(1)使N个X射线放射光谱透射穿过所述材料，每一个达时间Δt，-计算此材料的透射函数以作为能量或侦测通道的函数，-在至少两个能量区的每一个中，计算透射函数的积分，因此形成至少一个第一透射系数(α1)及第二透射系数(α2)。
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公开(公告)号：CN102713678B
公开(公告)日：2016-05-25
申请号：CN201080061692.0
申请日：2010-11-30
Applicant: 法国原子能与替代能委员会
IPC: G01T1/17
CPC classification number: G01T1/171
Abstract: 本发明揭露一种用以校准X射线的测量光谱(Spmes)的方法，其特征在于，根据若干个通道Nc、每个通道i对应Ei与Ei+ΔEi之间的能量范围，所述方法包含决定方程式δti，j(k)，所述方程式δti，j(k)决定分离与能量Ei及Ej的两交互作用的时间偏移Δt区间的大小，两交互作用的迭加，产生可被侦测能量值Ek；从方程式δti，j(k)，对应能量Ei及Ej的分别两交互作用的迭加，在通道k内被计数的事件的所述概率方程式Pi，j(k)；从概率方程式Pi，j(k)，决定迭加光谱(Emp)，迭加光谱为仅单独对应迭加的测量光谱(Spmes)的部分；以及通过测量光谱(Spmes)及迭加光谱(Emp)的差值，计算或估计至少一第一校准光谱(Spcor)。
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公开(公告)号：CN102713678A
公开(公告)日：2012-10-03
申请号：CN201080061692.0
申请日：2010-11-30
Applicant: 法国原子能与替代能委员会
IPC: G01T1/17
CPC classification number: G01T1/171
Abstract: 本发明揭露一种用以校准X射线的测量光谱(Spmes)的方法，其特征在于，根据若干个通道Nc、每个通道i对应Ei与Ei+ΔEi之间的能量范围，所述方法包含决定方程式δti，j(k)，所述方程式δti，j(k)决定分离与能量Ei及Ej的两交互作用的时间偏移Δt区间的大小，两交互作用的迭加，产生可被侦测能量值Ek；从方程式δti，j(k)，对应能量Ei及Ej的分别两交互作用的迭加，在通道k内被计数的事件的所述概率方程式Pi，j(k)；从概率方程式Pi，j(k)，决定迭加光谱(Emp)，迭加光谱为仅单独对应迭加的测量光谱(Spmes)的部分；以及通过测量光谱(Spmes)及迭加光谱(Emp)的差值，计算或估计至少一第一校准光谱(Spcor)。
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