Invention Publication
CN107076685A X射线检查装置
无效 - 撤回
- Patent Title: X射线检查装置
- Patent Title (English): X-ray inspection device
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Application No.: CN201580060141.5Application Date: 2015-10-05
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Publication No.: CN107076685APublication Date: 2017-08-18
- Inventor: 栖原一浩
- Applicant: 株式会社石田
- Applicant Address: 日本京都
- Assignee: 株式会社石田
- Current Assignee: 株式会社石田
- Current Assignee Address: 日本京都
- Agency: 北京康信知识产权代理有限责任公司
- Agent 玉昌峰; 纪秀凤
- Priority: 2014-232130 20141114 JP
- International Application: PCT/JP2015/078132 2015.10.05
- International Announcement: WO2016/076036 JA 2016.05.19
- Date entered country: 2017-05-04
- Main IPC: G01N23/04
- IPC: G01N23/04 ; G01N23/087 ; G01N23/18 ; G01T1/20

Abstract:
一种既抑制制造成本又能够检测宽能量带的X射线的X射线检查装置(10),具备:X射线照射器(13)、线传感器组装体(14)等。线传感器组装体(14)具有多个检测单元(41)等。检测单元(41)具有闪烁器(53)、配置于其上面的包括多个元件的检测主体(52)以及支撑它们的陶瓷支承板(51)。在线传感器组装体(14)中,以检测单元(41)等的闪烁器(53)及检测主体(52)与邻接的检测单元的闪烁器(52)及检测主体(53)无间隙排列的方式,多个检测单元(41)等在前后方向上排列。
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