公开(公告)号：CN106093095A

公开(公告)日：2016-11-09

申请号：CN201610369713.4

申请日：2016-05-30

Applicant: 中国工程物理研究院流体物理研究所

Inventor： 阳庆国

IPC: G01N23/223

CPC classification number: G01N23/223 ,  G01N2223/406

Abstract: 本发明提供了一种全视场X射线荧光成像系统及成像方法，该方案包括X射线光源、滤片组、样品台、球面晶体、限光滤波装置、二维空间分辨的探测器和计算机；样平台上放置样品；X射线光源发出的X射线照射在样品上，样品发出的X射线荧光依次经过限光滤波装置和球面晶体滤波选单后聚焦成像在探测器上；计算机能够控制X射线光源和接收探测器的回传信息。本方案可以实现非扫描的全视场X射线荧光成像，获得待测样品中某一元素的含量及二维分布图像。这种全视场的X射线荧光成像技术具有较大的视场、较高空间分辨率、极高的光谱分辨率、较大的景深、图像采集速度快、可逐一单独分析样品中的多种元素，其他元素荧光或散射噪声干扰低等优点。

公开(公告)号：CN106908466A

公开(公告)日：2017-06-30

申请号：CN201710197153.3

申请日：2017-03-29

Applicant: 中国科学院过程工程研究所

Inventor： 张海涛 ,  张锁江

IPC: G01N23/223 ,  G01N23/22 ,  G05D27/02

CPC classification number: G01N23/223 ,  G01N23/2204 ,  G01N2223/076 ,  G01N2223/1016 ,  G01N2223/30 ,  G01N2223/406 ,  G05D27/02

Abstract: 本发明涉及一种在线X射线荧光光谱分析系统，包括检测子系统、自控子系统以及数据处理子系统；检测子系统包括X射线源、X射线检测器以及样品采集器；X射线入射到样品采集器内，样品在X射线的激发下生成二次X射线，X射线检测器对二次X射线能量进行检测；自控子系统用于将样品转变到常温常压状态，并传输到样品采集器中以备检测子系统进行分析测试；自控子系统将样品的温度和压力参数传输到数据处理子系统，接收并执行来自数据处理子系统的指令；数据处理子系统接收检测信号，通过二次X射线波长来鉴别样品的元素种类，通过二次X射线强度来计算元素在样品内的含量；数据处理子系统还接收自控子系统的信号，根据该信号来控制自控子系统。

公开(公告)号：CN106198589A

公开(公告)日：2016-12-07

申请号：CN201610465249.9

申请日：2016-06-23

Applicant: 中国科学院高能物理研究所

Inventor： 朱佩平

IPC: G01N23/223

CPC classification number: G01N23/223 ,  G01N2223/076 ,  G01N2223/401 ,  G01N2223/406

Abstract: 本发明涉及一种X射线荧光CT设备、数据采集和图像重建方法，所述CT设备包括：片光产生装置，用于产生照射被测样品的片形X射线束；样品转台，用于带动被测样品绕第一坐标轴或第二坐标轴步进转动，沿第一方向步进平动；数据采集器，用于在被测样品每次步进转动或步进平动时，采集被测样品受片形X射线束照射激发产生的X射线荧光面积分数据、透射X射线面积分数据和/或一维X射线衍射图数据；数据处理模块，用于根据X射线荧光面积分数据重建被测样品特定元素的三维分布，根据透射X射线面积分数据和/或一维X射线衍射图数据重建被测样品密度的三维分布。本发明提高了激发荧光的效率，在提高空间分辨率的同时保持信噪比不变或者提高。

公开(公告)号：CN107941830A

公开(公告)日：2018-04-20

申请号：CN201711445064.2

申请日：2017-12-27

Applicant: 钢研纳克检测技术股份有限公司

Inventor： 宋春苗 ,  周超 ,  李瑞 ,  胡学强 ,  刘明博 ,  袁良经

IPC: G01N23/207

CPC classification number: G01N23/2076 ,  G01N2223/0568 ,  G01N2223/1016 ,  G01N2223/406

Abstract: 本发明涉及的是一种波谱能谱复合型X射线荧光光谱仪的关键功能部件，特别涉及一种用于波谱能谱复合型X射线荧光光谱仪的分布分析图像采集与数据处理系统。该系统通过成像模块精确定位待测样品表面区域，驱动样品移动到指定位置，进行能谱全元素分布分析和波谱单元素分布分析，经过数据定性定量分析模块将能谱数据与波谱数据结合，得到样品表面待测区域的元素含量的分布分析信息，通过数据图象处理模块建立二维和三维数据模型并显示。本发明将能谱快速扫描与波谱对重点区域精细扫描相结合，对样品进行快速高精度定位分析，提高分析速度和分析灵敏度，将常规分析与元素分布分析相结合，波谱与能谱相结合，拓展了WEDXRF光谱仪应用领域。

公开(公告)号：CN107076685A

公开(公告)日：2017-08-18

申请号：CN201580060141.5

申请日：2015-10-05

Applicant: 株式会社石田

Inventor： 栖原一浩

IPC: G01N23/04 ,  G01N23/087 ,  G01N23/18 ,  G01T1/20

CPC classification number: G01N23/043 ,  G01N23/04 ,  G01N23/083 ,  G01N23/087 ,  G01N23/16 ,  G01N23/18 ,  G01N23/223 ,  G01N2223/04 ,  G01N2223/076 ,  G01N2223/406 ,  G01N2223/505 ,  G01N2223/643 ,  G01T1/20

Abstract: 一种既抑制制造成本又能够检测宽能量带的X射线的X射线检查装置(10)，具备：X射线照射器(13)、线传感器组装体(14)等。线传感器组装体(14)具有多个检测单元(41)等。检测单元(41)具有闪烁器(53)、配置于其上面的包括多个元件的检测主体(52)以及支撑它们的陶瓷支承板(51)。在线传感器组装体(14)中，以检测单元(41)等的闪烁器(53)及检测主体(52)与邻接的检测单元的闪烁器(52)及检测主体(53)无间隙排列的方式，多个检测单元(41)等在前后方向上排列。