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公开(公告)号：CN104950002A
公开(公告)日：2015-09-30
申请号：CN201510111764.2
申请日：2015-03-13
Applicant: 日本株式会社日立高新技术科学
Inventor： 的场吉毅
IPC: G01N23/04
CPC classification number: G01N23/083 , G01N23/043 , G01N23/16 , G01N2223/04 , G01N2223/505 , G01N2223/642 , G01N2223/652
Abstract: 本发明提供X射线透过检查装置，其能够降低装置的停机时间并能够实现X射线检测器的长寿命化。该X射线透过检查装置具备：X射线源(2)，其相对于试样S照射X射线X；检测器(3)，其相对于试样设置于X射线源的相反侧，并使用了对透过试样的X射线进行检测的荧光体(3b)；屏蔽部件(4)，其与检测器的检测面(3a)相对地配置并屏蔽X射线的一部分，在检测面上部分地形成X射线的屏蔽区域A1；以及部件驱动机构(5)，其能使屏蔽部件相对于检测器进行相对移动来变更屏蔽区域A1的位置。
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公开(公告)号：CN102032882B
公开(公告)日：2012-11-21
申请号：CN201010282677.0
申请日：2010-09-13
Applicant: 横河电机株式会社
IPC: G01B15/02 , G01N23/02 , B65H23/188 , B65H20/14
CPC classification number: G01B15/025 , G01N23/16
Abstract: 本发明公开一种放射线检测装置，所述放射线检测装置包括：传送单元，其构造为传送片状样品；放射线源，其构造为向所述片状样品发射放射线；线阵传感器，其构造为测量所述片状样品的物理特性，所述线阵传感器设置为隔着所述片状样品与所述放射线源相对；以及气体喷射单元装置，其构造为朝向所述片状样品喷射气体，以减小因所述片状样品的张力而产生的竖直传送摆动，所述气体喷射单元紧密靠近所述线阵传感器的至少一个侧面。
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公开(公告)号：CN1012756B
公开(公告)日：1991-06-05
申请号：CN88106898
申请日：1988-09-21
Applicant: 阿莫科公司
IPC: G01N35/02
CPC classification number: G01N23/16 , E21B25/005 , G01N33/24
Abstract: 在钻进现场分析用的无带式岩芯传送系统包括一个具有容纳岩芯段的接收部分和用于啮合的驱动啮合部分的岩芯输送槽，其驱动啮合部分与驱动装置的至少两个相隔的驱动器啮合，使岩芯输送槽作直线运动，且在驱动器已将岩芯输送槽驱动一个约等于岩芯输送槽的驱动啮合部分的长度时，可从驱动器上自行脱开，在输送槽内的岩芯输送至分析装置处，对岩芯进行分析。还可包括多个串联的分析装置，和位置信号检测装置及控制装置。
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公开(公告)号：CN108693199A
公开(公告)日：2018-10-23
申请号：CN201810292650.6
申请日：2018-03-30
Applicant: 住友化学株式会社
IPC: G01N23/04 , H01M2/14 , H01M10/0525
CPC classification number: G01N23/16 , B65H18/08 , B65H26/02 , B65H2301/4148 , B65H2553/412 , B65H2557/50 , B65H2701/12 , B65H2701/1842 , B65H2801/72 , G01N23/083 , G01N23/18 , G01N23/04 , H01M2/145 , H01M10/0525
Abstract: 本发明提供一种检查装置、检查方法及膜卷绕体的制造方法。缺陷检查装置(1)具备：射线源(2)，其对隔膜卷绕体(10)呈放射状射出电磁波(R)；TDI传感器(4)，其对透过隔膜卷绕体(10)的电磁波(R)进行检测；以及移动机构(3)，其一边将射线源(2)与隔膜卷绕体(10)的距离以及射线源(2)与TDI传感器(4)的距离保持为大致固定，一边使隔膜卷绕体(10)中的检查区域移动。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN107076685A
公开(公告)日：2017-08-18
申请号：CN201580060141.5
申请日：2015-10-05
Applicant: 株式会社石田
Inventor： 栖原一浩
IPC: G01N23/04 , G01N23/087 , G01N23/18 , G01T1/20
CPC classification number: G01N23/043 , G01N23/04 , G01N23/083 , G01N23/087 , G01N23/16 , G01N23/18 , G01N23/223 , G01N2223/04 , G01N2223/076 , G01N2223/406 , G01N2223/505 , G01N2223/643 , G01T1/20
Abstract: 一种既抑制制造成本又能够检测宽能量带的X射线的X射线检查装置(10)，具备：X射线照射器(13)、线传感器组装体(14)等。线传感器组装体(14)具有多个检测单元(41)等。检测单元(41)具有闪烁器(53)、配置于其上面的包括多个元件的检测主体(52)以及支撑它们的陶瓷支承板(51)。在线传感器组装体(14)中，以检测单元(41)等的闪烁器(53)及检测主体(52)与邻接的检测单元的闪烁器(52)及检测主体(53)无间隙排列的方式，多个检测单元(41)等在前后方向上排列。
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公开(公告)号：CN102650602A
公开(公告)日：2012-08-29
申请号：CN201210047918.2
申请日：2012-02-27
Applicant: 横河电机株式会社
IPC: G01N23/16
CPC classification number: G01N23/16
Abstract: 本发明提供一种使用放射线检查检查对象物的放射线检查装置，具有：放射线源，其配置在上述检查对象物的一侧，将沿在上述检查对象物上设定的检查方向延伸的线状放射线照射到上述检查对象物上；线型检测器，其配置在上述检查对象物的另一方侧，检测穿过上述检查对象物的线状的放射线；校正用检测器，其配置在上述放射线源与上述检查对象物之间及上述检查对象物与上述线型检测器之间的至少一处，一边上述检查方向移动，一边检测来自上述放射线源的放射线；以及校正装置，其使用上述校正用检测器的检测结果，校正上述线型检测器的检测结果。
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公开(公告)号：CN102168958A
公开(公告)日：2011-08-31
申请号：CN201010609292.0
申请日：2010-12-20
Applicant: 横河电机株式会社
CPC classification number: G01T1/185 , G01N23/16 , G01N33/346
Abstract: 一种放射线检测设备，包括：放射线检测单元，其对已经透过检验对象的放射线的第一强度进行检测以产生第一测量值，所述检验对象布置在所述放射源与所述放射线检测单元之间；透射电离室，其对还未到达检验对象的放射线的第二强度进行检测以产生第二测量值，所述透射电离室具有封闭结构，所述透射电离室布置在所述放射源与所述检验对象之间，所述透射电离室包括入射窗口和出射窗口，放射线通过所述入射窗口进入所述透射电离室，并且放射线通过所述出射窗口离开所述透射电离室；和运算单元，其根据所述第一测量值和所述第二测量值来计算所述检验对象的物理量。
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公开(公告)号：CN102032882A
公开(公告)日：2011-04-27
申请号：CN201010282677.0
申请日：2010-09-13
Applicant: 横河电机株式会社
IPC: G01B15/02 , G01N23/02 , B65H23/188 , B65H20/14
CPC classification number: G01B15/025 , G01N23/16
Abstract: 本发明公开一种放射线检测装置，所述放射线检测装置包括：传送单元，其构造为传送片状样品；放射线源，其构造为向所述片状样品发射放射线；线阵传感器，其构造为测量所述片状样品的物理特性，所述线阵传感器设置为隔着所述片状样品与所述放射线源相对；以及气体喷射单元装置，其构造为朝向所述片状样品喷射气体，以减小因所述片状样品的张力而产生的竖直传送摆动，所述气体喷射单元紧密靠近所述线阵传感器的至少一个侧面。
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公开(公告)号：CN1089901C
公开(公告)日：2002-08-28
申请号：CN94192358.4
申请日：1994-06-03
Applicant: 霍尼维尔公司
IPC: G01N23/16
CPC classification number: G01N23/16
Abstract: 为了测量纸带(10)的单位面积重量，在一个测量头(12、14)中，在纸带(10)的一侧设一个放射性源(16)，而在纸带的另一侧设形式上为光敏二极管-行阵列的半导体检测器(20)。此分段的半导体检测器(20)与放射性源(16)一起沿纸带(10)的横向移动，以及，除了测量每个光敏二极管单独的电流外，还计算位置相同的光敏二极管的光电流的平均值。
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