公开(公告)号：CN1125002A

公开(公告)日：1996-06-19

申请号：CN94192358.4

申请日：1994-06-03

Applicant: 霍尼维尔公司

Inventor： 卡尔海因茨·肖斯特 ,  雷纳·亨

IPC: G01N23/16

CPC classification number: G01N23/16

Abstract: 为了测量纸带(10)的单位面积重量，在一个测量头(12、14)中，在纸带(10)的一侧设一个放射性源(16)，而在纸带的另一侧设形式上为光敏二极管一行阵列的半导体检测器(20)。此分段的半导体检测器(20)与放射性源(16)一起沿纸带(10)的横向移动，以及，除了测量每个光敏二极管单独的电流外，还计算位置相同的光敏二极管的光电流的平均值。

公开(公告)号：CN1089901C

公开(公告)日：2002-08-28

申请号：CN94192358.4

申请日：1994-06-03

Applicant: 霍尼维尔公司

Inventor： 卡尔海因茨·肖斯特 ,  雷纳·亨

IPC: G01N23/16

CPC classification number: G01N23/16

Abstract: 为了测量纸带(10)的单位面积重量，在一个测量头(12、14)中，在纸带(10)的一侧设一个放射性源(16)，而在纸带的另一侧设形式上为光敏二极管-行阵列的半导体检测器(20)。此分段的半导体检测器(20)与放射性源(16)一起沿纸带(10)的横向移动，以及，除了测量每个光敏二极管单独的电流外，还计算位置相同的光敏二极管的光电流的平均值。