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    X射线光谱仪及使用方法
    1.
    发明公开
    X射线光谱仪及使用方法 有权

    公开(公告)号：CN109716115A

    公开(公告)日：2019-05-03

    申请号：CN201780056389.3

    申请日：2017-09-15

    申请人： 华盛顿大学

    发明人： G·T·塞德勒 ,  O·霍登 ,  W·霍尔顿

    IPC分类号： G01N23/223 ,  G01N23/20 ,  G21K5/00

    CPC分类号： G01N23/2076

    摘要： 一种光谱仪包括：晶体分析仪，所述晶体分析仪具有限定罗兰圆的曲率半径；样品台，所述样品台配置成支撑样品使得所述样品从所述罗兰圆偏移；x射线源，所述x射线源配置成朝向所述样品台发射不聚焦的x射线；以及位置灵敏检测器，所述位置灵敏检测器与所述罗兰圆相切。一种借助光谱仪执行的方法包括：借助x射线源朝向安装在样品台上的样品发射不聚焦的x射线，使得所述样品从所述罗兰圆偏移，从而导致所述样品发射撞击所述晶体分析仪的x射线或透射所述不聚焦的x射线的一部分以撞击所述晶体分析仪；借助所述晶体分析仪使撞击所述晶体分析仪的x射线散射；以及借助与所述罗兰圆相切的位置灵敏检测器来检测被散射的x射线。

    掠入射荧光X射线分析装置和方法
    3.
    发明公开
    掠入射荧光X射线分析装置和方法 有权

    公开(公告)号：CN107110798A

    公开(公告)日：2017-08-29

    申请号：CN201580069728.2

    申请日：2015-10-02

    申请人： 株式会社理学

    发明人： 表和彦 ,  山田隆

    IPC分类号： G01N23/223

    CPC分类号： G01N23/223 ,  G01N15/0211 ,  G01N23/2055 ,  G01N23/2076 ,  G01N23/22 ,  G21K1/02 ,  G21K1/04 ,  G21K1/06 ,  G21K1/062

    摘要： 本发明的掠入射荧光X射线分析装置(1)包括：X射线源(2)；弯曲分光元件(4)，该弯曲分光元件(4)对从X射线源(2)所放射的X射线(3)进行分光，形成汇聚于试样(S)的表面的一定位置(15)的X射线束(5)；狭缝(6)，该狭缝(6)设置于弯曲分光元件(4)和试样(S)之间，具有线状开口(61)；狭缝移动机构(7)，该狭缝移动机构(7)将狭缝(6)移动到与通过线状开口(61)的X射线束(5)相交叉的方向；掠射角设定机构(8)，该掠射角设定机构(8)在通过狭缝移动机构(7)移动狭缝(6)后，将X射线束(5)的掠射角(α)设定在所需的角度；检测器(10)，该检测器(10)测定从照射了X射线束(5)的试样(S)而产生的荧光X射线(9)的强度。

    一种基于峰位比对的扫描式劳厄衍射图谱分析方法
    5.
    发明公开
    一种基于峰位比对的扫描式劳厄衍射图谱分析方法 有权

    公开(公告)号：CN106959312A

    公开(公告)日：2017-07-18

    申请号：CN201710142539.4

    申请日：2017-03-10

    申请人： 西安交通大学

    发明人： 陈凯 ,  寇嘉伟 ,  朱文欣

    IPC分类号： G01N23/207

    CPC分类号： G01N23/2076 ,  G01N2223/056

    摘要： 本发明公开了一种基于峰位比对的扫描式劳厄衍射图谱分析方法，包括以下步骤：步骤一：运用公知的方法对实验所得所有扫描式劳厄衍射图谱进行寻峰操作，得到衍射峰的位置和积分强度；步骤二：判断扫描式劳厄衍射实验区域内两点是否为同一晶粒；步骤三：重检晶界；步骤四：从两种遍历方法中选择一种遍历方法，对实验区域内所有点进行遍历，完成对实验区域内所有点对应扫描式劳厄衍射图谱的峰的标定，并得到实验区域内的晶/相界分布；本发明方法与当前的其他对扫描式劳厄衍射扫描式劳厄衍射图谱的分析方法相比，具有计算量小，耗时短的特点。

    X射线分光分析设备和元素分析方法
    6.
    发明公开
    X射线分光分析设备和元素分析方法 无效

    公开(公告)号：CN106855523A

    公开(公告)日：2017-06-16

    申请号：CN201611123986.7

    申请日：2016-12-08

    申请人： 株式会社岛津制作所

    发明人： 佐藤贤治 ,  西村晓弘

    IPC分类号： G01N23/223

    CPC分类号： G01N23/2076 ,  G01N2223/0563 ,  G01N23/223 ,  G01N2223/079 ,  G01N2223/1016 ,  G01N2223/102

    摘要： 本发明的目的是提供一种X射线分光分析设备和元素分析方法，该X射线分光分析设备可通过分光法以高灵敏度测量液体和粉末等的组成与位置无关地呈均匀的试样的组成。X射线分光分析设备包括：激发源，其利用激发束照射试样表面的预定照射区域以生成特征X射线；分光晶体，其面向照射区域；狭缝，其设置在照射区域和分光晶体之间，狭缝与照射区域和分光晶体的预定晶面平行；X射线线性传感器，其包括沿与狭缝垂直的方向排列的线状检测元件，检测元件各自具有与狭缝平行的方向上的长度。通过针对各波长检测来自照射区域的不同线状区域的特征X射线，可进行灵敏度比利用激发束照射点状照射区域的传统X射线分光分析设备的灵敏度高的分析。

    一种PGNAA特征伽马射线能谱补偿算法
    8.
    发明公开
    一种PGNAA特征伽马射线能谱补偿算法 失效

    公开(公告)号：CN106290429A

    公开(公告)日：2017-01-04

    申请号：CN201610886933.4

    申请日：2016-10-11

    申请人： 吉林大学

    发明人： 赵龙 ,  陆景彬 ,  许旭

    IPC分类号： G01N23/207

    CPC分类号： G01N23/2076

    摘要： 本发明公开了一种PGNAA设备特征伽马射线能谱补偿算法。该算法的原理是通过计算得出被测物质的比例常数kEi(i＝1～1024),通过安装在PGNAA设备(1)后面的核子皮带秤上的电离室能谱进行补偿运算，解决了由于被测物料自身吸收特征伽马射线而引起的能谱失真现象。PGNAA设备特征伽马射线在穿透被测物料到达伽马射线探测器的过程中，部分伽马射线会被被测物料自身吸收，最终得到的特征伽马射线能谱存在失真的现象。(6)的带载信号N、空载信号N0，对特征伽马射线