公开(公告)号：CN107209132B

公开(公告)日：2019-06-21

申请号：CN201680006771.9

申请日：2016-08-26

Applicant: 株式会社理学

Inventor： 原真也 ,  松尾尚 ,  山田康治郎 ,  本间寿 ,  片冈由行

IPC: G01N23/223 ,  G01N23/207

CPC classification number: G01N23/223 ,  G01N23/207 ,  G01N23/2076 ,  G01N23/2209 ,  G01N2223/076

Abstract: 本发明的扫描型的荧光X射线分析装置包括定量分析条件设定机构(13)，该机构根据标准试样(14)的定性分析结果和半定量分析结果，针对预先确定的试样组成元素以外的新检测元素，根据荧光X射线相对分析对象元素的分析值的吸收激励影响度、与干扰线相对分析对象元素的分析线的重叠影响度，判断是否应作为分析对象元素来追加。

公开(公告)号：CN109425626A

公开(公告)日：2019-03-05

申请号：CN201810996814.3

申请日：2018-08-29

Applicant: 株式会社理学

Inventor： 佐佐木明登 ,  姬田章宏 ,  池田由纪子 ,  长尾圭悟

IPC: G01N23/207

CPC classification number: G01N23/207 ,  G01N2223/0566 ,  G01N2223/1016 ,  G01N2223/401 ,  G01N2223/605 ,  G01N2223/62

Abstract: 目的是能够在视觉上明确且准确地识别德拜环的周向上的X射线信息与2θ角度位置的对应关系。本发明提供一种X射线衍射测量中的测量结果的显示方法，X射线衍射测量是向试样照射X射线并用X射线检测器检测由该试样衍射的X射线的测量，基于X射线检测器的输出数据，在坐标内，显示2θ－I分布图，从而形成一维衍射分布图，坐标在正交坐标轴的一个上取2θ角度值，在正交坐标轴的另一个上取X射线强度值；基于X射线检测器的输出数据，将由试样衍射的X射线按照2θ角度形成的多个德拜环的周向上的X射线强度数据按照2θ角度值以直线状显示，从而形成二维衍射图案；将二维衍射图案和一维衍射分布图以两者的2θ角度值相互一致的方式排列显示。

公开(公告)号：CN108982560A

公开(公告)日：2018-12-11

申请号：CN201810535095.5

申请日：2018-05-29

Applicant: 马尔文帕纳科公司

Inventor： 布鲁诺·阿尔弗雷德·罗伯特·佛博斯 ,  迪克·林凯珀 ,  萨斯基亚·玛丽亚·安吉拉·比尔肯斯

IPC: G01N23/223

CPC classification number: G01N23/223 ,  G01N23/207 ,  G01N23/2202 ,  G01N33/383 ,  G01N2223/07 ,  G01N2223/076 ,  G01N2223/312 ,  G01N2223/62

Abstract: 定量X射线分析的方法包括捕集来自包含粘合剂的压制粉末样品的X射线荧光数据。假定粘合剂的量和/或分布，并且从测量的数据和假定的粘合剂量来计算样品的各种组分的浓度。然后，调节粘合剂的浓度并重复计算步骤，直到该方法收敛。允许该方法采取粘合剂量的广泛不同的值，该粘合剂量可以是样品中的粘合剂的浓度或可选择地在用于计算的模型的表面处的假定的薄层的厚度。

公开(公告)号：CN108931622A

公开(公告)日：2018-12-04

申请号：CN201810869417.X

申请日：2018-08-02

Applicant: 南京梵科智能科技有限公司

Inventor： 李秋霞

IPC: G01N33/20 ,  G01N21/84 ,  G01N23/207 ,  G01N17/02

CPC classification number: G01N33/20 ,  G01N17/006 ,  G01N17/02 ,  G01N21/84 ,  G01N23/207

Abstract: 本发明提供一种对异种金属焊接质量测试装置，利用金相组织特征分析仪、能谱分析仪、X射线衍射物相分析仪以及电化学分析仪分别对异种金属焊后接头进行检测，同时，使用图像采集模块采集异种金属焊后接头的图像信息，将使用图像处理模块对采集的图像信息进行图像处理，并将检测结果通过显示单元进行显示，同时通过存储单元进行存储，其中，金相组织特征分析仪的输出端、能谱分析仪的输出端、X射线衍射物相分析仪的输出端以及电化学分析仪的输出端分别与中央处理单元的输入端相连接，显示单元以及存储单元的输入端分别与中央处理单元的输出端相连接。

公开(公告)号：CN108693202A

公开(公告)日：2018-10-23

申请号：CN201810256705.8

申请日：2018-03-27

Applicant: 株式会社岛津制作所

Inventor： 小川理绘

IPC: G01N23/20 ,  G01N23/20008 ,  G01N23/20025

CPC classification number: G01N23/207 ,  G01N23/20025 ,  G01N2223/056 ,  G01N2223/309 ,  G01N2223/32 ,  G01N23/20 ,  G01N23/20008

Abstract: 提供一种能够高精度地进行分析的X射线分析装置。保持状态变更机构(10)，若通过移动机构使X射线源以及检测器的相对位置变更时，则使它们连动，以试样表面S1沿焦点圆的圆周配置成圆弧状的方式，对试样保持部(2)所保持的试样S的保持状态进行变更。由此，即便焦点圆的大小发生变化，也能使试样表面S1沿着焦点圆的圆周。其结果是，在检测器中检测在试样表面S1衍射的X射线时，能够防止X射线强度产生误差，从而可以得到正确的衍射信息。

公开(公告)号：CN107796838A

公开(公告)日：2018-03-13

申请号：CN201711014580.X

申请日：2017-10-25

Applicant: 同方威视技术股份有限公司 ,  清华大学

Inventor： 张龙 ,  张丽 ,  洪明志 ,  梁晋宁

IPC: G01N23/207

CPC classification number: G01N23/207 ,  G01N2223/05 ,  G01N2223/316

Abstract: 本发明涉及一种后准直器以及扫描成像设备。后准直器包括：遮光壳体，包括相对且间隔设置的第一端板和第二端板，第一端板上设置有第一透光孔，第二端板上设置有第二透光孔；导光组件，设置于遮光壳体内且与遮光壳体可拆卸连接，导光组件包括导光通孔；其中，第一透光孔、导光通孔以及第二透光孔在由第一端板至第二端板的方向上相互对齐设置，以使外部射线能够依次穿过第一透光孔、导光通孔以及第二透光孔。本发明实施例的后准直器为分体结构，遮光壳体和导光组件能够被单独地加工制造再进行组装，从而降低后准直器的整体加工难度和加工成本，并能够保证后准直器的精度。

公开(公告)号：CN107533021A

公开(公告)日：2018-01-02

申请号：CN201680022044.1

申请日：2016-04-14

Applicant: 阿卜杜拉国王科技大学

Inventor： L.瓦尔加 ,  B.瓦尔加 ,  V.卡洛

IPC: G01N23/207

CPC classification number: G01N23/207 ,  G01N2223/0566 ,  G01N2223/413

Abstract: 提供了用于材料的微结构的x射线成像的各种示例。在一个示例中，一种用于非破坏性材料测试的系统包括：x射线源，被配置为在测试项目上生成束斑；栅格检测器，被配置为接收从测试对象衍射的x射线；以及计算设备，被配置为至少部分地基于从测试对象衍射的x射线的衍射图案来确定微结构图像。在另一示例中，一种用于确定材料的微结构的方法包括：利用入射x射线束在材料上照明束斑；利用栅格检测器检测从材料衍射的x射线；并且通过计算设备至少部分地基于从材料衍射的x射线的衍射图案来确定微结构图像。

公开(公告)号：CN107192729A

公开(公告)日：2017-09-22

申请号：CN201710350477.6

申请日：2017-05-18

Applicant: 吉林大学

Inventor： 高忠民 ,  唐海通 ,  高宇 ,  李向山

IPC: G01N23/207

CPC classification number: G01N23/207 ,  G01N2223/056 ,  G01N2223/1016

Abstract: 本发明公开了一种聚丙烯腈纤维结构X射线衍射在线快速分析装置与方法，属于X射线衍射分析仪器设备领域。本发明通过在相关硬件改进得以实现多项快速分析方法，得以在不影响聚丙烯腈(PAN)纤维生产流程的情况下，对PAN纤维重要结构参量实现在线快速X射线分析。对于相同检测结果，以往的技术需要一天以上的时间才可反馈给生产部门，采用本发明的设施与技术，仅需3到5分钟即可在生产现场显示出测试结果。本发明可用于聚丙烯腈纤维微观结构信息的现场实时监控，并服务于提高和稳定纤维产品质量以及纤维产品质量事故原因分析等项业务。

公开(公告)号：CN106896121A

公开(公告)日：2017-06-27

申请号：CN201510958950.X

申请日：2015-12-18

Applicant: 清华大学 ,  同方威视技术股份有限公司

Inventor： 陈志强 ,  张丽 ,  杨戴天杙 ,  赵骥 ,  金鑫 ,  常铭

IPC: G01N23/04 ,  G01N23/207 ,  G01V5/00

CPC classification number: G01N23/046 ,  G01N23/083 ,  G01N23/20083 ,  G01N23/207 ,  G01N2223/045 ,  G01N2223/056 ,  G01N2223/316 ,  G01N2223/643 ,  G01V5/0025 ,  G01V5/005 ,  G21K1/02 ,  G01N2223/419

Abstract: 本发明涉及检测系统和方法。检测系统包括：分布式射线源，该分布式射线源上具有多个射线源焦点，每个射线源焦点辐射射线以照射受检物，并且这多个射线源焦点被分成一定数量的群组；前准直器，每个射线源焦点的射线经由前准直器限制而射向XRD检测设备；XRD检测设备，该XRD检测设备包括多个XRD探测器，这多个XRD探测器被分组成与射线源焦点的群组数相同数量的群组并且同一群组的XRD探测器以被其他群组的XRD探测器间隔开的方式排布，并且其中，每个射线源焦点的射线仅由具有与该射线源焦点具有相同群组编号的XRD探测器接收。

公开(公告)号：CN106660809A

公开(公告)日：2017-05-10

申请号：CN201580043372.5

申请日：2015-07-28

Applicant: 信越化学工业株式会社

Inventor： 宫尾秀一 ,  祢津茂义

IPC: C01B33/035 ,  G01N23/203 ,  G01N23/207 ,  G01N23/225

CPC classification number: C01B33/035 ,  C01B33/02 ,  C01P2002/60 ,  G01N23/203 ,  G01N23/207 ,  G01N23/225

Abstract: 在本发明中，通过西门子法制造多晶硅棒时，在将进行多晶硅的析出反应时的反应温度设定于例如1100℃～1150℃的范围且将反应炉内控制于0.45～0.9MPa的压力范围的状态下使多晶硅析出。通过控制于这样的压力范围，可以得到在任意部位在利用EBSD法进行评价的情况下的结晶粒径的平均值为6μm以下的多晶硅棒。另外，在将压力范围控制于0.6～0.9MPa的情况下，可以得到在任意部位在利用EBSD法进行评价的情况下的结晶粒径的平均值为2μm以下的多晶硅棒。