公开(公告)号：CN108240998A

公开(公告)日：2018-07-03

申请号：CN201711404282.1

申请日：2017-12-22

申请人： 马尔文帕纳科公司

发明人： 米伦·加特什基 ,  D·贝克尔斯

IPC分类号： G01N23/046 ,  G01N23/207 ,  G01N23/20016 ,  G01N23/20008

CPC分类号： G01N23/046 ,  G01N2223/309 ,  G01N2223/419 ,  G01N2223/501 ,  G01N23/20008 ,  G01N23/20016 ,  G01N23/207 ,  G01N2223/03 ,  G01N2223/0566 ,  G01N2223/1016

摘要： 本申请涉及计算机断层扫描。描述了用于计算机断层扫描的装置，其也适用于X射线衍射。计算机断层扫描测量使用线焦点(8)，并使来自线焦点的X射线穿过垂直的狭缝(22)，并随后穿过样品到二维检测器上。拍摄多个图像，每个图像对应于围绕旋转轴线(14)旋转不同量的样品，并且被组合以创建计算机断层扫描图像。

公开(公告)号：CN106645238A

公开(公告)日：2017-05-10

申请号：CN201710135458.1

申请日：2017-03-09

申请人： 青海大学

发明人： 王军伟 ,  周红霞 ,  马继续

IPC分类号： G01N23/20

CPC分类号： G01N23/20008

摘要： 基于X射线衍射仪的腐蚀产物逐层面分析装置及方法，该装置包括一个矩形样品台和电动机，电动机驱动丝杠，带动样品台沿着纵向往复台上下滑动；纵向往复台与另一丝杠连接，并在另一个电动机驱动下可以沿着横向往复台左右滑动，横向往复台固定于现有X射线衍射仪样品架上，两台电动机启停由X射线衍射仪控制器控制。操作方法是通过丝杠调节样品位置，按照X射线衍射仪测定物相常规方法，对固定在样品台上样品表面所有位置逐一检测，然后去除样品表面一层材料后，再按照上述方法，对第一次检测过的位置再次检测，重复以上过程若干次，最后分析所有测试点处物相种类及含量，并绘图，即可比较精确和直观获得不同深度腐蚀层面上腐蚀产物种类和含量信息。

公开(公告)号：CN106383134A

公开(公告)日：2017-02-08

申请号：CN201610841586.3

申请日：2016-09-22

申请人： 福州大学

发明人： 郑振环 ,  李强

IPC分类号： G01N23/20

CPC分类号： G01N23/20008

摘要： 本发明一种X射线多晶衍射仪用自动换样装置，包括样品板、样品台、磁铁片、霍尔传感器模块、转动轴、步进电机、电机驱动模块、光敏电阻传感器模块、单片机和导线，样品板在样品台上呈圆周形或扇形均匀分布，相邻样品板与样品台圆心连线的夹角角度为A；样品台以转动轴与步进电机连接；光敏电阻传感器模块对衍射仪快门灯进行检测，光敏电阻传感器模块与单片机相连，当衍射仪快门灯亮度由亮转灭时，单片机控制步进电机把样品台按预设方向旋转A角度；磁铁片固定于样品台边缘处，霍尔传感器模块与样品台边缘相邻，当样品台旋转至霍尔传感器被磁铁片触发时，触发单片机复位并停止对样品台的旋转；本发明能以较低成本实现X射线多晶衍射仪的自动换样。

公开(公告)号：CN106198584A

公开(公告)日：2016-12-07

申请号：CN201610561895.5

申请日：2016-07-13

申请人： 东莞中子科学中心

发明人： 何伦华 ,  陈洁 ,  康乐 ,  罗平 ,  卢怀乐

IPC分类号： G01N23/20 ,  C22C14/00

CPC分类号： G01N23/20008 ,  C22C14/00 ,  G01N23/20025

摘要： 本申请公开了一种用于制备中子散射实验无磁样品盒的钛锆合金及其应用。本申请的用于制备中子散射实验无磁样品盒的钛锆合金的通式为TixZry，其中钛和锆的原子数比例，即x:y＝(2.08±0.1):1。本申请的钛锆合金材料，采用钛和锆的原子数比例为(2.08±0.1):1的钛锆合金，特别是钛锆合金Ti2.083Zr，使得制备的样品盒几乎不会产生干扰信号峰贡献在探测到的测试样品数据里，使得中子散射实验的数据质量更加可靠、可信。同时本申请的材料，强度大、无磁性，可批量生产并广泛应用于中子散射实验，特别是对磁性控制要求较高的实验，为中子散射技术的推广和应用奠定了基础。

公开(公告)号：CN106053502A

公开(公告)日：2016-10-26

申请号：CN201610497496.7

申请日：2016-06-29

申请人： 中国科学院上海应用物理研究所

发明人： 杨利峰 ,  王志军 ,  汪启胜 ,  崔莹 ,  何建华

IPC分类号： G01N23/20

CPC分类号： G01N23/20008

摘要： 本发明公开了一种用于光学实验设备四刀狭缝的调节装置，包括用于连接四刀狭缝的夹部，还包括用于控制夹部水平方向移动的导轨模块、用于控制夹部竖直方向移动的调节模块及用于控制夹部周向转动的旋转模块；所述导轨模块包括下基板、转轴及在转轴带动下可沿下基板左右移动的上基板，所述上基板设有安装座，所述夹部设于该安装座上。本发明可以从各个方位对四刀狭缝进行调节，调节便捷，调节精准度高，稳定性好，结构简单。

公开(公告)号：CN105548226A

公开(公告)日：2016-05-04

申请号：CN201510902060.7

申请日：2015-12-08

申请人： 东莞中子科学中心

发明人： 胡海韬 ,  张绍英 ,  袁宝 ,  白波

IPC分类号： G01N23/20

CPC分类号： G01N23/20 ,  G01N23/20008

摘要： 本申请公开一种用于中子散射实验的样品更换设备，包括样品盒存储装置、中子散射束窗以及样品盒移动装置。样品盒存储盘具有至少两个样品盒存储位，用于存储装有样品的样品盒。中子散射束窗用于对放置在其内的样品进行中子散射实验，其具有放置样品盒的样品盒放置位。样品盒移动装置包括驱动装置以及夹头组件，该驱动装置驱动夹头组件拾取样品盒，并在样品盒存储装置和中子散射束窗之间转移样品盒。在进行中子散射实验过程时，该装置可通过样品盒移动装置来移动样品盒，从而实现至少两个样品的中子散射实验。这与现有技术相比，其提高了实验效率，节约了实验成本。

公开(公告)号：CN104251870A

公开(公告)日：2014-12-31

申请号：CN201410299083.9

申请日：2014-06-26

申请人： 帕纳科有限公司

发明人： D·贝克尔斯 ,  M·歌特斯凯

IPC分类号： G01N23/207

CPC分类号： G01N23/205 ,  G01N23/20008 ,  G01N2223/40

摘要： 本发明涉及衍射成像。一种对不均匀多晶样本中的相进行成像的方法，该不均匀多晶样本具有至少第一结晶成分的多个微晶，该方法包括在基本单色X射线以布拉格-布伦塔诺仲聚焦几何、以第一角θ1入射到样本的表面的情况下，照射跨样本的表面延伸的被照射区域。由样本以第二角θ2衍射的X射线穿过针孔装置。衍射角θ1+θ2满足第一结晶成分的布拉格条件，第一结晶成分由探测器成像，以提供在样本的表面处的第一结晶成分的二维图像。

公开(公告)号：CN1180902A

公开(公告)日：1998-05-06

申请号：CN97120541.8

申请日：1997-10-10

申请人： 高级陶瓷有限公司

发明人： 威廉·穆尔·阿瑟

IPC分类号： G21K3/00 ,  G01N23/20

CPC分类号： G01N23/20008

摘要： 本发明旨在提供一种将高取向热解后墨(HOPG)的嵌镶展度移到预选的较窄范围内的方法,该方法包括:选择嵌镶展度低于所需嵌镶展度范围的HOPG样品;对选中的样品进行冷加工,形成足以使冷加工后样品的嵌镶展度移到所需嵌镶展度范围内的表面纹理压痕。纹理化表面的压制最好是将样品放在至少一个模具具有压花表面的两个模具之间进行。

公开(公告)号：CN109682847A

公开(公告)日：2019-04-26

申请号：CN201811461910.4

申请日：2018-12-03

申请人： 上海大学

发明人： 张志军 ,  王禹 ,  杨昕昕 ,  杨铁莹 ,  冯振杰 ,  高兴宇 ,  赵景泰

IPC分类号： G01N23/20008 ,  G01N23/20033 ,  G01N23/20058

CPC分类号： G01N23/20008 ,  G01N23/20033 ,  G01N23/20058

摘要： 本发明公开了一种组合材料芯片的高通量材料合成及同步辐射光源高通量表征方法，利用化学组合材料芯片的制备方法，与同步辐射光源X射线衍射站高通量表征相结合的高通量材料制备与表征综合系统。采用的原料可以是金属醇盐，硝酸盐，醋酸盐，氯化物。该方法可以利用化学法一次制备上百甚至上千的样品而且样品数量还可以根据实验需求自行调控。同步辐射X射线衍射线站高通量表征自动化平台可以对材料的晶体结构进行快速、高效地测试与解析。将化学组合材料芯片法与高通量表征的自动平台相结合构成的制备与表征系统，不仅可以极大的提高无机材料的制备与表征速度，还可以提高同步辐射光源的利用效率。

公开(公告)号：CN109030526A

公开(公告)日：2018-12-18

申请号：CN201810682991.4

申请日：2018-06-16

申请人： 金华职业技术学院

发明人： 张向平 ,  赵永建

IPC分类号： G01N23/20008 ,  G01N23/207

CPC分类号： G01N23/20008 ,  G01N23/207 ,  G01N2223/05 ,  G01N2223/105

摘要： 本发明涉及对材料的显微技术领域，一种高分辨的表面测试方法，开启真空泵组对腔体抽真空，使得腔体I内真空优于10‑1Pa，腔体II内真空优于10‑2Pa；储气罐输出气体至喷射头，气体原子以自由射流形式进入腔体I，通过分流器后，以原子束流形式进入腔体II；原子束流依次通过气体透射窗片和原子衍射片后射到样品表面；样品台在2×2微米范围内平移，以使得样品表面能够被原子束直接照射；探测器I对原子量较小的原子探测效率较高，探测器II对原子量较大的原子探测效率较高，当储气罐中气体是氦气，开启探测器I，当储气罐中气体是氖气或氩气或氪气，开启探测器II；被样品表面反射的部分原子进入探测器，所得数据输入计算机；得到样品表面相关信息。