公开(公告)号：CN105866149A

公开(公告)日：2016-08-17

申请号：CN201610214000.0

申请日：2016-04-08

Applicant: 中国工程物理研究院核物理与化学研究所

Inventor： 张昌盛 ,  王云 ,  王虹 ,  李建 ,  孙光爱

IPC: G01N23/20 ,  G01L5/00

CPC classification number: G01L5/0047 ,  G01N23/20025 ,  G01N2223/056 ,  G01N2223/106 ,  G01N2223/321

Abstract: 本发明提供的类椭球形构件的定位方法，使用四维调节装置、基准光源及经纬仪进行至少三个位置的粗调与细调，实现了类椭球形构件在检测台面上的精确定位。该定位方法分别以基准光源所发出的正交激光束、经纬仪观察视场内的十字线与构件表面基准线的对齐状态作为调节依据，通过具有上下升降、360°旋转、前后倾动、左右倾动等具有四维运动功能的四维调节装置，对构件位置进行调节，直至基准线所在水平面的三个不同位置均为对齐状态。本发明的类椭球形构件的定位方法，适用于不带平整底面、具有类球对称几何外形、不易直接安装定位的密封容器等构件的中子应力检测场景，也可用于其它需要此类定位的检测场合。

公开(公告)号：CN103969276A

公开(公告)日：2014-08-06

申请号：CN201410058293.9

申请日：2014-01-29

Applicant: 布鲁克AXS有限公司

Inventor： A·维格里安泰

IPC: G01N23/223

CPC classification number: G01N23/223 ,  G01N21/9501 ,  G01N21/9503 ,  G01N23/20025 ,  G01N2223/076 ,  G01N2223/6116 ,  G01N2223/652

Abstract: 公开了用于检测晶片的斜面上的污染物的XRF测量设备。XRF(x射线荧光)测量设备(1)包括：x射线源(2)，用于产生x射线(4)，x射线光学元件(3)，用于将来自x射线源(2)的x射线(4)引导至样品(5)，样品(5)，和EDS(能量色散谱)检测器(7)，用于检测来自样品(5)的荧光x射线(14)，其特征在于，样品(5)是晶片(6)，特别是硅晶片，其中，x射线光学元件(3)被定位为将x射线(4)引导至晶片(6)的斜面(12)上，并且x射线源(2)加上x射线光学元件(3)具有至少是5×107计数／秒平方毫米的亮度，优选地具有至少是1×108计数／秒平方毫米的亮度。本发明允许改进对晶片的污染物控制，特别是硅晶片。

公开(公告)号：CN108693202A

公开(公告)日：2018-10-23

申请号：CN201810256705.8

申请日：2018-03-27

Applicant: 株式会社岛津制作所

Inventor： 小川理绘

IPC: G01N23/20 ,  G01N23/20008 ,  G01N23/20025

CPC classification number: G01N23/207 ,  G01N23/20025 ,  G01N2223/056 ,  G01N2223/309 ,  G01N2223/32 ,  G01N23/20 ,  G01N23/20008

Abstract: 提供一种能够高精度地进行分析的X射线分析装置。保持状态变更机构(10)，若通过移动机构使X射线源以及检测器的相对位置变更时，则使它们连动，以试样表面S1沿焦点圆的圆周配置成圆弧状的方式，对试样保持部(2)所保持的试样S的保持状态进行变更。由此，即便焦点圆的大小发生变化，也能使试样表面S1沿着焦点圆的圆周。其结果是，在检测器中检测在试样表面S1衍射的X射线时，能够防止X射线强度产生误差，从而可以得到正确的衍射信息。

公开(公告)号：CN108459035A

公开(公告)日：2018-08-28

申请号：CN201810142025.3

申请日：2018-02-11

Applicant: 中国科学院高能物理研究所 ,  香港城市大学深圳研究院

Inventor： 柯于斌 ,  郑海彪 ,  王循理 ,  兰司 ,  王芳卫

IPC: G01N23/20 ,  G01N23/20025 ,  G01N23/20033 ,  G01N23/2005

CPC classification number: G01N23/20 ,  G01N23/20025 ,  G01N23/20033 ,  G01N23/2005

Abstract: 本申请公开了一种用于中子散射的便携式原位多场耦合加载装置。本申请的多场耦合加载装置，包括应力加载和测试组件、温度加载组件和磁场加载组件；应力加载和测试组件包括起支撑作用的四条平行导向杆，导向杆由左至右依序安装第一固定板、力传感器、左夹具、右夹具、弹簧活动板、弹簧组、第二固定板和应力加载器；温度加载组件包括左右两个加热环，加热环分别设置于左右夹具的夹头上；磁场加载组件包括具有两竖立臂的支架，两竖立臂分别安装于导向杆组的前后，两竖立臂上设有磁性元件。本申请的装置，首次研发并实现了应力、温度和磁场多场耦合加载，为磁性材料磁结构演变微观机制的多场原位研究奠定了基础，适用于各不同中子源中子散射谱仪。

公开(公告)号：CN108449987A

公开(公告)日：2018-08-24

申请号：CN201680068238.5

申请日：2016-10-28

Applicant: 保罗·谢勒学院

Inventor： 富崎孝司 ,  辻野壮一郎

IPC: G01N23/20025 ,  G10K15/00 ,  B01L3/02

CPC classification number: G01N23/20025 ,  B01L3/0241 ,  B01L3/06 ,  B01L2200/0626 ,  B01L2400/0439 ,  G01N2223/0566 ,  G01N2223/3306 ,  G10K15/00

Abstract: 本发明公开了一种通过收集X射线衍射图像以原子分辨率来解析晶体(4)的晶体结构的方法和系统(2)，包括：a)将包括单个或多个晶体(4)的流体的微滴(8)喷射到超声悬浮器(6)中；b)使包括所述晶体(4)的流体的所述微滴(8)悬浮在超声悬浮器(6)中；b)利用可视化装置监测微滴(8)的位置和旋转；c)对所述晶体(4)施加X射线(20)，所述X射线(20)源自X射线源(34)；以及d)由能够捕获二维衍射图案的X射线检测器(36)对来自被所述X射线源(34)辐射的所述晶体(4)的X射线衍射图像(24)进行检测。

公开(公告)号：CN106124542A

公开(公告)日：2016-11-16

申请号：CN201610580470.9

申请日：2016-07-22

Applicant: 东北大学

Inventor： 关守平 ,  陈香明 ,  关天一

IPC: G01N23/207 ,  G01N23/20

CPC classification number: G01N23/207 ,  G01N23/20025 ,  G01N2223/056 ,  G01N2223/1016 ,  G01N2223/306 ,  G01N2223/309 ,  G01N2223/505 ,  G01N2223/604 ,  G01N2223/646

Abstract: 一种多功能X射线定向仪及方法，属于单晶材料加工领域；多功能X射线定向仪包括：工作台、防辐射保护罩、X射线发生系统、衍射线接收系统、晶体样品旋转台和计算机控制系统；晶体样品旋转台中的样品放置台可通过拆卸螺栓进行更换；方法包括：利用多功能X射线定向仪进行晶体缺陷识别、不同晶体特征测定、手动定向测定和获取角度误差的方法；本发明集多种单晶体用X射线定向仪测量系统于一体，降低了设备成本，保证了产品一致性；对各单晶材料检测的数据进行融合整理，智能得到单晶材料的缺陷类型，提高了已有数据的利用效率；使用闪烁探测器作为X射线探测器，稳定度较高，抗干扰能力强，弥补了盖革管的不足。

公开(公告)号：CN101080628A

公开(公告)日：2007-11-28

申请号：CN200480007486.6

申请日：2004-03-22

Applicant: 康奈尔研究基金会股份有限公司

Inventor： R·E·瑟尼 ,  Z·斯特姆 ,  K·奥尼尔 ,  J·卡米托

IPC: G01N23/00 ,  G01N23/20

CPC classification number: C30B29/58 ,  C30B35/00 ,  G01N23/20 ,  G01N23/20025 ,  Y10S269/90 ,  Y10S269/908 ,  Y10S269/909 ,  Y10T29/53961 ,  Y10T117/1036

Abstract: 通过使用具有被施加的曲率的、有图形的聚酰亚胺薄膜(12)、并将该薄膜附加于小金属杆(16)的弯曲外表面为X射线晶体学备制用于安装生物大分子的微晶体的试样支架。有图形的薄膜(12)较佳地包括用于保持晶体的锥形末端(24)。较佳地，在该薄膜内设置用于接纳晶体的小试样孔。还可提供通过排液通道连接于试样孔的一第二较大的孔，允许排除过多的液体和在粘性溶性中较容易的操作。施加于薄膜(12)的曲率增加了薄膜的刚度和允许用于取出晶体的方便的勺状作用。聚酰亚胺最少地影响本底和吸收，并可被处理成得到所需的疏水性或亲水性。

公开(公告)号：CN108760780A

公开(公告)日：2018-11-06

申请号：CN201810794228.0

申请日：2018-07-19

Applicant: 丹东新东方晶体仪器有限公司

Inventor： 甄伟 ,  赵松彬

IPC: G01N23/20 ,  H01L21/66

CPC classification number: G01N23/20025 ,  H01L21/00

Abstract: 本发明涉及晶体加工技术领域，具体地说是一种晶棒定向检测系统，包括移动机构、旋转机构、支承板、X光发生组件和信号系统组件，旋转机构安装于所述移动机构上并通过所述移动机构驱动移动，支承板安装于所述旋转机构前端并通过所述旋转机构驱动旋转，在所述支承板上设有定位探针、X光发生组件、信号系统组件、第一调整机构和第二调整机构，且检测时所述定位探针与晶棒相抵，所述X光发生组件通过第一调整机构驱动做圆弧运动，所述信号系统组件通过第二调整机构驱动做圆弧运动。本发明能够精确检测晶棒的角度信息，大大提高了晶棒角度检测精度和检测效率。

公开(公告)号：CN107449792A

公开(公告)日：2017-12-08

申请号：CN201710764232.8

申请日：2017-08-30

Applicant: 中国科学院西安光学精密机械研究所

Inventor： 罗端 ,  田进寿 ,  惠丹丹 ,  王兴 ,  温文龙 ,  卢裕

IPC: G01N23/20

CPC classification number: G01N23/20058 ,  G01N23/20025 ,  G01N2223/0565 ,  G01N2223/307

Abstract: 本发明涉及电子衍射技术领域，针对现有超快电子衍射装置难以突破100飞秒级时间分辨的技术问题，提供一种超紧凑型飞秒电子衍射装置，包括飞秒激光源、分束镜、三倍频装置、光学延迟线、真空腔室、飞秒电子枪、图像增强模块和图像采集系统；飞秒电子枪和图像增强模块沿紫外激光脉冲出射的方向依次设置于真空腔室内；图像采集系统设置在真空腔室的外部且正对图像增强模块；飞秒电子枪包括阴极和与阴极平行相对设置的阳极；阳极包括阳极电极和样品支撑网；阳极电极的中心开设完全贯穿阳极电极的中心阶梯孔，中心阶梯孔的大孔位于远离阴极的阳极表面；样品支撑网固定安装在中心阶梯孔内。

公开(公告)号：CN106932419A

公开(公告)日：2017-07-07

申请号：CN201710256626.2

申请日：2017-04-19

Applicant: 南京大学

Inventor： 潘宇观 ,  李伟强 ,  蔡元峰

IPC: G01N23/20

CPC classification number: G01N23/20025

Abstract: 本发明提供了一种X射线衍射仪毛细样品管支架及其使用方法，毛细样品管支架包括设备接驳头和毛细管接驳段，其特征在于：所述的毛细管接驳段横截面整体轮廓呈四方柱，四角呈圆弧过渡，四个面中心位置分别开有“V”型槽口，样品管通过粘附剂固定在“V”型槽口中，样品管管槽沿Phi轴方向。本发明既可用于Omega轴转动条件下的毛细管实验，还可提供Phi轴转动条件下的毛细管实验，安装简单快速，可适应多种管径毛细样品管，可在部件位置固定的条件下在设备舱内直接更换毛细样品管，更换样品后部件位置几乎无需再次校准。