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公开(公告)号:CN105612416A
公开(公告)日:2016-05-25
申请号:CN201380078724.1
申请日:2013-07-25
Applicant: 模拟技术公司
IPC: G01N23/20 , G01N23/201 , G01V5/00
CPC classification number: G01V5/005 , G01N23/046 , G01N23/20 , G01N23/20083 , G01V5/0025
Abstract: 提出了一种衍射系统,该衍射系统被配置成基于辐射的角出射来生成衍射特征。在某些实施例中,所述衍射系统包括辐射源,该辐射源包括被配置成因衰减而自然地发射辐射的放射性影像同位素。在某个实施例中,所述衍射系统是对象识别系统的一部分,该对象识别系统包括一个或多个其他辐射成像模态,诸如CT系统和/或线扫描系统。举例说明,所述一个或多个其他辐射成像模态可以对对象执行初始检查以生成指示所述对象的数据。可以对该数据进行分析以识别出所述对象内的受关注物品,之后可以由衍射系统对该受关注物品进行检查,以生成所述物品的衍射特征。可以将所述物品的衍射特征与已知物品的已知衍射特征进行比较,以对所述物品进行表征。
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公开(公告)号:CN101576513B
公开(公告)日:2011-12-21
申请号:CN200810106278.1
申请日:2008-05-09
Applicant: 清华大学 , 同方威视技术股份有限公司
CPC classification number: G01N23/20083
Abstract: 公开了一种利用前向散射辐射来检查物体的方法和设备,该方法包括步骤:探测辐射源产生的第一辐射与被检物体相互作用后的第一穿透值;使辐射源产生的第二辐射与散射体相互作用,以产生与该第二辐射成预定角度的前向散射辐射;探测该前向散射辐射与被检物体相互作用后的第二穿透值;以及利用探测的第一穿透值和第二穿透值来获取该被检物体的材料属性信息。本发明可用在海关、港口、机场对货物进行不开箱检查,也可用于生物学研究或医学检测。
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公开(公告)号:CN101821751A
公开(公告)日:2010-09-01
申请号:CN200880111349.5
申请日:2008-07-15
Applicant: 通用电气公司
IPC: G06K9/00
CPC classification number: G01N23/20083 , A61B6/06 , A61B6/482 , A61B6/583 , G01N2223/401
Abstract: 提出一种用于使用双能量X射线成像系统来确立患者的BMD的技术。在该技术中,双能量X射线成像系统利用狭缝准直器以两个不同能量的X射线对患者内的关注区的一系列部分曝光。平板数字X射线检测器检测到穿过患者的关注区的X射线并产生表示达到检测器的X射线的强度的数据。基于识别图像强度数据的仅从散射而非主X射线产生的区,针对散射校正图像强度数据。使用图像强度数据的一阶导数来识别这些区。确立对于仅散射区的边界处的散射强度的值。
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公开(公告)号:CN101118224A
公开(公告)日:2008-02-06
申请号:CN200710143757.6
申请日:2007-08-02
Applicant: 通用电气家园保护有限公司
Inventor: G·哈丁
CPC classification number: G01N23/20083 , G01N2223/045 , G01N2223/637 , G01N2223/639
Abstract: 提供一种用于识别物质(82)的系统(10)。该系统包括:第一散射探测器(16),其被配置成探测第一组散射辐射(89,90);第二散射探测器(18),其被配置成探测第二组散射辐射(88,91);以及处理器(190),其被配置成从该第一组散射辐射中产生第一有效原子序数,从该第二组散射辐射中产生第二有效原子序数,并确定(642)该第一有效原子序数是否在该第二有效原子序数的范围内。
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公开(公告)号:CN106896121B
公开(公告)日:2019-07-05
申请号:CN201510958950.X
申请日:2015-12-18
Applicant: 清华大学 , 同方威视技术股份有限公司
IPC: G01N23/046 , G01N23/207 , G01V5/00
CPC classification number: G01N23/046 , G01N23/083 , G01N23/20083 , G01N23/207 , G01N2223/045 , G01N2223/056 , G01N2223/316 , G01N2223/643 , G01V5/0025 , G01V5/005 , G21K1/02
Abstract: 本发明涉及检测系统和方法。检测系统包括:分布式射线源,该分布式射线源上具有多个射线源焦点,每个射线源焦点辐射射线以照射受检物,并且这多个射线源焦点被分成一定数量的群组;前准直器,每个射线源焦点的射线经由前准直器限制而射向XRD检测设备;XRD检测设备,该XRD检测设备包括多个XRD探测器,这多个XRD探测器被分组成与射线源焦点的群组数相同数量的群组并且同一群组的XRD探测器以被其他群组的XRD探测器间隔开的方式排布,并且其中,每个射线源焦点的射线仅由具有与该射线源焦点具有相同群组编号的XRD探测器接收。
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公开(公告)号:CN105372713B
公开(公告)日:2019-06-04
申请号:CN201510509667.9
申请日:2015-08-19
Applicant: 莫福探测仪器有限责任公司
IPC: G01V5/00 , G01N23/207
CPC classification number: G06K9/46 , G01N23/20083 , G01N2223/206 , G01N2223/401 , G01N2223/405 , G01N2223/41 , G01N2223/423 , G01N2223/639 , G01N2223/643 , G01T1/00 , G01V5/0025 , G01V5/0041 , G06K9/6267 , G06T5/001 , G06T5/002 , G06T11/006 , G06T15/08 , G06T2207/10116 , G06T2211/408
Abstract: X射线衍射成像系统及操作其的方法。一种执行包括多个对象的容器的安全检查的方法包括用多色x射线照射容器。该方法还包括重构定义动量传递光谱的4‑D体素化表示并通过作为动量传递光谱的函数来确定每个体素处的单个值来生成3‑D图像。该方法还包括将体素分段成邻接体素的段。每个段包括至少部分地映射到至少一个对象上的多个邻接体素。该方法还包括在多个邻接体素的至少一部分的范围内计算聚合动量传递光谱。该方法还包括将聚合动量传递光谱分类为威胁和非威胁中的一个并基于聚合动量传递光谱将所述至少一个对象辨别为威胁段和非威胁段中的一个。
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公开(公告)号:CN104170051B
公开(公告)日:2017-05-31
申请号:CN201380014384.6
申请日:2013-01-31
Applicant: 拉皮斯坎系统股份有限公司
Inventor: E.J.莫顿
CPC classification number: G01N23/04 , G01N23/20083 , G01V5/0008 , G01V5/0016 , G01V5/0025 , G01V5/0033 , G01V5/0066 , G01V5/0075 , H05G1/70
Abstract: 本说明书公开了一种多视图X射线检查系统,在多个实施例之一中,其具有三个X射线源的三视图配置。每个X射线源都旋转,并被配置为发射旋转的X射线笔形束,以及至少两个检测器阵列,其中每个检测器阵列都具有多个非像素化的检测器,使得至少一部分非像素化的检测器被定向为朝着这两个X射线源。
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公开(公告)号:CN105372713A
公开(公告)日:2016-03-02
申请号:CN201510509667.9
申请日:2015-08-19
Applicant: 莫福探测仪器有限责任公司
CPC classification number: G06K9/46 , G01N23/20083 , G01N2223/206 , G01N2223/401 , G01N2223/405 , G01N2223/41 , G01N2223/423 , G01N2223/639 , G01N2223/643 , G01T1/00 , G01V5/0025 , G01V5/0041 , G06K9/6267 , G06T5/001 , G06T5/002 , G06T11/006 , G06T15/08 , G06T2207/10116 , G06T2211/408
Abstract: X射线衍射成像系统及操作其的方法。一种执行包括多个对象的容器的安全检查的方法包括用多色x射线照射容器。该方法还包括重构定义动量传递光谱的4-D体素化表示并通过作为动量传递光谱的函数来确定每个体素处的单个值来生成3-D图像。该方法还包括将体素分段成邻接体素的段。每个段包括至少部分地映射到至少一个对象上的多个邻接体素。该方法还包括在多个邻接体素的至少一部分的范围内计算聚合动量传递光谱。该方法还包括将聚合动量传递光谱分类为威胁和非威胁中的一个并基于聚合动量传递光谱将所述至少一个对象辨别为威胁段和非威胁段中的一个。
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公开(公告)号:CN101526487A
公开(公告)日:2009-09-09
申请号:CN200910128723.9
申请日:2009-03-09
Applicant: 通用电气家园保护有限公司
Inventor: G·哈丁
IPC: G01N23/02 , G01N23/207
CPC classification number: G01V5/0016 , G01N23/20083 , G01N2223/045 , G01N2223/637 , G01N2223/639 , G01V5/0025
Abstract: 本发明为用于改进物质的识别精度的方法、处理器和系统。提供一种用于改进物质的识别精度的系统(10,100)。该系统(10,100)包括:X射线源(64,66,68),配置成用于产生X射线;检测器,可操作地与X射线源耦合,配置成用于检测X射线并且输出表示所检测X射线的电信号(196,198,200,202,204,206,208,210,212);以及处理器(190),与检测器耦合,并且配置成用于确定物质的相对分子干涉函数是否包括至少一个峰(1056,1058,1060)。
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公开(公告)号:CN101218501A
公开(公告)日:2008-07-09
申请号:CN200680024504.0
申请日:2006-07-06
Applicant: 皇家飞利浦电子股份有限公司
CPC classification number: G01N23/20083 , A61B6/027 , A61B6/032 , A61B6/483 , A61B6/5282 , G01N2223/045
Abstract: 根据本发明一个方面,对于多重散射辐射,可以提供对在能量解析衍射方法中测得的X射线强度的校正,而无需对已检查的对象的几何形状做出任何假设。根据本发明一个典型实施例,评估一级光谱中阳极材料的特征线,产生对已检测的光谱的成分分析,这可以允许校正其多重散射部分。
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