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公开(公告)号：CN101074937A
公开(公告)日：2007-11-21
申请号：CN200610011945.9
申请日：2006-05-19
Applicant: 清华大学 , 清华同方威视技术股份有限公司
CPC classification number: G01N23/087 , G01N2223/206 , G01N2223/313 , G01N2223/423 , G01N2223/639
Abstract: 公开了一种能谱调制装置、材料识别方法和设备及图像处理方法，能利用不同能量的X射线识别海运、航空集装箱等大中型客体中物质的材料。该能谱调制装置包括：第一能谱调制部件，用于对具有第一能谱的第一射线进行能谱调制；第二能谱调制部件，与所述第一能谱调制部件耦合，用于对具有与所述第一能谱不同的第二能谱的第二射线进行能谱调制。本发明可用在海关、港口、机场等场所对大型集装箱货物进行不开箱查验。
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公开(公告)号：CN102519988B
公开(公告)日：2014-08-20
申请号：CN201110392171.X
申请日：2008-05-09
Applicant: 清华大学 , 同方威视技术股份有限公司
IPC: G01N23/02
Abstract: 公开了一种利用前向散射辐射检查物体的系统中创建识别材料的函数曲线的方法和装置，该方法包括步骤：使得通过辐射源发射的直接辐射和散射体发射的前向散射辐射与不同厚度的已知材料相互作用，并探测得到穿透值；匹配两种能量对相同厚度的各种材料的穿透值，即计算两种能量下的透明度之间的比值；按照不同材料分组，根据所述比值拟合出各种材料随厚度的变化曲线，作为识别材料的函数曲线。本发明可用在海关、港口、机场对货物进行不开箱检查，也可用于生物学研究或医学检测。
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公开(公告)号：CN101576513B
公开(公告)日：2011-12-21
申请号：CN200810106278.1
申请日：2008-05-09
Applicant: 清华大学 , 同方威视技术股份有限公司
CPC classification number: G01N23/20083
Abstract: 公开了一种利用前向散射辐射来检查物体的方法和设备，该方法包括步骤：探测辐射源产生的第一辐射与被检物体相互作用后的第一穿透值；使辐射源产生的第二辐射与散射体相互作用，以产生与该第二辐射成预定角度的前向散射辐射；探测该前向散射辐射与被检物体相互作用后的第二穿透值；以及利用探测的第一穿透值和第二穿透值来获取该被检物体的材料属性信息。本发明可用在海关、港口、机场对货物进行不开箱检查，也可用于生物学研究或医学检测。
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公开(公告)号：CN101074935B
公开(公告)日：2011-03-23
申请号：CN200610011943.X
申请日：2006-05-19
Applicant: 清华大学 , 同方威视技术股份有限公司
IPC: G01N23/04 , G01N23/083
CPC classification number: G01N23/087 , A61B6/482 , G01N2223/5015 , G01V5/0041
Abstract: 公开了一种探测器阵列，包括：第一线阵探测器，用于探测穿透被检物体的至少一个部分的第一射线；第二线阵探测器，与所述第一线阵探测器平行设置，用于探测与所述第一射线交替发射并穿透所述至少一个部分的第二射线。利用所述探测器阵列，能够提高交替双能射线对被检物体的扫描检查效率和材料识别正确率。
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公开(公告)号：CN1995993B
公开(公告)日：2010-07-14
申请号：CN200510136319.8
申请日：2005-12-31
Applicant: 清华大学 , 同方威视技术股份有限公司
Inventor： 康克军 , 胡海峰 , 陈志强 , 李元景 , 王学武 , 唐传祥 , 王利明 , 刘以农 , 刘耀红 , 张丽 , 李荐民 , 钟华强 , 程建平 , 陈怀璧 , 彭华 , 谢亚丽 , 李君利 , 康宁 , 李清华
CPC classification number: G01N23/087 , A61B6/4241 , A61B6/482 , G01V5/0041
Abstract: 本发明公开了一种利用多种能量辐射扫描物质的方法和装置。该方法包括：1)探测多种能量的射线穿透被测物质后的探测值；2)初步判断物质属性及厚度信息；3)根据初步判断结果选择处理该物质的能量区间和处理函数；4)最终确定所含物质，并根据厚度信息调整图像。相应的装置包括：1)产生多种能量的射线源；2)针对不同能量所使用的能谱调制装置；3)对不同能量敏感的探测器阵列；4)相应的图像处理机构。本发明可用在海关、港口、机场对大型集装箱货物进行不开箱查验。
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公开(公告)号：CN101074935A
公开(公告)日：2007-11-21
申请号：CN200610011943.X
申请日：2006-05-19
Applicant: 清华大学 , 清华同方威视技术股份有限公司
IPC: G01N23/04 , G01N23/083
CPC classification number: G01N23/087 , A61B6/482 , G01N2223/5015 , G01V5/0041
Abstract: 公开了一种探测器阵列，包括：第一线阵探测器，用于探测穿透被检物体的至少一个部分的第一射线；第二线阵探测器，与所述第一线阵探测器平行设置，用于探测与所述第一射线交替发射并穿透所述至少一个部分的第二射线。利用所述探测器阵列，能够提高交替双能射线对被检物体的扫描检查效率和材料识别正确率。
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公开(公告)号：CN1995993A
公开(公告)日：2007-07-11
申请号：CN200510136319.8
申请日：2005-12-31
Applicant: 清华大学 , 清华同方威视技术股份有限公司
Inventor： 康克军 , 胡海峰 , 陈志强 , 李元景 , 王学武 , 唐传祥 , 王利明 , 刘以农 , 刘耀红 , 张丽 , 李荐民 , 钟华强 , 程建平 , 陈怀璧 , 彭华 , 谢亚丽 , 李君利 , 康宁 , 李清华
CPC classification number: G01N23/087 , A61B6/4241 , A61B6/482 , G01V5/0041
Abstract: 本发明公开了一种利用多种能量辐射扫描物质的方法和装置。该方法包括：1)探测多种能量的射线穿透被测物质后的探测值；2)初步判断物质属性及厚度信息；3)根据初步判断结果选择处理该物质的能量区间和处理函数；4)最终确定所含物质，并根据厚度信息调整图像。相应的装置包括：1)产生多种能量的射线源；2)针对不同能量所使用的能谱调制装置；3)对不同能量敏感的探测器阵列；4)相应的图像处理机构。本发明可用在海关、港口、机场对大型集装箱货物进行不开箱查验。
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公开(公告)号：CN102519988A
公开(公告)日：2012-06-27
申请号：CN201110392171.X
申请日：2008-05-09
Applicant: 清华大学 , 同方威视技术股份有限公司
IPC: G01N23/02
Abstract: 公开了一种利用前向散射辐射检查物体的系统中创建识别材料的函数曲线的方法和装置，该方法包括步骤：使得通过辐射源发射的直接辐射和散射体发射的前向散射辐射与不同厚度的已知材料相互作用，并探测得到穿透值；匹配两种能量对相同厚度的各种材料的穿透值，即计算两种能量下的透明度之间的比值；按照不同材料分组，根据所述比值拟合出各种材料随厚度的变化曲线，作为识别材料的函数曲线。本发明可用在海关、港口、机场对货物进行不开箱检查，也可用于生物学研究或医学检测。
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公开(公告)号：CN101074937B
公开(公告)日：2010-09-08
申请号：CN200610011945.9
申请日：2006-05-19
Applicant: 清华大学 , 同方威视技术股份有限公司
CPC classification number: G01N23/087 , G01N2223/206 , G01N2223/313 , G01N2223/423 , G01N2223/639
Abstract: 公开了一种能谱调制装置、材料识别方法和设备及图像处理方法，能利用不同能量的X射线识别海运、航空集装箱等大中型客体中物质的材料。该能谱调制装置包括：第一能谱调制部件，用于对具有第一能谱的第一射线进行能谱调制；第二能谱调制部件，与所述第一能谱调制部件耦合，用于对具有与所述第一能谱不同的第二能谱的第二射线进行能谱调制。本发明可用在海关、港口、机场等场所对大型集装箱货物进行不开箱查验。
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公开(公告)号：CN101576513A
公开(公告)日：2009-11-11
申请号：CN200810106278.1
申请日：2008-05-09
Applicant: 清华大学 , 同方威视技术股份有限公司
CPC classification number: G01N23/20083
Abstract: 公开了一种利用前向散射辐射来检查物体的方法和设备，该方法包括步骤：探测辐射源产生的第一辐射与被检物体相互作用后的第一穿透值；使辐射源产生的第二辐射与散射体相互作用，以产生与该第二辐射成预定角度的前向散射辐射；探测该前向散射辐射与被检物体相互作用后的第二穿透值；以及利用探测的第一穿透值和第二穿透值来获取该被检物体的材料属性信息。本发明可用在海关、港口、机场对货物进行不开箱检查，也可用于生物学研究或医学检测。
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