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公开(公告)号：CN104956211A
公开(公告)日：2015-09-30
申请号：CN201380062406.6
申请日：2013-10-22
Applicant: 赫尔穆特费希尔有限责任公司电子及测量技术研究所
Inventor： J.凯斯勒
IPC: G01N23/223
CPC classification number: G01N23/223 , G01N2223/076 , G01N2223/313 , G01N2223/61 , G01N2223/633
Abstract: 本发明涉及用于实施X-射线荧光分析的方法，其中初级辐射（16）从X-射线辐射源（14）对准样本主体（12），其中从样本主体（12）发射的次级辐射（18）由检测器（20）检测并且由评估单元（21）评估，其中具有形成滤波器层级的至少一个滤波器层（25）的至少一个滤波器（23）被引入到次级辐射（18）的射束路径中并且根据滤波器层（25）相对于次级辐射（18）的角度α充当带通滤波器，并且次级辐射（18）的破坏性波长通过布拉格反射被去耦，滤波器（23）的滤波器层（25）的角度α利用调整设备（31）被调整以用于通过布拉格反射来反射次级辐射（18）的至少一个破坏性波长，并且次级辐射（18）的去耦的波长由第二检测器（32）检测，并且由此标识的信号被转发到评估单元（21）。
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公开(公告)号：CN106340340A
公开(公告)日：2017-01-18
申请号：CN201610651637.6
申请日：2016-06-01
Applicant: 通用电气公司
CPC classification number: G01N23/046 , G01N2223/313 , G01N2223/419 , G21K1/025 , G21K1/10 , A61B6/035
Abstract: 本发明题为“X射线滤波”。公开了具有X射线衰减片堆的X射线滤波器组件，X射线衰减片成角度以具有焦点。在成像系统中实施时，滤波器组件的焦点空间地偏离(例如，在后面)X射线发射位置。滤波器组件可用于(例如，平移、旋转等)以调节成像容积内观察的X射线的强度轮廓。
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公开(公告)号：CN101074937A
公开(公告)日：2007-11-21
申请号：CN200610011945.9
申请日：2006-05-19
Applicant: 清华大学 , 清华同方威视技术股份有限公司
CPC classification number: G01N23/087 , G01N2223/206 , G01N2223/313 , G01N2223/423 , G01N2223/639
Abstract: 公开了一种能谱调制装置、材料识别方法和设备及图像处理方法，能利用不同能量的X射线识别海运、航空集装箱等大中型客体中物质的材料。该能谱调制装置包括：第一能谱调制部件，用于对具有第一能谱的第一射线进行能谱调制；第二能谱调制部件，与所述第一能谱调制部件耦合，用于对具有与所述第一能谱不同的第二能谱的第二射线进行能谱调制。本发明可用在海关、港口、机场等场所对大型集装箱货物进行不开箱查验。
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公开(公告)号：CN103327896A
公开(公告)日：2013-09-25
申请号：CN201180060517.4
申请日：2011-11-21
Applicant: 佳能株式会社
CPC classification number: G01N23/20 , A61B6/00 , A61B6/4035 , A61B6/4291 , A61B6/484 , G01N23/04 , G01N2223/1016 , G01N2223/313 , G21K1/02 , G21K2207/005
Abstract: 本发明涉及一种X射线成像设备，包括：X射线源；光栅，该光栅分割从X射线源照射的发散X射线；以及检测器，该检测器检测由光栅分割并且通过样本的X射线。所述光栅包括使发散X射线通过的多个透明物体和遮挡发散X射线的多个不透明物体。多条延长线彼此相交的聚焦位置和X射线源被布置在不同的位置。所述延长线是通过将中心线延长而形成的，所述中心线连接多个不透明物体中的每一个不透明物体的面向X射线源的X射线源侧的中心与多个不透明物体中的每一个不透明物体的面向检测器的检测器侧的中心。
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公开(公告)号：CN101101268B
公开(公告)日：2012-09-05
申请号：CN200710111882.9
申请日：2007-06-20
Applicant: 普拉德研究及开发有限公司
IPC: G01N23/087 , G01N23/22
CPC classification number: G01N33/28 , A61B6/4241 , G01N23/06 , G01N33/2841 , G01N33/2847 , G01N2223/313 , G01N2223/635
Abstract: 用于确定井底收集的流体的相分数的装置和方法被示出为包括X射线发生器、过滤器、样品管和辐射检测器。过滤器产生具有高能部分和低能部分的辐射谱。过滤后的辐射通过样品流体，并且所产生的衰减辐射信号被用于计算样品流体中的油、水和气相分数。在一个实施例中，第二基准辐射检测器测量直接来自X射线发生器的辐射，并且该测量被用于使分数结果标准化。基准检测器的高能信号与低能信号的比值被用于控制X射线发生器的输入电压，从而保证稳定的谱。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN102590912A
公开(公告)日：2012-07-18
申请号：CN201110380663.7
申请日：2011-11-25
Applicant: 富士胶片株式会社
Inventor： 金子泰久
CPC classification number: G01N23/04 , A61B6/4258 , A61B6/4291 , A61B6/484 , G01N2223/1016 , G01N2223/313 , Y10T29/49734
Abstract: 本发明涉及用于射线摄影的栅格及其修补方法，以及射线成像系统。在第二栅格中，沿Y方向延伸的X射线吸收部分和X射线透过部分交替地排列在X方向上。在制造第二栅格之后，在第二栅格中检测有缺陷的部分。沿X和Y方向设定所要切出的矩形区域，以便使其包含该有缺陷的部分。通过切出矩形区域，形成切出区。将小于切出区的微栅格装配在切出区中以使得所述微栅格的两个邻边与所述切出区的两个邻边接触。将留在切出区的轮廓和微栅格之间的空隙用Sn-Pb作为X射线吸收材料填充。
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公开(公告)号：CN103210416B
公开(公告)日：2017-12-19
申请号：CN201180055070.1
申请日：2011-09-20
Applicant: 雪佛龙美国公司
Inventor： R·萨拉扎尔-蒂奥
CPC classification number: G01N23/046 , G01N15/088 , G01N2015/0846 , G01N2223/1016 , G01N2223/313 , G01N2223/40 , G01N2223/419
Abstract: 一种用于表示多孔材料的有噪声3D x射线层析图像的多相态分割的系统和方法，其最小化数据平滑，并处理3D x射线层析图像以获取标准化强度图像，将该标准化强度图像分割成至少三个相态，计算所分割的相态的体积片段和空间分布，以及比较它们与目标值，并且如果所计算的片段未足够接近该目标值，则重复必需的分割步骤直到所计算的体积片段处于针对该目标值的给定容差内。该分割步骤包括：计算标准化强度图像的中值/均值滤波梯度图像，根据该中值/均值滤波梯度图像和标准化强度图像创建强度与梯度关系图，将该强度与梯度关系图分区成至少三个区域，利用限定所述区域的阈值来分割该标准化灰度级图像以创建分割图像，以及应用去斑滤波器来去除分割图像中的噪声。
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公开(公告)号：CN103383363B
公开(公告)日：2017-05-03
申请号：CN201310069293.4
申请日：2013-02-28
Applicant: 帕纳科有限公司
IPC: G01N23/20
CPC classification number: G01N23/207 , G01N2223/313
Abstract: 本发明提供了一种用于测量具有样品表面的样品的X射线衍射的方法和装置。X射线衍射方法在样品(10)的表面(14)上沿着照射带(16)照射射束(4)。X射线被所述样品(10)衍射并通过具有基本上垂直于所述带(16)延伸的狭缝的掩模(20)。通过二维X射线检测器检测X射线，从而测量沿着所述带(16)的不同位置的衍射X射线。
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公开(公告)号：CN105181723A
公开(公告)日：2015-12-23
申请号：CN201510627055.X
申请日：2015-09-28
Applicant: 同方威视技术股份有限公司
IPC: G01N23/10
CPC classification number: H05G1/30 , G01N23/083 , G01N2223/313 , G01N2223/423 , G01V5/0041 , G21K1/043 , G21K1/10
Abstract: 本发明公开一种双能射线扫描系统、扫描方法以及检查系统，涉及辐射扫描成像检测领域。其中的双能射线扫描系统包括射线源、过滤器；射线源用于发出高能射线和低能射线；过滤器包括低能滤波部分和低能透过部分；当射线源发出高能射线时过滤器的低能滤波部分对准射线源的出束方向，使得高能射线的低能部分被过滤掉、高能射线的高能部分透射出来，当射线源发出低能射线时过滤器的低能透过部分对准射线源的出束方向，使得低能射线透射出来，从而既能提高高能射线的穿透率，又无损低能射线的空间丝分辨能力，同时保障了穿透率指标和空间丝分辨能力指标，使得双能射线可以充分利用其穿透特性的区别对被检物体进行识别，达到安全检查的目的。
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公开(公告)号：CN103383363A
公开(公告)日：2013-11-06
申请号：CN201310069293.4
申请日：2013-02-28
Applicant: 帕纳科有限公司
IPC: G01N23/20
CPC classification number: G01N23/207 , G01N2223/313
Abstract: 本发明提供了一种用于测量具有样品表面的样品的X射线衍射的方法和装置。X射线衍射方法在样品(10)的表面(14)上沿着照射带(16)照射射束(4)。X射线被所述样品(10)衍射并通过具有基本上垂直于所述带(16)延伸的狭缝的掩模(20)。通过二维X射线检测器检测X射线，从而测量沿着所述带(16)的不同位置的衍射X射线。
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