公开(公告)号：CN104902820B

公开(公告)日：2018-04-17

申请号：CN201480004222.9

申请日：2014-01-09

Applicant: 东芝医疗系统株式会社

Inventor： 勅使川原学

IPC: A61B6/03

CPC classification number: G01T1/2928 ,  A61B6/032 ,  A61B6/06 ,  A61B6/4035 ,  A61B6/4266 ,  A61B6/482 ,  G01N23/20091 ,  G01N2223/0563 ,  G01N2223/423 ,  G01T1/247 ,  G01T1/29 ,  G01T1/2914 ,  G02B5/0278 ,  G02B5/1838 ,  G02B27/0944 ,  G02B27/42 ,  G21K1/02 ,  G21K1/06

Abstract: 本实施方式所涉及的X射线计算机断层摄影装置(1)具备：X射线产生部(105)；准直仪(1771)，具有衍射体(1773)以及多个贯通孔(1770)，所述衍射体(1773)设置于贯通孔(1770)，并以与X射线的能量对应的角度使X射线衍射；多个X射线检测元件(1775)，与衍射体(1771)间隔预定距离地设置；计数部(109)，基于来自多个X射线检测元件(1775)的输出，对来源于X射线的光子数进行计数；存储部(200)，存储统计信息，所述统计信息与X射线中的多个能量区域的每一个对应，并与对应于多个X射线检测元件的位置的多个计数值的计数分布相关；分类部(300)，利用统计信息，针对能量区域的每一个对计数的光子数进行分类；以及重建部(400)，基于针对能量区域的每一个进行了分类的光子数，重建与能量区域对应的医用图像。

公开(公告)号：CN104995690B

公开(公告)日：2017-11-17

申请号：CN201480008362.3

申请日：2014-01-15

Applicant: 卡尔蔡司X射线显微镜公司

Inventor： 托马斯·A·凯斯 ,  苏珊·坎德尔 ,  斯里瓦特桑·瑟哈德里 ,  保罗·麦吉尼斯

IPC: G21K7/00 ,  G01N23/04

CPC classification number: G01N23/046 ,  A61B6/03 ,  A61B6/482 ,  A61B6/52 ,  G01N2223/419 ,  G01N2223/423 ,  G06F3/0481 ,  G06F3/04817 ,  G06F3/04842 ,  G06K9/6212 ,  G06T5/40 ,  G06T5/50 ,  G06T11/006 ,  G06T15/08 ,  G21K7/00

Abstract: 一种多能量，如双能量(DE)，X射线成像系统数据采集和图像重建系统和方法可最优化样本的图像对比度。使用该DE X射线成像系统及其相关用户界面应用程序，操作者可对利用相同量的样品进行低能(LE)和高能(HE)X射线扫描。该系统通过低能投影创建低能重建断层体数据集，并通过高能投影创建高能重建断层体数据集。这使得操作者可控制被选择片的图像对比度，并将与所述最优化该被选择片的对比度的相关信息应用到断层体数据集的所有片中。这创建了来自LE和HE体数据集的组合体数据集。

公开(公告)号：CN106574903A

公开(公告)日：2017-04-19

申请号：CN201580042791.7

申请日：2015-08-05

Applicant: 株式会社石田

Inventor： 杉本一幸 ,  广濑修

IPC: G01N23/04 ,  G01N23/18

CPC classification number: G01N23/18 ,  G01N23/04 ,  G01N2223/206 ,  G01N2223/423 ,  G01N2223/424 ,  G01N2223/5015 ,  G01N2223/618 ,  G01N2223/643

Abstract: X射线检查装置，在具备两个线传感器的X射线检查装置中，在线传感器的安装位置产生偏差时能够取得正确的检查结果，可靠性高。X射线检查装置(10)具备输送物品的传送带单元、X射线照射器(13)、第一线传感器(14)、第二线传感器(15)、检测部(22ca)和校正图像生成部(22d)。X射线照射器向传送带单元输送的物品照射X射线。第一线传感器检测透过物品的低能量带的X射线。第二线传感器检测透过物品的高能量带的X射线。检测部检测第二线传感器相对第一线传感器在水平及垂直方向位置的偏差。校正图像生成部基于检测部的检测结果生成对基于第二线传感器检测结果得到的物品第二X射线图像进行了校正的校正第二X射线图像。

公开(公告)号：CN105807328A

公开(公告)日：2016-07-27

申请号：CN201610283915.7

申请日：2016-04-29

Applicant: 同方威视技术股份有限公司

Inventor： 李元景 ,  李明亮 ,  李荐民 ,  陈旻雁

IPC: G01V5/00

CPC classification number: G01N23/203 ,  G01N23/04 ,  G01N2223/423 ,  G01V5/0025 ,  G01V5/0041

Abstract: 本发明公开了一种基于背散射成像的检测系统和方法，涉及背散射技术领域。该基于背散射成像的检测系统包括射线源，用于向被检对象发送射线；多能背散射探测器，用于接收经过被检对象散射的射线，并输出射线信号；处理装置，分别与射线源与多能背散射探测器连接，用于接收来自多能背散射探测器的射线信号，处理射线信号以获得被检对象的图像。基于被检对象的材料对不同能量的射线的物理效应不同，本发明能够更准确的识别出被检对象的密度、原子序数和图像，提高了检测系统的物质分辨能力。

公开(公告)号：CN103930772B

公开(公告)日：2016-04-20

申请号：CN201280054942.7

申请日：2012-08-22

Applicant: 浜松光子学株式会社

Inventor： 须山敏康

IPC: G01N23/04 ,  G01T7/00 ,  G21K5/00 ,  G21K5/10

CPC classification number: G01N23/043 ,  G01N23/083 ,  G01N2223/423 ,  G01N2223/618 ,  G01N2223/643 ,  G01V5/0041

Abstract: 本发明提供一种非破坏检查装置。非破坏检查装置(1)具备X射线照射器(20)、低能检测器(32)、高能检测器(42)、低能透过率计算部(72)、高能透过率计算部(74)、检测部(76)及补正部(78)。计算部(72)计算表示透过X射线的低能范围的透过率的值。计算部(74)计算表示透过X射线的高能范围的透过率的值。检测部(76)基于由两计算部(72、72)算出的透过率之比，检测X射线照射器(20)的错位内容。补正部(78)在由检测部(76)检测出X射线照射器(20)的错位内容的情况下，根据错位内容，对由检测器(32、42)检测出的X射线的亮度数据进行补正。

公开(公告)号：CN101074937B

公开(公告)日：2010-09-08

申请号：CN200610011945.9

申请日：2006-05-19

Applicant: 清华大学 ,  同方威视技术股份有限公司

Inventor： 王学武 ,  刘以农 ,  陈志强 ,  刘耀红 ,  钟华强 ,  张东生 ,  陈玉梅 ,  高峰

IPC: G01N23/087 ,  G01N23/04 ,  G01N23/08 ,  G21K1/00 ,  A61B6/00 ,  G01V5/00 ,  H05G1/26 ,  H05G1/46

CPC classification number: G01N23/087 ,  G01N2223/206 ,  G01N2223/313 ,  G01N2223/423 ,  G01N2223/639

Abstract: 公开了一种能谱调制装置、材料识别方法和设备及图像处理方法，能利用不同能量的X射线识别海运、航空集装箱等大中型客体中物质的材料。该能谱调制装置包括：第一能谱调制部件，用于对具有第一能谱的第一射线进行能谱调制；第二能谱调制部件，与所述第一能谱调制部件耦合，用于对具有与所述第一能谱不同的第二能谱的第二射线进行能谱调制。本发明可用在海关、港口、机场等场所对大型集装箱货物进行不开箱查验。

公开(公告)号：CN106574903B

公开(公告)日：2018-07-27

申请号：CN201580042791.7

申请日：2015-08-05

Applicant: 株式会社石田

Inventor： 杉本一幸 ,  广濑修

IPC: G01N23/04 ,  G01N23/18

CPC classification number: G01N23/18 ,  G01N23/04 ,  G01N2223/206 ,  G01N2223/423 ,  G01N2223/424 ,  G01N2223/5015 ,  G01N2223/618 ,  G01N2223/643

Abstract: X射线检查装置,在具备两个线传感器的X射线检查装置中,在线传感器的安装位置产生偏差时能够取得正确的检查结果,可靠性高。X射线检查装置(10)具备输送物品的传送带单元、X射线照射器(13)、第线传感器(14)、第二线传感器(15)、检测部(22ca)和校正图像生成部(22d)。X射线照射器向传送带单元输送的物品照射X射线。第线传感器检测透过物品的低能量带的X射线。第二线传感器检测透过物品的高能量带的X射线。检测部检测第二线传感器相对第线传感器在水平及垂直方向位置的偏差。校正图像生成部基于检测部的检测结果生成对基于第二线传感器检测结果得到的物品第二X射线图像进行了校正的校正第二X射线图像。

公开(公告)号：CN102967610B

公开(公告)日：2017-05-10

申请号：CN201210280057.2

申请日：2012-08-08

Applicant: 三星电子株式会社

Inventor： 金圣洙 ,  吴炫和 ,  成映勋 ,  权宰贤 ,  韩锡旼 ,  姜东求

IPC: G01N23/04 ,  A61B6/00

CPC classification number: A61B6/482 ,  A61B6/4035 ,  A61B6/4241 ,  A61B6/467 ,  A61B6/502 ,  A61B6/5205 ,  A61B6/5235 ,  A61B6/56 ,  A61B8/5207 ,  G01N23/06 ,  G01N2223/423

Abstract: 提供一种通过使用多能辐射数据生成图像的方法和设备。根据用于生成辐射图像的方法和设备，针对不同能带中的多个放射线，分别接收由指示对象内部的多条辐射数据组成的多能辐射数据；基于多能辐射数据，生成与所述多个放射线的能带不同的能带中的放射线的辐射数据；以及基于生成的辐射数据，生成对象的辐射图像。

公开(公告)号：CN101981651B

公开(公告)日：2015-07-08

申请号：CN200980111618.2

申请日：2009-03-03

Applicant: X射线光学系统公司

Inventor： 陈泽武 ,  D·M·吉布森 ,  W·M·吉布森 ,  小J·H·伯德特 ,  A·贝利 ,  R·S·塞姆肯 ,  辛凯

IPC: H01J37/252 ,  G01N23/225

CPC classification number: G21K1/06 ,  G01N23/20008 ,  G01N23/223 ,  G01N2223/076 ,  G01N2223/1003 ,  G01N2223/315 ,  G01N2223/423 ,  G21K2201/062 ,  G21K2201/064 ,  H05G1/04

Abstract: 一种用于使用X射线射束照射试样斑的X射线分析装置。提供了一种具有源斑的X射线管，由该源斑生成具有特征第一能量和韧致辐射能量的发散X射线射束；第一X射线光学器件接收发散的X射线射束并朝试样斑指引射束，同时使射束单色化；和接收发散的X射线射束并朝试样斑指引射束同时使射束单色化为第二能量的第二X射线光学器件。第一X射线光学器件使来自源斑的特征能量单色化并且第二X射线光学器件使来自源斑的韧致辐射能量单色化。X射线光学器件可以是弯曲的衍射光学器件，用于从X射线管接收发散的X射线射束并且将射束聚焦在试样斑上。还提供了检测以检测和测量在例如包括玩具和电子产品的产品中的各种毒素。

公开(公告)号：CN103874463A

公开(公告)日：2014-06-18

申请号：CN201280050794.1

申请日：2012-10-22

Applicant: 瓦里安医疗系统公司

Inventor： K·M·霍尔特

IPC: A61B6/00

CPC classification number: G01N23/06 ,  G01N2223/405 ,  G01N2223/423

Abstract: 本发明提供一种存取与用于不同材料的多个模型有关的信息以及可行性标准的控制电路，所述控制电路通过以下方式来处理物体的成像信息(例如由非侵入性成像设备提供)以利于鉴别构成所述物体的材料：使用所述多个模型来根据成像信息的部分鉴别候选材料，并且然后使用所述可行性标准，通过避开至少一种不太可能的材料和材料组合来减少所述候选材料，从而产生有用的材料鉴别信息。