公开(公告)号：CN104374786A

公开(公告)日：2015-02-25

申请号：CN201410706151.9

申请日：2014-11-27

Applicant: 中国科学院上海应用物理研究所

Inventor： 佟亚军 ,  杜国浩 ,  彭冠云 ,  王玉丹 ,  陈敏 ,  肖体乔

IPC: G01N23/04

Abstract: 本发明涉及一种同步辐射X射线CT校轴系统及方法，其中，所述系统包括样品调节装置以及X射线探测器，所述系统还包括：设置在所述二维倾角调节台上的第一角度传感器；设置在所述X射线探测器上的第二角度传感器；与所述第一、第二角度传感器连接的角度读出设备；与所述角度读出设备连接的校轴控制器；以及连接在所述校轴控制器与二维倾角调节台之间的倾角调节台控制器。本发明实现了当更换样品调节装置、更换X射线探测器或者前后移动X射线探测器时能够通过第一、第二角度传感器测量的绝对的角度值，直接调整样品调节装置中二维倾角调节台的二维倾斜角度的目的，从而直观、便捷地完成校轴过程，节省大量人力工时，并有效提高了校轴精度。

公开(公告)号：CN104374786B

公开(公告)日：2017-01-11

申请号：CN201410706151.9

申请日：2014-11-27

Applicant: 中国科学院上海应用物理研究所

Inventor： 佟亚军 ,  杜国浩 ,  彭冠云 ,  王玉丹 ,  陈敏 ,  肖体乔

IPC: G01N23/04

Abstract: 本发明涉及一种同步辐射X射线CT校轴系统及方法，其中，所述系统包括样品调节装置以及X射线探测器，所述系统还包括：设置在所述二维倾角调节台上的第一角度传感器；设置在所述X射线探测器上的第二角度传感器；与所述第一、第二角度传感器连接的角度读出设备；与所述角度读出设备连接的校轴控制器；以及连接在所述校轴控制器与二维倾角调节台之间的倾角调节台控制器。本发明实现了当更换样品调节装置、更换X射线探测器或者前后移动X射线探测器时能够通过第一、第二角度传感器测量的绝对的角度值，直接调整样品调节装置中二维倾角调节台的二维倾斜角度的目的，从而直观、便捷地完成校轴过程，节省大量人力工时，并有效提高了校轴精度。

公开(公告)号：CN107677692A

公开(公告)日：2018-02-09

申请号：CN201710860693.5

申请日：2017-09-21

Applicant: 中国科学院上海应用物理研究所

Inventor： 彭冠云 ,  肖体乔 ,  刘杏娥 ,  杨淑敏 ,  覃道春 ,  谢红兰 ,  邓彪 ,  佟亚军 ,  杜国浩 ,  王华

IPC: G01N23/04 ,  G01N23/087

Abstract: 本发明涉及一种防腐剂处理的竹材或木材的无损检测方法，包括：防腐剂处理得到试样；利用同步辐射X射线对金属元素标准样品进行扫描，利用所述K吸收边校正同步辐射能量；每间隔能量T对所述试样进行连续曝光成像得到一系列X射线投影图，差值为能量T的第三辐射能量和第四辐射能量对应第一X射线投影图和第二X射线投影图；选取第一X射线投影图和第二X射线投影图相减得到金属元素的分布情况。根据本发明的方法，检测精确，操作便捷，适应于无损检测防腐剂处理的竹材，也适用于无损检测防腐剂处理的木材。

公开(公告)号：CN104237237B

公开(公告)日：2016-08-24

申请号：CN201410513981.X

申请日：2014-09-29

Applicant: 中国科学院上海应用物理研究所

Inventor： 彭冠云 ,  肖体乔 ,  谢红兰 ,  邓彪 ,  杜国浩 ,  佟亚军 ,  薛艳玲

IPC: G01N21/84 ,  G01N23/04

Abstract: 本发明提供一种同步辐射X射线显微CT成像样品台，包括安装在旋转台上的位移台，所述样品台还包括垂直于所述位移台的表面向外延伸的延长装置；所述延长装置包括固定于所述位移台的表面上的基座，用于承载样品的支架，以及连接在所述基座和所述支架之间的支撑棒。本发明的同步辐射X射线显微CT成像样品台，通过垂直于位移台的表面向外延伸的延长装置使得样品与CCD的距离更加灵活可调，满足对于CCD到样品近距离扫描的要求。

公开(公告)号：CN104237237A

公开(公告)日：2014-12-24

申请号：CN201410513981.X

申请日：2014-09-29

Applicant: 中国科学院上海应用物理研究所

Inventor： 彭冠云 ,  肖体乔 ,  谢红兰 ,  邓彪 ,  杜国浩 ,  佟亚军 ,  薛艳玲

IPC: G01N21/84 ,  G01N23/04

Abstract: 本发明提供一种同步辐射X射线显微CT成像样品台，包括安装在旋转台上的位移台，所述样品台还包括垂直于所述位移台的表面向外延伸的延长装置；所述延长装置包括固定于所述位移台的表面上的基座，用于承载样品的支架，以及连接在所述基座和所述支架之间的支撑棒。本发明的同步辐射X射线显微CT成像样品台，通过垂直于位移台的表面向外延伸的延长装置使得样品与CCD的距离更加灵活可调，满足对于CCD到样品近距离扫描的要求。

公开(公告)号：CN204269558U

公开(公告)日：2015-04-15

申请号：CN201420568921.3

申请日：2014-09-29

Applicant: 中国科学院上海应用物理研究所

Inventor： 彭冠云 ,  肖体乔 ,  谢红兰 ,  邓彪 ,  杜国浩 ,  佟亚军 ,  薛艳玲

IPC: G01N21/84 ,  G01N23/04

Abstract: 本实用新型提供一种同步辐射X射线显微CT成像样品台，包括安装在旋转台上的位移台，所述样品台还包括垂直于所述位移台的表面向外延伸的延长装置；所述延长装置包括固定于所述位移台的表面上的基座，用于承载样品的支架，以及连接在所述基座和所述支架之间的支撑棒。本实用新型的同步辐射X射线显微CT成像样品台，通过垂直于位移台的表面向外延伸的延长装置使得样品与CCD的距离更加灵活可调，满足对于CCD到样品近距离扫描的要求。