半导体装置的制造方法

    公开(公告)号:CN107104056B

    公开(公告)日:2019-09-06

    申请号:CN201610989359.5

    申请日:2016-11-10

    Abstract: 本发明提供一种半导体装置的制造方法,其目的在于,在相互被焊接的两个部件的各Ni膜上生成预先设定的量的(Cu,Ni)6Sn5。本发明的半导体装置的制造方法包括第一热处理工序、第二热处理工序和第三热处理工序。在第一热处理工序中,使含有重量百分比0.9%以上的Cu的第一Sn‑Cu系焊锡在被形成于第一部件上的Ni膜上熔融,从而在第一部件的Ni膜上生成(Cu,Ni)6Sn5。在第二热处理工序中,使含有重量百分比0.9%以上的Cu的第二Sn‑Cu系焊锡在被形成于第二部件上的Ni膜上熔融,从而在第二部件的Ni膜上生成(Cu,Ni)6Sn5。而且,在第三热处理工序中,使第一热处理工序后的第一Sn‑Cu系焊锡与第二热处理工序后的第二Sn‑Cu系焊锡熔融而一体化,从而使第一部件与第二部件相互接合。

    半导体装置、用于半导体装置的制造方法以及电极板

    公开(公告)号:CN108630652A

    公开(公告)日:2018-10-09

    申请号:CN201810224113.8

    申请日:2018-03-19

    Abstract: 本发明涉及半导体装置、用于半导体装置的制造方法以及电极板。半导体装置包含电极板、金属构件以及将金属构件与电极板连接的焊料。在电极板的表面上,设置了第一沟槽和第二沟槽组。第一沟槽具有第一直线部分到第四直线部分。该第二沟槽组布置在由第一沟槽包围的范围内,并且具有在与第一沟槽连接的外周侧上的端部。该第二沟槽组包含第一集合到第四集合。所述集合中的每一个包含与第一直线部分到第四直线部分连接的多个第二沟槽。当在电极板和金属构件的层压方向上看金属构件时,金属构件的与焊料连接的区域的外周边缘横穿第一集合到第四集合。

    半导体装置
    46.
    发明公开

    公开(公告)号:CN108573937A

    公开(公告)日:2018-09-25

    申请号:CN201810182489.7

    申请日:2018-03-06

    Abstract: 本说明书公开一种半导体装置,具备:第一及第二半导体元件,在两个面具备电极;第一及第二金属板,夹着第一半导体元件,通过第一焊料与第一半导体元件的各电极接合;及第三及第四金属板,夹着第二半导体元件,通过第二焊料与第二半导体元件的各电极接合。该半导体装置中,从第一金属板延伸出第一接头并且从第四金属板延伸出第二接头,这些接头由第三焊料接合,第一焊料的凝固点比第三焊料的凝固点高,且第二焊料的凝固点比第三焊料的凝固点高。

    半导体装置
    48.
    发明授权

    公开(公告)号:CN103871989B

    公开(公告)日:2017-04-19

    申请号:CN201310654629.3

    申请日:2013-12-06

    Inventor: 门口卓矢

    Abstract: 半导体装置。根据本发明的半导体装置(1)包括:平板形式的半导体元件(2),所述半导体元件具有相对的第一表面和第二表面;绝缘层(6),所述绝缘层覆盖位于半导体元件(2)的第一表面侧上的控制布线(4);金属块(8),所述金属块经由焊料层接合到半导体元件(2)的第一表面侧;和保护膜(7a),所述保护膜形成在金属块(8)和绝缘层(6)之间,所述保护膜(7a)的硬度等于或者大于金属块(8)的硬度。当从第一表面侧观察时,保护膜(7a)形成在至少包括金属块(8)的边缘部分和控制布线(4)相互交叉的位置的区域中。

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