振动装置
    22.
    发明公开

    公开(公告)号:CN105379115A

    公开(公告)日:2016-03-02

    申请号:CN201480026919.6

    申请日:2014-05-01

    CPC classification number: H03H9/21

    Abstract: 本发明提供一种不导致k2Q的降低地增大静电电容,并可降低谐振电阻的振动装置。振动装置(1)的在Y方向上延伸的2N根(N是2以上的整数)音叉臂(3)~(6)在X方向上并排,在设置有2N根音叉臂(3)~(6)的区域中,相对于通过X方向中心且在Y方向上延伸的虚拟线A,一侧的N根音叉臂(3)、(4)的弯曲振动的相位与另一侧的N根音叉臂(6)、(5)的弯曲振动的相位对称。

    压电膜以及压电振子
    24.
    发明授权

    公开(公告)号:CN107112977B

    公开(公告)日:2020-07-14

    申请号:CN201680004869.0

    申请日:2016-01-05

    Abstract: 本发明提供能够充分地确保压电特性并降低应力的压电膜以及压电振子。压电膜含有AlN结晶、在AlN结晶中与Al进行置换的至少一种第一元素、以及具有比第一元素的离子半径小且,Al的离子半径大的离子半径并被添加到AlN结晶的第二元素。

    谐振装置
    26.
    发明公开

    公开(公告)号:CN111264031A

    公开(公告)日:2020-06-09

    申请号:CN201880068819.8

    申请日:2018-11-09

    Abstract: 本发明提供一种能够减少产品高度的增加并且将振动空间保持为真空的谐振装置。上述谐振装置具备MEMS设备和CMOS设备,上述MEMS设备具有:谐振子,具有下部电极、上部电极以及形成于下部电极与上部电极之间的压电膜;上盖,与谐振子的上部电极对置而设置;以及下盖,与谐振子的下部电极对置而设置、并设置为与上盖一起密封谐振子,上述CMOS设备安装于上盖和下盖之中任一个盖的与朝向谐振子的一侧相反侧的面,CMOS设备具有CMOS层、和在该CMOS层的与朝向谐振子的一侧相反侧的面所设置的保护层,上盖和下盖之中的与CMOS设备接合的盖具有将该CMOS设备与谐振子电连接的贯通电极。

    振动装置
    29.
    发明授权

    公开(公告)号:CN105379115B

    公开(公告)日:2017-10-13

    申请号:CN201480026919.6

    申请日:2014-05-01

    CPC classification number: H03H9/21

    Abstract: 本发明提供一种不导致k2Q的降低地增大静电电容,并可降低谐振电阻的振动装置。振动装置(1)的在Y方向上延伸的2N根(N是2以上的整数)音叉臂(3)~(6)在X方向上并排,在设置有2N根音叉臂(3)~(6)的区域中,相对于通过X方向中心且在Y方向上延伸的虚拟线A,一侧的N根音叉臂(3)、(4)的弯曲振动的相位与另一侧的N根音叉臂(6)、(5)的弯曲振动的相位对称。

    压电膜以及压电振子
    30.
    发明公开

    公开(公告)号:CN107112977A

    公开(公告)日:2017-08-29

    申请号:CN201680004869.0

    申请日:2016-01-05

    Abstract: 本发明提供能够充分地确保压电特性并降低应力的压电膜以及压电振子。压电膜含有AlN结晶、在AlN结晶中与Al进行置换的至少一种第一元素、以及具有比第一元素的离子半径小且,Al的离子半径大的离子半径并被添加到AlN结晶的第二元素。

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