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公开(公告)号:CN106508031B
公开(公告)日:2014-04-02
申请号:CN201110012677.3
申请日:2011-09-09
Applicant: 北京京航计算通讯研究所
IPC: G06F17/50
Abstract: 本发明属于可编程逻辑器件测试技术领域,本发明的目的是为了解决FPGA安全性测试需求不足的问题,同时为了提高FPGA测试需求覆盖的充分性和优先级确定的准确性。本发明采用的技术方案为:1)从开发文档、技术文件、芯片手册文档中获取被测FPGA的信息;2)对FPGA工作系统进行定义;3)进行故障模式影响分析;4)进行危害性分析,根据用户需求,也可不进行危害性分析,直接转步骤5);5)确定FPGA工作系统安全性测试需求项。本发明提供的分析方法提高了FPGA测试需求覆盖的充分性和完整性以及测试类型的充分性和完整性。
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公开(公告)号:CN103530207A
公开(公告)日:2014-01-22
申请号:CN201310435975.2
申请日:2013-09-24
Applicant: 北京京航计算通讯研究所
IPC: G06F11/18
Abstract: 本发明属于一种三模冗余措施的验证方法,包括以下步骤:生成经过三模冗余措施的综合后的FPGA网表文件,并选取经过三模冗余措施的关键寄存器的输入-输出;将三模冗余情况分为有效和失效的情况进行考虑;对所有的经过三模冗余措施的寄存器进行输入-输出结构选择并重复步骤(1)~步骤(2),直至所有的寄存器三模冗余有效性的情况均得到验证;根据6种情况分别在门级仿真和时序仿真情况下进行三模冗余措施的有效性验证。其优点是,可以选定关键寄存器进行验证,最终测试结果可判断预测且可观测;既可以模拟实际情况,又可以模拟多种环境条件下的所有情况,可以准确验证三模冗余措施的有效性;验证时间短,操作简单。
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公开(公告)号:CN114610614B
公开(公告)日:2024-07-16
申请号:CN202210228824.9
申请日:2022-03-08
Applicant: 北京京航计算通讯研究所
Abstract: 一种可编程逻辑器件封装模块的安全性测试方法和系统,方法包括以下步骤:针对所述封装模块的每个功能,采用软件故障树分析法和软件失效模式与影响分析法进行故障分析,得到每个功能对应的综合故障树;以每个所述综合故障树中的最小割集为约束条件构建测试用例,所有测试用例构成测试用例集合;采用遗传算法从所述测试用例集合中选择最优测试用例组,所述最优测试用例组对所述可编程逻辑器件的封装模块进行测试,得到所述可编程逻辑器件的封装模块的安全性测试结果。
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公开(公告)号:CN114079562B
公开(公告)日:2023-11-24
申请号:CN202111368157.6
申请日:2021-11-18
Applicant: 北京京航计算通讯研究所
Abstract: 本发明涉及一种基于门限秘密共享的软件定义网络数据安全传输方法,属于网络空间安全技术领域,解决了现有物联网中网络数据传输安全性不足和可靠性差的问题。包括交换机接收到源主机发送的连接请求数据包后发送给控制器;控制器根据历史通信记录和网络拓扑识别是否需要重新选择转发路径;需要则计算得到多条新转发路径和路径权重;源主机接收到目的主机发送的连接请求回复后,运行k‑n门限加密算法对原始数据加密处理,得到n份密文数据,根据当前多条转发路径和路径权重选择k条转发路径发送n份密文数据;当目标主机接收到不重复密文数据的份数大于等于k时,对密文数据解密得到原(56)对比文件Pu Zhao et al..Trusted Link-Separation Multipath Selection forSoftware-Defined Wireless Sensor Networksin Adversarial Environments.InternationalConference on Security and Privacy inDigital Economy.2020,全文.Syed Mohsan Raza et al..ReliabilityAware Multiple Path Installation inSoftware-Defined Networking.Electronics2021.2021,第22卷(第10期),全文.
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公开(公告)号:CN115757153A
公开(公告)日:2023-03-07
申请号:CN202211476761.5
申请日:2022-11-23
Applicant: 北京京航计算通讯研究所
Abstract: 本发明属于嵌入式软件测试领域,涉及一种基于状态机的测试用例生成方法和系统,包括使用数据协议描述语言DPD对接口协议进行描述;基于DPD所描述的接口协议信息和被测系统的软件设计说明书构建状态机并用状态图表示;基于所述状态图定义状态变迁矩阵;基于所述状态变迁矩阵,使用完全变迁路径覆盖算法生成初始测试用例;使用改进的AETG算法对所述初始测试用例进行覆盖率优化得到完整测试用例集。本发明利用自定义数据协议描述语言DPD,基于根据状态机的状态转移图自动生成测试用例,并经过覆盖率优化达到高覆盖率、低重复率的高质量测试用例集。
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公开(公告)号:CN109471761B
公开(公告)日:2022-05-17
申请号:CN201811265820.8
申请日:2018-10-29
Applicant: 北京京航计算通讯研究所
IPC: G06F11/22 , G06F11/263
Abstract: 本发明属于软件测评技术领域,具体涉及一种应用FPGA的嵌入式实时操作系统时间性能测试系统。为准确测量嵌入式实时操作系统的时间性能指标,本发明提供了一种嵌入式操作系统时间性能测量系统,其通过FPGA触发激励信号及测量参数配置,目标机上时间性能测试程序运行,FPGA接收响应信号,FPGA计算时间间隔,时间间隔数据存储和数据据转发至上位机,上位机进行时间性能分析。本发明技术方案采用FPGA测量与目标机测试功能相结合的测试方案,将计时功能与外部激励由FPGA实现,减少测试程序中的系统调用,减小信号延迟时间,提高了嵌入式实时操作系统时间性能测试的灵活性。
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公开(公告)号:CN111143201A
公开(公告)日:2020-05-12
申请号:CN201911300145.2
申请日:2019-12-16
Applicant: 北京京航计算通讯研究所
Abstract: 本发明属于软件测评相关技术领域,具体涉及一种基于Bayes的军用软件质量度量系统,其基于国军标《GJB5236-2004军用软件质量度量》所规定的质量模型,并利用人工智能理论中Bayes的推理网络,提出了一种基于Bayes的军用软件质量度量系统。该系统以概率的形式描述了各个度量元对军用软件质量的影响,并且以概率的形式定量描述了军用软件质量的好坏。对比国内外软件质量度量方案,本发明的技术方案提高军用软件质量度量的准确性、可靠性。
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公开(公告)号:CN111124790A
公开(公告)日:2020-05-08
申请号:CN201911243722.9
申请日:2019-12-06
Applicant: 北京京航计算通讯研究所
IPC: G06F11/26
Abstract: 本发明涉及一种可重用仿真接口模型的生成系统,属于可编程逻辑器件软件的测试与验证领域。所述系统包括:所述信息获取模块用于获取外部接口器件手册信息,将所述信息输出至参数提取模块;所述参数提取模块依据输入信息,分析并提取可扩展参数;所述结构体生成模块用于生成仿真接口模型结构体;所述实体生成模块用于生成仿真接口模型实体;所述组合封装模块用于将所述仿真接口模型结构体以及仿真接口模型结构体组合封装,生成可重用仿真接口模型。与现有技术相比,本发明形成的仿真接口模型具有可重用特性,对可扩展参数进行设置后,可用于其他可编程逻辑器件软件的仿真平台,提高可编程逻辑器件软件仿真平台的搭建效率。
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公开(公告)号:CN109447968A
公开(公告)日:2019-03-08
申请号:CN201811265800.0
申请日:2018-10-29
Applicant: 北京京航计算通讯研究所
IPC: G06T7/00
Abstract: 本发明属于图像区域生长算法测试技术领域,具体涉及一种图像区域生长算法的蜕变测试系统。图像区域生长是实时图像处理的重要功能之一。然而,由于操作不确定性的因素,实际测试中很难获取图像区域生长算法的测试判定。基于此,本发明将蜕变测试系统应用于图像区域生长算法的测试中,通过分析算法的几何属性、数值属性以及算法特性提取出一系列蜕变关系,基于这些蜕变关系形成图像区域生长算法的蜕变测试方法,可以有效地解决图像区域生长算法的测试判定难题。
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公开(公告)号:CN102789227A
公开(公告)日:2012-11-21
申请号:CN201210271600.2
申请日:2012-08-02
Applicant: 北京京航计算通讯研究所
IPC: G05B23/02
Abstract: 本发明属于可编程逻辑器件测试技术领域,具体涉及基于覆盖率统计的可编程逻辑器件仿真测试方法。目的是为了解决目前可编程逻辑器件仿真测试存在无法保证测试充分性的问题。该方法使用DUT和Testbench文件进行覆盖率评估,对被测试可编程逻辑器件开展测试需求分析,分解出测试项和测试子项,并确定仿真测试类型为功能仿真测试;当不满足语句覆盖率和分支覆盖率评估时,分析未覆盖的原因,进一步完善测试平台并分析相关影响域,若满足覆盖率评估,则测试完成。该方法通过对仿真测试后的语句覆盖率和分支覆盖率进行分析,可有效确认出可编程逻辑器件测试的充分性。本方法有效提升了可编程逻辑器件仿真测试技术水平,对提升可编程逻辑器件质量具有重要的意义。
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