公开(公告)号：CN115712576A

公开(公告)日：2023-02-24

申请号：CN202211510958.6

申请日：2022-11-29

Applicant: 北京京航计算通讯研究所

Inventor： 吴俊爽 ,  王嬴超 ,  白云 ,  李皓宇 ,  安鹏伟 ,  曲天润 ,  宋志强 ,  陈俊英 ,  闫宇航 ,  赵菲 ,  康建涛 ,  刘博 ,  张榕

IPC: G06F11/36 ,  G06F16/35 ,  G06F40/289

Abstract: 本发明属于软件测试领域，涉及一种基于开源软件缺陷问题的软件测试类型推荐方法和系统。通过获取开源软件的缺陷列表，构建正交缺陷分类模型确定软件缺陷的正交缺陷类别，基于统计特征进行软件缺陷关键词抽取，构建了开源软件和其对应的软件缺陷、软件缺陷类别、软件缺陷关键词和软件测试类型的异构关联图，使用随机游走算法计算从软件节点游走到测试类型节点的概率，将该概率作为软件测试类型重要性权重，从而实现自动化的软件测试类型推荐，提升软件测试过程的效率和质量。

公开(公告)号：CN114610614B

公开(公告)日：2024-07-16

申请号：CN202210228824.9

申请日：2022-03-08

Applicant: 北京京航计算通讯研究所

Inventor： 王嬴超 ,  陈俊英 ,  刘伟 ,  安鹏伟 ,  赵菲 ,  陈朋 ,  邢喜旺 ,  张榕 ,  吴俊爽 ,  季微微 ,  李春静 ,  曲天润 ,  梁霄 ,  闫宇航

IPC: G06F11/36 ,  G06N3/126

Abstract: 一种可编程逻辑器件封装模块的安全性测试方法和系统，方法包括以下步骤：针对所述封装模块的每个功能，采用软件故障树分析法和软件失效模式与影响分析法进行故障分析，得到每个功能对应的综合故障树；以每个所述综合故障树中的最小割集为约束条件构建测试用例，所有测试用例构成测试用例集合；采用遗传算法从所述测试用例集合中选择最优测试用例组，所述最优测试用例组对所述可编程逻辑器件的封装模块进行测试，得到所述可编程逻辑器件的封装模块的安全性测试结果。

公开(公告)号：CN114610614A

公开(公告)日：2022-06-10

申请号：CN202210228824.9

申请日：2022-03-08

Applicant: 北京京航计算通讯研究所

Inventor： 王嬴超 ,  陈俊英 ,  刘伟 ,  安鹏伟 ,  赵菲 ,  陈朋 ,  邢喜旺 ,  张榕 ,  吴俊爽 ,  季微微 ,  李春静 ,  曲天润 ,  梁霄 ,  闫宇航

IPC: G06F11/36 ,  G06N3/12

Abstract: 一种可编程逻辑器件封装模块的安全性测试方法和系统，方法包括以下步骤：针对所述封装模块的每个功能，采用软件故障树分析法和软件失效模式与影响分析法进行故障分析，得到每个功能对应的综合故障树；以每个所述综合故障树中的最小割集为约束条件构建测试用例，所有测试用例构成测试用例集合；采用遗传算法从所述测试用例集合中选择最优测试用例组，所述最优测试用例组对所述可编程逻辑器件的封装模块进行测试，得到所述可编程逻辑器件的封装模块的安全性测试结果。