公开(公告)号：CN114610614B

公开(公告)日：2024-07-16

申请号：CN202210228824.9

申请日：2022-03-08

Applicant: 北京京航计算通讯研究所

Inventor： 王嬴超 ,  陈俊英 ,  刘伟 ,  安鹏伟 ,  赵菲 ,  陈朋 ,  邢喜旺 ,  张榕 ,  吴俊爽 ,  季微微 ,  李春静 ,  曲天润 ,  梁霄 ,  闫宇航

IPC: G06F11/36 ,  G06N3/126

Abstract: 一种可编程逻辑器件封装模块的安全性测试方法和系统，方法包括以下步骤：针对所述封装模块的每个功能，采用软件故障树分析法和软件失效模式与影响分析法进行故障分析，得到每个功能对应的综合故障树；以每个所述综合故障树中的最小割集为约束条件构建测试用例，所有测试用例构成测试用例集合；采用遗传算法从所述测试用例集合中选择最优测试用例组，所述最优测试用例组对所述可编程逻辑器件的封装模块进行测试，得到所述可编程逻辑器件的封装模块的安全性测试结果。

公开(公告)号：CN114610614A

公开(公告)日：2022-06-10

申请号：CN202210228824.9

申请日：2022-03-08

Applicant: 北京京航计算通讯研究所

Inventor： 王嬴超 ,  陈俊英 ,  刘伟 ,  安鹏伟 ,  赵菲 ,  陈朋 ,  邢喜旺 ,  张榕 ,  吴俊爽 ,  季微微 ,  李春静 ,  曲天润 ,  梁霄 ,  闫宇航

IPC: G06F11/36 ,  G06N3/12

Abstract: 一种可编程逻辑器件封装模块的安全性测试方法和系统，方法包括以下步骤：针对所述封装模块的每个功能，采用软件故障树分析法和软件失效模式与影响分析法进行故障分析，得到每个功能对应的综合故障树；以每个所述综合故障树中的最小割集为约束条件构建测试用例，所有测试用例构成测试用例集合；采用遗传算法从所述测试用例集合中选择最优测试用例组，所述最优测试用例组对所述可编程逻辑器件的封装模块进行测试，得到所述可编程逻辑器件的封装模块的安全性测试结果。