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公开(公告)号：CN118860867A
公开(公告)日：2024-10-29
申请号：CN202410880445.7
申请日：2024-07-02
Applicant: 北京京航计算通讯研究所
Abstract: 本发明涉及一种测试资源自动规划的测试系统，属于嵌入式软件测试技术领域。包括：控制器，用于基于被测系统的需求描述和测试设备描述建立每个被测系统信号对应的测试设备资源规划目标函数及其约束条件进而求解得到测试设备资源的最优规划，将所述最优规划发送给仿真机；仿真机，用于按所述最优规划对测试设备进行配置，并与被测系统UUT相连；还用于将UUT信号的测试结果发送给控制器；测试设备，用于通过仿真机对UUT信号进行测试。该系统基于嵌入式软件系统需求描述和测试设备描述建立测试设备资源规划的多目标约束优化模型，通过求解该模型自动得到测试设备资源的最优规划，提高了规划最优测试设备资源的速度，从而提高了嵌入式软件的测试效率。
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公开(公告)号：CN115757153A
公开(公告)日：2023-03-07
申请号：CN202211476761.5
申请日：2022-11-23
Applicant: 北京京航计算通讯研究所
Abstract: 本发明属于嵌入式软件测试领域，涉及一种基于状态机的测试用例生成方法和系统，包括使用数据协议描述语言DPD对接口协议进行描述；基于DPD所描述的接口协议信息和被测系统的软件设计说明书构建状态机并用状态图表示；基于所述状态图定义状态变迁矩阵；基于所述状态变迁矩阵，使用完全变迁路径覆盖算法生成初始测试用例；使用改进的AETG算法对所述初始测试用例进行覆盖率优化得到完整测试用例集。本发明利用自定义数据协议描述语言DPD，基于根据状态机的状态转移图自动生成测试用例，并经过覆盖率优化达到高覆盖率、低重复率的高质量测试用例集。
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公开(公告)号：CN109471761B
公开(公告)日：2022-05-17
申请号：CN201811265820.8
申请日：2018-10-29
Applicant: 北京京航计算通讯研究所
IPC: G06F11/22 , G06F11/263
Abstract: 本发明属于软件测评技术领域，具体涉及一种应用FPGA的嵌入式实时操作系统时间性能测试系统。为准确测量嵌入式实时操作系统的时间性能指标，本发明提供了一种嵌入式操作系统时间性能测量系统，其通过FPGA触发激励信号及测量参数配置，目标机上时间性能测试程序运行，FPGA接收响应信号，FPGA计算时间间隔，时间间隔数据存储和数据据转发至上位机，上位机进行时间性能分析。本发明技术方案采用FPGA测量与目标机测试功能相结合的测试方案，将计时功能与外部激励由FPGA实现，减少测试程序中的系统调用，减小信号延迟时间，提高了嵌入式实时操作系统时间性能测试的灵活性。
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公开(公告)号：CN109344078A
公开(公告)日：2019-02-15
申请号：CN201811265805.3
申请日：2018-10-29
Applicant: 北京京航计算通讯研究所
IPC: G06F11/36
Abstract: 本发明属于软件测评技术领域，具体涉及一种应用FPGA的嵌入式实时操作系统时间性能测试方法。为准确测量嵌入式实时操作系统的时间性能指标，本发明提供了一种嵌入式操作系统时间性能测量方法，包括步骤：FPGA触发激励信号及测量参数配置，目标机上时间性能测试程序运行，FPGA接收响应信号，FPGA计算时间间隔，时间间隔数据存储和数据据转发至上位机，上位机进行时间性能分析。本发明技术方案采用FPGA测量与目标机测试功能相结合的测试方法，将计时功能与外部激励由FPGA实现，减少测试程序中的系统调用，减小信号延迟时间，提高了嵌入式实时操作系统时间性能测试的灵活性。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN117608991A
公开(公告)日：2024-02-27
申请号：CN202311585756.2
申请日：2023-11-24
Applicant: 北京京航计算通讯研究所
Abstract: 本发明涉及一种智能算法平台的性能测试方法和工具，属于软件测试领域。方法包括：构建文本序列数据集，并使用改进遗传算法的对抗样本生成方法基于各文本序列生成相应对抗序列数据集；分别在基准智能算法平台和待测智能算法平台运行待训练文本分类模型，得到基准智能算法平台性能指标值和待测智能算法平台的性能测试结果；在待测智能算法平台使用在该平台训练好的文本分类模型对对抗序列数据集进行分类预测，得到对抗预测结果；基于基准智能算法平台性能指标值、待测智能算法平台的性能测试结果和对抗预测结果得到待测智能算法平台的性能评价结果。本发明方法解决了现有工具不能对平台训练得到的智能算法模型的对抗鲁棒性进行评价的问题。
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公开(公告)号：CN115712576A
公开(公告)日：2023-02-24
申请号：CN202211510958.6
申请日：2022-11-29
Applicant: 北京京航计算通讯研究所
IPC: G06F11/36 , G06F16/35 , G06F40/289
Abstract: 本发明属于软件测试领域，涉及一种基于开源软件缺陷问题的软件测试类型推荐方法和系统。通过获取开源软件的缺陷列表，构建正交缺陷分类模型确定软件缺陷的正交缺陷类别，基于统计特征进行软件缺陷关键词抽取，构建了开源软件和其对应的软件缺陷、软件缺陷类别、软件缺陷关键词和软件测试类型的异构关联图，使用随机游走算法计算从软件节点游走到测试类型节点的概率，将该概率作为软件测试类型重要性权重，从而实现自动化的软件测试类型推荐，提升软件测试过程的效率和质量。
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公开(公告)号：CN118860868A
公开(公告)日：2024-10-29
申请号：CN202410880447.6
申请日：2024-07-02
Applicant: 北京京航计算通讯研究所
Abstract: 本发明涉及一种面向嵌入式软件的测试设备资源自动规划方法，属于嵌入式软件测试技术领域。该方法包括以下步骤：将被测系统信号与测试设备信号相映射得到匹配评价矩阵；基于匹配评价矩阵建立测试设备资源规划目标函数，基于测试设备资源规划目标函数及其约束条件建立多目标约束优化测试设备资源规划模型；基于所述多目标约束优化测试设备资源规划模型建立适应度值函数，通过粒子群算法求解得到测试设备资源的最优规划。该方法基于嵌入式软件系统需求描述和测试设备描述建立测试设备资源规划的多目标约束优化模型，通过求解该模型自动得到测试设备资源的最优规划，提高了规划最优测试设备资源的速度，从而提高了嵌入式软件的测试效率。
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公开(公告)号：CN109344078B
公开(公告)日：2022-05-17
申请号：CN201811265805.3
申请日：2018-10-29
Applicant: 北京京航计算通讯研究所
IPC: G06F11/36
Abstract: 本发明属于软件测评技术领域，具体涉及一种应用FPGA的嵌入式实时操作系统时间性能测试方法。为准确测量嵌入式实时操作系统的时间性能指标，本发明提供了一种嵌入式操作系统时间性能测量方法，包括步骤：FPGA触发激励信号及测量参数配置，目标机上时间性能测试程序运行，FPGA接收响应信号，FPGA计算时间间隔，时间间隔数据存储和数据据转发至上位机，上位机进行时间性能分析。本发明技术方案采用FPGA测量与目标机测试功能相结合的测试方法，将计时功能与外部激励由FPGA实现，减少测试程序中的系统调用，减小信号延迟时间，提高了嵌入式实时操作系统时间性能测试的灵活性。
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公开(公告)号：CN109471761A
公开(公告)日：2019-03-15
申请号：CN201811265820.8
申请日：2018-10-29
Applicant: 北京京航计算通讯研究所
IPC: G06F11/22 , G06F11/263
Abstract: 本发明属于软件测评技术领域，具体涉及一种应用FPGA的嵌入式实时操作系统时间性能测试系统。为准确测量嵌入式实时操作系统的时间性能指标，本发明提供了一种嵌入式操作系统时间性能测量系统，其通过FPGA触发激励信号及测量参数配置，目标机上时间性能测试程序运行，FPGA接收响应信号，FPGA计算时间间隔，时间间隔数据存储和数据据转发至上位机，上位机进行时间性能分析。本发明技术方案采用FPGA测量与目标机测试功能相结合的测试方案，将计时功能与外部激励由FPGA实现，减少测试程序中的系统调用，减小信号延迟时间，提高了嵌入式实时操作系统时间性能测试的灵活性。
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