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公开(公告)号：CN114253790B
公开(公告)日：2024-11-08
申请号：CN202111357769.5
申请日：2021-11-15
申请人： 佛山巨晟微电子有限公司
发明人： 王浩远
IPC分类号： G06F11/263 , G06F11/273
摘要： 本发明公开了一种MCU双线调试电路及MCU双线调试方法，MCU双线调试电路包括通信协议处理模块和事件处理模块；其中，通信协议处理模块用于按照通信协议与片外的调试器进行信息交互；事件处理模块与通信协议处理模块电性连接，事件处理模块用于根据接收到的调试指令执行相应的动作，包括控制MCU的CPU、访问MCU内部的SRAM、访问MCU内部的FLASH中的至少一种，并将内部数据通过通信协议处理模块传输至调试器。根据本发明的MCU双线调试电路，通信协议处理模块提供了高可靠性的通信交互方式，且只使用两个IO接口即可完成通信；事件处理模块提供了丰富的调试功能，方便软件开发人员进行程序调试。
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公开(公告)号：CN118820071A
公开(公告)日：2024-10-22
申请号：CN202410755814.X
申请日：2024-06-12
申请人： 西安万像电子科技有限公司
发明人： 段瑞楠
IPC分类号： G06F11/36 , G06F11/263
摘要： 本申请实施例提供一种零终端测试方法，包括：在检测到与服务器通过USB端口连接后，向服务器发送生产测试USB信息；接收服务器发送的包括生产测试软件程序，以及安装生产测试软件程序的DDR的地址的生产测试软件下载信息；根据DDR的地址对应的位置安装生产测试软件程序；运行生产测试软件程序；在检测到生产测试软件程序运行成功后，执行重启操作，以删除DDR的地址对应的位置中安装的生产测试软件程序。其中，零终端在执行测试时，会将生产测试软件程序安装在DDR中，由于DDR是易失性存储器，在掉电后里面存储的内容即会丢失，并且DDR无需像永久性存储介质一样进行烧录，从而可以缩短零终端的测试时间，提升了零终端的生产效率。
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公开(公告)号：CN118819974A
公开(公告)日：2024-10-22
申请号：CN202410828701.8
申请日：2024-06-25
申请人： 苏州国芯科技股份有限公司
IPC分类号： G06F11/22 , G06F11/263
摘要： 本申请公开了一种磁盘阵列芯片的测试方法及装置，在执行该方法时，上位机首先将测试程序下载至待测磁盘阵列芯片中；接着待测磁盘阵列芯片根据测试程序对磁盘进行测试，得到待测磁盘阵列芯片的测试数据；然后待测芯片基台将测试数据发送给上位机；最后上位机将预先存储的待测磁盘阵列芯片的数据标准值与所述测试数据进行比对计算，进而判断待测磁盘阵列芯片测试是否通过。通过上述方式，通过上位机与待测芯片基台之间的交互，实现对待测磁盘阵列芯片的测试，并通过上位机对测试数据进行计算分析待测磁盘阵列芯片的测试结果，不需要人工去分析和判断，缩短了对待测磁盘阵列芯片测试时间，进而提高磁盘阵列芯片的测试效率。
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公开(公告)号：CN118779175A
公开(公告)日：2024-10-15
申请号：CN202410804739.1
申请日：2024-06-20
申请人： 上海壁仞科技股份有限公司
发明人： 请求不公布姓名
IPC分类号： G06F11/263 , G06F11/273
摘要： 本申请提供一种验证代理生成方法、装置、电子设备和存储介质，涉及芯片设计制造技术领域，包括：对待测试器件的微架构文档进行解析，提取所述待测试器件的接口信息；所述接口信息包含域段约束信息；基于验证代理对应的组件类模板文件以及所述接口信息，生成所述验证代理中各个组件对应的代码，以及事务数据包对应的代码；所述事务数据包对应的代码包含所述域段约束信息对应的代码；基于各个组件对应的代码，以及所述事务数据包对应的代码，确定所述验证代理对应的代码。本申请提供的方法和装置，提高了待测试器件的验证效率。
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公开(公告)号：CN118642907B
公开(公告)日：2024-10-15
申请号：CN202411116825.X
申请日：2024-08-14
申请人： 北京开源芯片研究院
IPC分类号： G06F11/263 , G06F11/22 , G06F9/30
摘要： 本发明实施例提供一种异常指令生成方法、装置、电子设备及可读介质，涉及计算机技术领域。该方法中，在指令流生成环节中，基于预设的指令流配置文件中的目标配置项，确定当前的待生成指令存在的异常指令形式，作为目标异常形式，以及，获取为待生成指令设置的异常概率；目标配置项是为待生成指令设置的配置项，异常指令形式为不符合预设指令架构规定的指令约束条件的指令形式。在异常概率表征将待生成指令作为异常指令生成的情况下，基于目标异常形式以及目标配置项，生成符合目标异常形式的待生成指令。这样，可以降低人工成本，提高实现效率，进而提高验证操作的整体效率。
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公开(公告)号：CN118708424A
公开(公告)日：2024-09-27
申请号：CN202410761302.4
申请日：2024-06-13
申请人： 上海先楫半导体科技有限公司
IPC分类号： G06F11/263 , G06F11/273 , G06V10/776 , G06V10/72 , G06V10/28
摘要： 本申请提供用于摄像头接口处理器的验证设备、方法、终端、介质及程序产品，本发明的图像输出技术提供了一种直观的验证手段，能够迅速识别摄像头接口处理器存储的数据准确性。通过改进验证方法，即使是非专业人士也能快速理解验证结果；通过自动化和智能化技术，减少手动操作步骤，使验证过程更加简洁高效；减少对特定硬件或软件的依赖，提高验证的灵活性和可移植性；减少因像素存储顺序等技术细节导致的误判，提高验证的准确性等。此外，本发明技术具备高度的适应性，支持不同尺寸的图像以及多样化的数据格式，能够生成与之对应的图片文件。通过保存原始图像数据及其处理后的版本，本发明为验证人员提供了一个更为便捷的工具，以检验设计是否满足预期标准，以及图像处理效果是否达到了预定的质量要求。
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公开(公告)号：CN118605211A
公开(公告)日：2024-09-06
申请号：CN202410635373.X
申请日：2024-05-21
申请人： 小米汽车科技有限公司
发明人： 王斌
IPC分类号： G05B17/02 , G06F11/22 , G06F11/263
摘要： 本公开提供一种仿真测试方法，包括：获取待仿真数据；获取待仿真数据；基于待仿真数据，确定仿真台架集群中与待仿真数据匹配的第一仿真台架；利用第一仿真台架，对待仿真数据进行处理器在环测试仿真。本公开的方法，通过确定仿真台架集群中与待仿真数据匹配的第一仿真台架，进而利用第一仿真台架，对待仿真数据进行处理器在环测试仿真，从而实现一种处理器在环(PiL)仿真类型的仿真验证方法，同时可以节约仿真资源和提高仿真效率。
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公开(公告)号：CN118585385A
公开(公告)日：2024-09-03
申请号：CN202410570780.7
申请日：2024-05-09
申请人： 北京城建智控科技股份有限公司
IPC分类号： G06F11/22 , G06F11/263
摘要： 本发明公开了一种硬件测试装置、车载系统、测试平台，该硬件测试装置包括电源转换单元、待测硬件机笼、采集控制单元和通信接口单元，其中，电源转换单元分别给待测硬件机笼、采集控制单元和通信接口单元供电，待测硬件机笼中并行设计有多个用于安装待测硬件的槽位，上位机通过通信接口单元所集成的接口能够对待测硬件进行测试，然后通过采集控制单元分析结果，并且采集控制单元也能够对待测硬件进行测试，再通过上位机分析结果，集成设计的通信接口类型和槽位均能够降低测试环境的搭建复杂度和搭建成本，并且还可以通过采集控制单元和通信接口单元等设备提高硬件测试的便捷性、兼容性和测试效率，同时还可以降低测试装置的维护成本。
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