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公开(公告)号:CN120031011A
公开(公告)日:2025-05-23
申请号:CN202510067172.9
申请日:2025-01-15
Applicant: 北京京航计算通讯研究所
IPC: G06F40/186 , G06F40/16 , G06F11/3668 , G06F16/35
Abstract: 本发明涉及一种软件测试需求的获取方法,属于软件测试技术领域,解决了现有技术中软件测试需求覆盖范围不全面、安全性低以及分解效率低的问题。获取需求规格说明文档,提取所述需求规格说明文档中的章节名称以及章节内容;提取所述章节名称中的第一关键词集合,提取所述章节内容中的实体类别和第二关键词集合,基于所述第一关键词集合、所述实体类别和所述第二关键词集合从专家知识库中获取与所述第二关键词集合匹配的软件测试模板,并将所述软件测试模板作为该需求规格说明文档的软件测试需求。实现了一种覆盖范围广、安全性高且需求分解效率高的软件测试需求获取方法。
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公开(公告)号:CN111124897B
公开(公告)日:2023-01-10
申请号:CN201911244969.2
申请日:2019-12-06
Applicant: 北京京航计算通讯研究所
IPC: G06F11/36
Abstract: 本发明涉及一种可重用仿真接口模型的生成方法,属于可编程逻辑器件软件的测试与验证领域。所述方法包括以下步骤:步骤1:获取接口协议、时序及功能描述;步骤2:提取可扩展参数;步骤3:构建参数控制体;步骤4:实体描述;步骤5组合封装。与现有技术相比,本发明形成的仿真接口模型具有可重用特性,对可扩展参数进行设置后,可用于其他可编程逻辑器件软件的仿真平台,提高可编程逻辑器件软件仿真平台的搭建效率。
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公开(公告)号:CN106887982B
公开(公告)日:2019-01-22
申请号:CN201510939836.2
申请日:2015-12-15
Applicant: 北京京航计算通讯研究所
Inventor: 李卓 , 朱琳 , 张国宇 , 陈朋 , 孟伟 , 张哲 , 郑金艳 , 王栋 , 李丽华 , 张清 , 彭鸣 , 杨源 , 姚可成 , 冯耿 , 宋文 , 康建涛 , 赵菲 , 吕方雷 , 盛凯南 , 曾丽婷 , 王巍
IPC: H02P8/14
Abstract: 本发明实施例公开的一种基于FPGA的步进电机速度控制方法,涉及步进电机速度控制技术领域,能够实现在FPGA中使用单一控制结构对步进电机的速度进行控制。该方法计算目标角度值A1与当前角度值A0的步差绝对值X=|A1-A0|;当步差绝对值0<X≤M时,等待时间T后发出一次转动控制信号,然后X=X-1,若T<T1,则T=T+ΔT,若T≥T1,则T=T,当步差绝对值X>M时,等待时间T后发出一次转动控制信号,然后X=X-1,若T>T2,则T=T-ΔT,若T≤T2,则T=T,当X=0时,控制结束,转动停止,主要用于步进电机速度控制。
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公开(公告)号:CN109061448A
公开(公告)日:2018-12-21
申请号:CN201811265842.4
申请日:2018-10-29
Applicant: 北京京航计算通讯研究所
IPC: G01R31/28
CPC classification number: G01R31/2851
Abstract: 本发明属于集成电路测试技术领域,具体涉及一种基于模块化激励模型的集成电路测试激励生成系统。本发明应用时间轴配置方法产生与测试用例对应的任务点,通过配置任务点,形成包含激励模型的激励文件,实现激励信号的生成。并使任务点对应测试用例,实现对测试用例的可视化管理和批量执行。不仅解决了现有方案中人工成本大,调试复杂的矛盾,而且配置方式简单,适用于ASIC、SOC、FPGA等集成电路的仿真测试。
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公开(公告)号:CN103631317A
公开(公告)日:2014-03-12
申请号:CN201310435972.9
申请日:2013-09-24
Applicant: 北京京航计算通讯研究所
IPC: G06F1/04
Abstract: 本发明属于一种抗单粒子翻转的复位计数方法,它包括,根据定时所需要的时间以及系统时钟的周期,确定复位定时计数器的限定值以及计数器的基本位数,根据系统所需要的可靠程度,在计数器基本位数基础上扩展三位至八位,作为扩展位,将基本位与扩展位之和最终确定为所用计数器的位数;将计数器初始化;每个系统时钟周期刷新定时器。其优点是,当发生单粒子翻转事件使计数器的任意一个位由1变为0时,计数器的值都不会再出现小于限定值的情况。另外,由于计数器的值在每个系统时钟周期都会刷新一次,即使发生了单粒子翻转,其状态会在下一个系统时钟周期刷新回原值,不会产生累积效应。
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公开(公告)号:CN114490396B
公开(公告)日:2023-05-05
申请号:CN202210103297.9
申请日:2022-01-27
Applicant: 北京京航计算通讯研究所
IPC: G06F11/36 , G06F8/10 , G06F40/194 , G06F40/216 , G06F40/289
Abstract: 本发明涉及一种软件测试需求挖掘方法和系统,包括以下步骤:获取不同类型软件的故障描述信息,基于所述故障描述信息采用基于均值漂移聚类的故障树分析法建立软件故障模式知识库,所述软件故障模式知识库包括软件类型、软件功能、故障模式和测试点;根据待测软件的软件类型和软件功能,在软件故障模式知识库中查找与待测软件功能对应的故障模式和测试点,对于每个与待测软件功能对应的测试点,采用相似度匹配算法判断所述测试点是否存在于待测软件功能的测试需求文本中,若不存在,则将该测试点及对应的故障模式推送给测试人员。
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公开(公告)号:CN111124790B
公开(公告)日:2023-01-10
申请号:CN201911243722.9
申请日:2019-12-06
Applicant: 北京京航计算通讯研究所
IPC: G06F11/26
Abstract: 本发明涉及一种可重用仿真接口模型的生成系统,属于可编程逻辑器件软件的测试与验证领域。所述系统包括:所述信息获取模块用于获取外部接口器件手册信息,将所述信息输出至参数提取模块;所述参数提取模块依据输入信息,分析并提取可扩展参数;所述结构体生成模块用于生成仿真接口模型结构体;所述实体生成模块用于生成仿真接口模型实体;所述组合封装模块用于将所述仿真接口模型结构体以及仿真接口模型结构体组合封装,生成可重用仿真接口模型。与现有技术相比,本发明形成的仿真接口模型具有可重用特性,对可扩展参数进行设置后,可用于其他可编程逻辑器件软件的仿真平台,提高可编程逻辑器件软件仿真平台的搭建效率。
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公开(公告)号:CN112463642B
公开(公告)日:2021-08-03
申请号:CN202011487626.1
申请日:2020-12-16
Applicant: 北京京航计算通讯研究所
Abstract: 本发明涉及一种基于故障模式的软件设计缺陷核查方法及系统,方法包括:根据软件系统中各配置项软件执行任务的具体方式,得到各配置项软件的功能模式;获取与软件系统相关软件的历史缺陷数据,经过数据处理后,建立故障数据集合;结合各配置项软件的功能模式和故障数据集合挖掘与功能模式对应的故障模式,形成故障模式集;根据故障模式集建立基于文本查询的缺陷核查模型;通过所述缺陷核查模型将需核查的软件功能与故障模式相匹配,核查软件系统中的设计缺陷。本发明通过构建缺陷核查模型,以核查出该系统各配置项的缺陷,达到优化测试资源分配和提高软件产品质量的目的。
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公开(公告)号:CN109408392A
公开(公告)日:2019-03-01
申请号:CN201811314440.9
申请日:2018-11-06
Applicant: 北京京航计算通讯研究所
IPC: G06F11/36
Abstract: 本发明属于软件持续集成与软件工程技术领域,具体涉及一种基于持续集成技术的软件集成测试方法,包括:接收外部输入的各类参数信息;提供代码推送、代码推送标识生成;检测推送标识,查看代码是否有更新,同时读取输入的测试参数作为测试工具的运行参数,然后调用测试工具进行软件测试,在测试工具运行完成后将测试结果存储到指定位置;将测试工具生成的各种测试结果进行发布。该技术方案对软件测试工具进行集中化自动调度管理,可有效解决目前软件测试工具使用方式分散、使用过程繁琐、自动化程度低以及许可证冲突的问题。
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公开(公告)号:CN108153669A
公开(公告)日:2018-06-12
申请号:CN201711225458.7
申请日:2017-11-29
Applicant: 北京京航计算通讯研究所
Inventor: 郑金艳 , 张清 , 陈朋 , 安鹏伟 , 刘伟 , 魏伟波 , 孙文靖 , 康建涛 , 高晓琼 , 张依漪 , 孟琪 , 张骢 , 陈盼 , 季微微 , 李昂 , 马培培 , 李志刚 , 王赢超 , 李春静 , 王莹
IPC: G06F11/36
CPC classification number: G06F11/3684 , G06F11/3676 , G06F11/3688
Abstract: 本发明属于FPGA软件仿真测试技术领域,具体涉及一种应用时间轴配置方式实现FPGA软件仿真任务调度的方法。本发明将FPGA软件测试用例以任务调度的方式进行实现,以任务点的方式对任务调度进行配置。其中任务点布置在坐标轴上,该坐标轴是由横向器件和纵向时间组成的二维坐标轴,通过采用对坐标轴中每个目标按照时序要求配置任务点的方式,实现测试用例的系统化和时序化操作,进而提高FPGA软件仿真任务调度的系统配置能力,提高测试用例批处理能力。
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