基于细粒度特征语义网络的系统接口时序知识分析系统

    公开(公告)号:CN109460362A

    公开(公告)日:2019-03-12

    申请号:CN201811314437.7

    申请日:2018-11-06

    Abstract: 本发明属于软件工程技术领域,具体涉及一种基于细粒度特征语义网络的系统接口时序知识分析系统,其包括:构建嵌入式系统测试故障集;在嵌入式系统测试故障集中搜索接口关键问题,分析提取与时序相关的故障,初步形成时序相关的接口故障集;在嵌入式系统测试故障集中搜索与时序关键的故障,分析提取与接口相关的故障,形成接口相关的时序故障集;两个故障集合并形成接口时序故障集;根据时序故障库中的故障类型,利用基于细粒度特征语义网络的方法,提取接口时序关键影响因素,形成嵌入式系统接口时序知识集。由此得到的嵌入式系统接口时序知识可实现测试知识的继承,且具有可扩展性,便于测试知识的推送,提升测试效率。

    一种抗单粒子翻转的复位计数方法

    公开(公告)号:CN103631317A

    公开(公告)日:2014-03-12

    申请号:CN201310435972.9

    申请日:2013-09-24

    Inventor: 杨楠 张清 彭鸣

    Abstract: 本发明属于一种抗单粒子翻转的复位计数方法,它包括,根据定时所需要的时间以及系统时钟的周期,确定复位定时计数器的限定值以及计数器的基本位数,根据系统所需要的可靠程度,在计数器基本位数基础上扩展三位至八位,作为扩展位,将基本位与扩展位之和最终确定为所用计数器的位数;将计数器初始化;每个系统时钟周期刷新定时器。其优点是,当发生单粒子翻转事件使计数器的任意一个位由1变为0时,计数器的值都不会再出现小于限定值的情况。另外,由于计数器的值在每个系统时钟周期都会刷新一次,即使发生了单粒子翻转,其状态会在下一个系统时钟周期刷新回原值,不会产生累积效应。

    一种基于FMECA的FPGA安全性需求分析方法

    公开(公告)号:CN106508031B

    公开(公告)日:2014-04-02

    申请号:CN201110012677.3

    申请日:2011-09-09

    Abstract: 本发明属于可编程逻辑器件测试技术领域,本发明的目的是为了解决FPGA安全性测试需求不足的问题,同时为了提高FPGA测试需求覆盖的充分性和优先级确定的准确性。本发明采用的技术方案为:1)从开发文档、技术文件、芯片手册文档中获取被测FPGA的信息;2)对FPGA工作系统进行定义;3)进行故障模式影响分析;4)进行危害性分析,根据用户需求,也可不进行危害性分析,直接转步骤5);5)确定FPGA工作系统安全性测试需求项。本发明提供的分析方法提高了FPGA测试需求覆盖的充分性和完整性以及测试类型的充分性和完整性。

    基于细粒度特征语义网络的系统接口时序知识分析方法

    公开(公告)号:CN109460478A

    公开(公告)日:2019-03-12

    申请号:CN201811314413.1

    申请日:2018-11-06

    Abstract: 本发明属于软件工程技术领域,具体涉及一种基于细粒度特征语义网络的系统接口时序知识分析方法,其包括:构建嵌入式系统测试故障集;在嵌入式系统测试故障集中搜索接口关键问题,分析提取与时序相关的故障,初步形成时序相关的接口故障集;在嵌入式系统测试故障集中搜索与时序关键的故障,分析提取与接口相关的故障,形成接口相关的时序故障集;两个故障集合并形成接口时序故障集;根据时序故障库中的故障类型,利用基于细粒度特征语义网络的方法,提取接口时序关键影响因素,形成嵌入式系统接口时序知识集。由此得到的嵌入式系统接口时序知识可实现测试知识的继承,且具有可扩展性,便于测试知识的推送,提升测试效率。

    基于覆盖率统计的可编程逻辑器件仿真测试方法

    公开(公告)号:CN102789227A

    公开(公告)日:2012-11-21

    申请号:CN201210271600.2

    申请日:2012-08-02

    Abstract: 本发明属于可编程逻辑器件测试技术领域,具体涉及基于覆盖率统计的可编程逻辑器件仿真测试方法。目的是为了解决目前可编程逻辑器件仿真测试存在无法保证测试充分性的问题。该方法使用DUT和Testbench文件进行覆盖率评估,对被测试可编程逻辑器件开展测试需求分析,分解出测试项和测试子项,并确定仿真测试类型为功能仿真测试;当不满足语句覆盖率和分支覆盖率评估时,分析未覆盖的原因,进一步完善测试平台并分析相关影响域,若满足覆盖率评估,则测试完成。该方法通过对仿真测试后的语句覆盖率和分支覆盖率进行分析,可有效确认出可编程逻辑器件测试的充分性。本方法有效提升了可编程逻辑器件仿真测试技术水平,对提升可编程逻辑器件质量具有重要的意义。

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