公开(公告)号：CN106508031B

公开(公告)日：2014-04-02

申请号：CN201110012677.3

申请日：2011-09-09

Applicant: 北京京航计算通讯研究所

Inventor： 杨楠 ,  刘军 ,  李昆 ,  刘伟 ,  郑金艳 ,  王栋 ,  张国宇 ,  彭鸣 ,  韩旭东 ,  程庆伟 ,  李慧君 ,  王颖

IPC: G06F17/50

Abstract: 本发明属于可编程逻辑器件测试技术领域，本发明的目的是为了解决FPGA安全性测试需求不足的问题，同时为了提高FPGA测试需求覆盖的充分性和优先级确定的准确性。本发明采用的技术方案为：1)从开发文档、技术文件、芯片手册文档中获取被测FPGA的信息；2)对FPGA工作系统进行定义；3)进行故障模式影响分析；4)进行危害性分析，根据用户需求，也可不进行危害性分析，直接转步骤5)；5)确定FPGA工作系统安全性测试需求项。本发明提供的分析方法提高了FPGA测试需求覆盖的充分性和完整性以及测试类型的充分性和完整性。