公开(公告)号：CN102789227A

公开(公告)日：2012-11-21

申请号：CN201210271600.2

申请日：2012-08-02

Applicant: 北京京航计算通讯研究所

Inventor： 郑金艳 ,  刘军 ,  张津荣 ,  于林宇 ,  李昆 ,  刘伟 ,  王栋 ,  杨楠 ,  张国宇 ,  彭鸣 ,  张清 ,  李丽华 ,  陈朋 ,  毕文敬

IPC: G05B23/02

Abstract: 本发明属于可编程逻辑器件测试技术领域，具体涉及基于覆盖率统计的可编程逻辑器件仿真测试方法。目的是为了解决目前可编程逻辑器件仿真测试存在无法保证测试充分性的问题。该方法使用DUT和Testbench文件进行覆盖率评估，对被测试可编程逻辑器件开展测试需求分析，分解出测试项和测试子项，并确定仿真测试类型为功能仿真测试；当不满足语句覆盖率和分支覆盖率评估时，分析未覆盖的原因，进一步完善测试平台并分析相关影响域，若满足覆盖率评估，则测试完成。该方法通过对仿真测试后的语句覆盖率和分支覆盖率进行分析，可有效确认出可编程逻辑器件测试的充分性。本方法有效提升了可编程逻辑器件仿真测试技术水平，对提升可编程逻辑器件质量具有重要的意义。