半导体装置
    21.
    发明公开
    半导体装置 审中-公开

    公开(公告)号:CN118335715A

    公开(公告)日:2024-07-12

    申请号:CN202410031426.7

    申请日:2024-01-09

    Abstract: 一种半导体装置包括:装置结构,其包括第一半导体衬底,并且具有在第一方向上延伸的有源图案;导电贯穿件,其电连接到前布线层并且穿透第一半导体衬底,其中第一半导体衬底具有非平坦化的下表面,在非平坦化的下表面中,导电贯穿件周围的外围区域向下弯曲;第一接合结构,其具有平坦化的绝缘层,平坦化的绝缘层设置在第一半导体衬底的第二表面上并且具有平坦化的上表面。

    制造半导体器件的方法
    22.
    发明授权

    公开(公告)号:CN107665855B

    公开(公告)日:2023-11-14

    申请号:CN201710610070.2

    申请日:2017-07-25

    Abstract: 本公开涉及制造半导体器件的方法。一种制造半导体器件的方法包括:在衬底上形成第一绝缘夹层;图案化第一绝缘夹层以形成多个第一开口;在被图案化的第一绝缘夹层中的第一开口内形成牺牲图案;图案化牺牲图案和被图案化的第一绝缘夹层以在牺牲图案和被图案化的第一绝缘夹层中形成多个第二开口;形成多个金属线,金属线在各自的第二开口中;去除牺牲图案的剩余部分中的至少一些以在金属线中的至少一些之间形成空隙;以及在金属线的顶表面、被图案化的第一绝缘夹层的顶表面、以及金属线的和被图案化的第一绝缘夹层的暴露的侧表面上共形地形成衬垫层。

    半导体装置
    24.
    发明公开

    公开(公告)号:CN109904140A

    公开(公告)日:2019-06-18

    申请号:CN201811255948.6

    申请日:2018-10-26

    Abstract: 提供了半导体装置。半导体装置可以包括基底、位于基底上的第一绝缘膜、位于第一绝缘膜中的下金属层和位于第一绝缘膜上的第二绝缘膜。下金属层的一部分可以位于第二绝缘膜中,第二绝缘膜可以包括面对基底的下表面和与下表面相对的上表面,并且第二绝缘膜的上表面可以是向上凸出的。半导体装置还可以包括位于第二绝缘膜上的限定凹部的一部分的阻挡介电膜和位于凹部的由阻挡介电膜限定的所述一部分中并与下金属层电连接的过孔金属层。第一绝缘膜和第二绝缘膜可以在竖直方向上顺序地堆叠在基底上,并且下金属层的上表面与基底之间的最长竖直距离可以小于第二绝缘膜的上表面与基底之间的最长竖直距离。

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