公开(公告)号：CN116465271A

公开(公告)日：2023-07-21

申请号：CN202310623978.2

申请日：2023-05-30

Applicant: 上海精密计量测试研究所

Inventor： 余华昌 ,  毛志勇 ,  陈继刚 ,  祝卿 ,  肖寅枫 ,  沈惠峰 ,  范凤军

IPC: G01B3/00 ,  G01B11/02 ,  G01B11/08

Abstract: 本发明提供了一种用于光学轴类测量仪校准的阶梯型变径标准轴规，其特征在于，其由两种不同结构式样的阶梯型变径标准轴规组成，第一种阶梯型变径标准轴规的结构式样以中间的圆柱为最大轴径，沿上下两侧轴向逐步减小轴径，直至两端为最小轴径，第二种阶梯型变径标准轴规的结构式样以靠近下端部的第二、第三或第四个圆柱为最大轴径，向上沿轴向逐步减小轴径，两端为最小轴径。本发明的用于光学轴类测量仪校准的阶梯型变径标准轴规可用于对所有的光学轴类测量仪进行校准，可同时对轴径和轴长的精度进行校准，具有通用性强、测量准确度高、工作可靠等优点，实用性显著。

公开(公告)号：CN116090190A

公开(公告)日：2023-05-09

申请号：CN202211630676.X

申请日：2022-12-19

Applicant: 上海精密计量测试研究所

Inventor： 赵立有 ,  王昆黍 ,  孔泽斌 ,  汪波 ,  王骏 ,  刘寅傲

IPC: G06F30/20 ,  G06F119/04

Abstract: 本发明提供一种元器件加速寿命预测模型评估方法，包括如下步骤：S1、利用所有数据建立可靠度模型R*(t)；设T1,T2,T3,…,TS为产品的加速应力；S2、将加速应力以S‑1：1的比例进行划分，将数据划分为训练数据和测试数据；S3、根据每个组合中的训练数据建立可靠度模型，推导测试数据对应应力的可靠度函数，记为R(t)；利用测试数据单独进行可靠度建模，将所得的可靠度函数定为标准可靠度函数，记为R0(t)；S4、将所有组合的R(t)与R0(t)进行比较，若误差均在给定的阈值范围内，即模型R*(t)准确。本发明为加速寿命预测模型的准确性评估问题提供了一种新的思路。

公开(公告)号：CN115863082A

公开(公告)日：2023-03-28

申请号：CN202211503137.X

申请日：2022-11-28

Applicant: 上海精密计量测试研究所

Inventor： 陈炜 ,  赵嫚 ,  张瑾 ,  李增霖 ,  王帆

IPC: H01H9/26 ,  H01H9/02 ,  G01R1/20 ,  G01R35/00

Abstract: 本发明公开了一种用于数字多用表的程控开关，包括：4个直流接触器和串口继电器IO控制模块(4路)；程控开关外壳为不锈钢机箱，机箱上为4进4出的香蕉插头。香蕉插头使用导线连接到对应的接触器，接触器上另一路用导线连接到对应的另一个香蕉插头上，IO控制器使用IO控制线连接到接触器的控制端，使得计量人员可以使用串口指令打开关闭相应的通路。程控开关具有体积小、重量轻、便携、控制方便、防止损坏被测仪表等优点，具备实验室和现场两用的特点，并可根据现场实际要求，改变多路开关工装结构以适应不同应用场景的多功能数表的校准，可支持大电流和宽量程电压测量，当开关转换时无需关注大小电流的影响，真正实现了全自动控制。

公开(公告)号：CN115695245A

公开(公告)日：2023-02-03

申请号：CN202211240749.4

申请日：2022-10-11

Applicant: 上海精密计量测试研究所

Inventor： 汪桃林 ,  张威 ,  圣冬冬 ,  范凤军 ,  陈斌

IPC: H04L43/0823 ,  H04L41/0677

Abstract: 本发明提供了一种直接射频采样IQ信号的无线电修正指令误码检测方法，直接射频采样IQ信号的无线电修正指令误码检测技术将雷达间断辐射射频信号直接采集数字化下变频分为I、Q两路信号，仅通过一级解调即可获得调制参量信息，经匹配滤波器获得无线电修正指令，与标准指令编码恢复信号比较实现误码检测和误码定位。该技术具有原理清晰、实现途径简便、定标准确，可应用于不同类型无线电修正指令误码检测。

公开(公告)号：CN115307547A

公开(公告)日：2022-11-08

申请号：CN202211050250.7

申请日：2022-08-31

Applicant: 上海精密计量测试研究所

Inventor： 陈继刚 ,  毛志勇 ,  余华昌 ,  祝卿 ,  倪博

IPC: G01B11/00

Abstract: 本发明提供了一种激光跟踪仪结合视觉系统的组网测试方法，其特征在于，其包括下述步骤：1)在测量空间布设公共点以组建组网测量网络，实现测量空间的全覆盖测量能力；2)利用激光跟踪仪完成测量网络的精密定位，建立全局测量坐标系并实现与控制网的几何关联，为全测量过程提供统一的测量基准；3)根据测量网络空间分布和被测形状整体几何特征划分测量区域并布置仪器站位，采用视觉测量系统获取多视角局部测量数据；4)采用激光跟踪仪完成视觉测量系统位姿的实时跟踪定位，同时完成测量网络的观测以实现自身站位的解算。本发明的有益效果在于提供了高精度的公共点测量，实现了高精度的坐标统一化，能够发现和控制误差较大的测量值。

公开(公告)号：CN114966362A

公开(公告)日：2022-08-30

申请号：CN202210156115.4

申请日：2022-02-21

Applicant: 上海精密计量测试研究所

Inventor： 赵容 ,  李娟 ,  张辉 ,  廉鹏飞 ,  马林东

IPC: G01R31/28 ,  G01N23/04 ,  G01N29/04

Abstract: 本发明公开了一种塑封倒装焊芯片凸点可靠性评估方法，包括：一、将封装好的倒装焊芯片进行电性能测试，测试完成后抽取样品进行超声波扫描检查；二、保留一定样品作为对照，对其余样品进行预处理；三、预处理完成后对样品进行超声波扫描检查；四、对样品进行电性能测试；五、将样品分为A、B、C三组，A组进行温度循环、B组进行UHAST、C组进行HAST试验；六、试验完成后对样品进行电性能测试；七、抽部分温度循环后的样品用3DXRAY观察指定凸点；八、对3DXRAY发现异常的凸点切片观察截面；九、结合3DXRAY的俯视图、侧视图和截面观察，判断凸点是空洞还是开裂，如果是空洞，在判据范围内是合格，如果是裂纹且有延伸趋势，则凸点不能保证长期应用的可靠性。

公开(公告)号：CN111007078B

公开(公告)日：2022-06-24

申请号：CN201911091011.4

申请日：2019-11-09

Applicant: 上海精密计量测试研究所

Inventor： 李娟 ,  李春 ,  朱敏尉 ,  刘楠 ,  张辉 ,  孔泽斌 ,  张超 ,  罗宇华 ,  祝伟明 ,  江芸 ,  楼建设

IPC: G01N21/95 ,  G01N1/28 ,  G01B21/00 ,  G01B21/20 ,  G01R31/12

Abstract: 本发明涉及片式钽电容器及其阴极二氧化锰层质量控制方法，包括对样品进行剖面制样，再对制样剖面镜检；剖面镜检中对阴极二氧化锰层质量进行检查，检查是否满足如下要求：阴极二氧化锰层内无尺寸大于钽芯短边1/4的局部分层或空洞；对于A壳或B壳尺寸产品，阴极二氧化锰层内尺寸小于钽芯短边1/4、大于钽芯短边1/6的局部分层或空洞的数量＜4，且不集中在一边；对于C壳及以上尺寸产品，阴极二氧化锰层内尺寸小于钽芯短边1/4、大于钽芯短边1/8的局部分层或空洞的数量＜4，且不集中在一边。本发明增加阴极二氧化锰层质量控制要求，避免存在类似“固有局部电应力集中”的片式钽电容器用于产品，保证产品装机后的可靠性。

公开(公告)号：CN109683876B

公开(公告)日：2022-06-24

申请号：CN201811506188.1

申请日：2018-12-10

Applicant: 上海精密计量测试研究所 ,  上海航天信息研究所

Inventor： 徐文胜 ,  武博 ,  汪伟岚 ,  蒋坚鸿 ,  赵崇卫

IPC: G06F8/30 ,  G06F8/35 ,  G06F8/38 ,  G06F3/01 ,  G06F9/451 ,  A63F13/65

Abstract: 本发明提供基于Unity3D的行为树设计方法，包括：虚拟现实交互设备通过碰撞检测模块的检测与某虚拟物体交互时，进入高亮模块，执行相应脚本，所述虚拟物体被选中；当需要与被选中的虚拟物体进行交互时，通过触发模块触发行为树模块，本发明提供基于Unity3D的行为树设计方法，基于Unity3D，以C#为脚本语言，设计了一个行为树模板，该模板简洁高效、清晰明了、结构合理，利用该模板设计行为树更加符合实际虚拟现实项目开发需要，并可应用于大部分虚拟现实项目的开发，解决了当前行为树结构不清晰、脚本混杂、执行效率低、开发维护效果差的问题。

公开(公告)号：CN114414972A

公开(公告)日：2022-04-29

申请号：CN202111530295.X

申请日：2021-12-14

Applicant: 上海精密计量测试研究所

Inventor： 汪波 ,  秦林生 ,  马林东 ,  刘伟鑫 ,  江芸 ,  孔泽斌 ,  祝伟明 ,  楼建设 ,  王昆黍

IPC: G01R31/26 ,  G01N23/04 ,  G01N27/00

Abstract: 本发明提供了一种基于CMOS图像传感器暗电流来定量质子位移损伤的方法，其特征在于，包括第一步，选取偶数只同晶圆批的CMOS图像传感器，分为两组，计算A组、B组暗电流初值的平均值；第二步，对A组CMOS图像传感器分别进行70MeV质子辐照试验；第三步，取A组中一只器件对其进行结构分析；第四步，采用粒子输运软件Geant4计算电离能损；第五步，对B组的CMOS图像传感器分别进行60Co‑γ射线辐照试验；第六步，计算空间质子位移损伤△μi，△μi＝μAi‑μBi；第七步，拟合△μi‑Fi的变化曲线；第八步，得到定量的空间质子位移损伤。本发明消除电离损伤的影响、定量评价质子位移损伤，结合航天器轨道、倾角、发射年份预估器件抗质子位移损伤能力是否满足要求，对航天器在轨安全运行具有重要意义。

公开(公告)号：CN114396870A

公开(公告)日：2022-04-26

申请号：CN202111505865.X

申请日：2021-12-10

Applicant: 上海精密计量测试研究所

Inventor： 毛志勇 ,  陈继刚 ,  余华昌 ,  沈惠峰 ,  祝卿

IPC: G01B11/00 ,  G01B11/26 ,  G01B11/08 ,  G01B11/14 ,  G01B11/02 ,  G01B11/24

Abstract: 本发明公开了一种激光影像扫描系统测试验证方法，包括：现场测量验证空间、激光扫描式测量系统、测量靶标、激光跟踪仪、标准球杆、四面体核查标准器、标准孔杆、计算机及分析软件。通过与激光跟踪仪比对验证空间坐标测量精度，利用测量标准球杆验证测长精度，利用四面体核查标准器验证拼接精度，利用标准孔杆验证几何要素测量精度。本发明采用现场测试验证方法，通过构建空间测量场及测量要素，实现激光影像扫描系统的长度测量精度、多站拼接精度、几何要素探测精度等验证，形成一套完整的测试验证方案。本发明具有简单快速、可扩展性强等特征，采用的技术方法可以运用到其他大尺寸测量设备、多系统组网测试系统的现场快速测试验证、自校验中。