嵌入式半导体装置封装及其制造方法

    公开(公告)号:CN104681520A

    公开(公告)日:2015-06-03

    申请号:CN201410848599.4

    申请日:2014-09-26

    Abstract: 本发明涉及嵌入式半导体装置封装及其制造方法。一种封装结构包括介电层,至少一个附接到介电层的半导体装置,施加到介电层且在半导体装置周围以使半导体装置嵌入其中的一个或多个介电片材,和多个形成到半导体装置的通路,多个通路形成在介电层和一个或多个介电片材中的至少一者。封装结构还包括形成在通路中且在封装结构的一个或多个朝外表面上的金属互连件,以形成到半导体装置的电互连。介电层由层压工艺期间不流动的材料组成且一个或多个介电片材的每一个由可固化材料组成,固化材料被配置成在层压工艺期间当固化时熔化并流动,从而填充半导体装置周围的任何空气间隙。

    开关结构和相关联的电路
    12.
    发明授权

    公开(公告)号:CN102103945B

    公开(公告)日:2014-01-01

    申请号:CN201010615732.3

    申请日:2010-12-16

    Abstract: 本发明涉及开关结构和相关联的电路,具体而言,提供了一种装置,例如开关模块(100)。该装置可包括构造成在特性时间上在断开构造和完全闭合构造(与最小特性电阻相关联)之间运动的机电开关结构(102)。整流电路(120)可与机电开关结构并联连接,并且可包括构造成抑制机电开关结构的触头之间的电弧形成的平衡二极管电桥(122),以及脉冲电路(142),该脉冲电路(142)包括构造成形成脉冲信号(与机电开关结构的切换事件有关)以用于促使脉冲电流流过平衡二极管电桥的脉冲电容器(146)。机电开关结构和平衡二极管电桥可设置成使得与整流电路相关联的总电感小于或等于特性时间和最小特性电阻的乘积。

    开关结构和相关联的电路
    13.
    发明公开

    公开(公告)号:CN102103945A

    公开(公告)日:2011-06-22

    申请号:CN201010615732.3

    申请日:2010-12-16

    Abstract: 本发明涉及开关结构和相关联的电路,具体而言,提供了一种装置,例如开关模块(100)。该装置可包括构造成在特性时间上在断开构造和完全闭合构造(与最小特性电阻相关联)之间运动的机电开关结构(102)。整流电路(120)可与机电开关结构并联连接,并且可包括构造成抑制机电开关结构的触头之间的电弧形成的平衡二极管电桥(122),以及脉冲电路(142),该脉冲电路(142)包括构造成形成脉冲信号(与机电开关结构的切换事件有关)以用于促使脉冲电流流过平衡二极管电桥的脉冲电容器(146)。机电开关结构和平衡二极管电桥可设置成使得与整流电路相关联的总电感小于或等于特性时间和最小特性电阻的乘积。

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