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公开(公告)号:CN102533147A
公开(公告)日:2012-07-04
申请号:CN201110331571.X
申请日:2011-10-27
Applicant: 第一毛织株式会社
IPC: C09J7/02 , C09J133/08 , H01L21/68
CPC classification number: H01L24/27 , C09J7/22 , C09J7/38 , C09J133/04 , C09J2203/326 , H01L21/6836 , H01L24/29 , H01L24/83 , H01L2221/68327 , H01L2224/27001 , H01L2224/27436 , H01L2224/29 , H01L2224/2919 , H01L2224/29298 , H01L2224/83191 , H01L2924/00013 , H01L2924/01005 , H01L2924/01006 , H01L2924/01019 , H01L2924/01025 , H01L2924/01033 , H01L2924/01072 , H01L2924/01073 , H01L2924/01077 , H01L2924/01082 , H01L2924/0665 , H01L2924/15788 , Y10T428/28 , Y10T428/2817 , Y10T428/2826 , Y10T428/287 , H01L2924/00 , H01L2924/3512 , H01L2924/00014 , H01L2224/29099 , H01L2224/29199 , H01L2224/29299 , H01L2224/2929
Abstract: 本发明公开了一种包括粘合层和与所述粘合层邻接的压敏粘结剂层的切割芯片粘合膜、半导体晶片和半导体装置,其中所述压敏粘结剂层在25℃下具有400至600kPa的储能模量和根据KS-A-01107标准测定的相对于所述粘合层的200至350mN/25mm的剥离强度。所述切割芯片粘合膜不包括UV工艺并在切割工艺中具有优异的加工性。
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公开(公告)号:CN102533146A
公开(公告)日:2012-07-04
申请号:CN201110303308.X
申请日:2011-10-09
Applicant: 第一毛织株式会社
IPC: C09J7/02 , C09J133/00 , C09J163/02 , C09J163/04 , C09J163/00 , H01L21/60
CPC classification number: C09J7/0217 , B32B7/06 , B32B27/08 , B32B2255/10 , B32B2255/26 , B32B2255/28 , B32B2307/30 , B32B2405/00 , C08G18/6254 , C08G59/08 , C08G2170/40 , C08L2312/08 , C09J7/22 , C09J7/385 , C09J163/00 , C09J175/04 , C09J2201/606 , C09J2203/326 , C09J2433/00 , C09J2463/00 , H01L21/6836 , H01L24/29 , H01L24/83 , H01L2221/68318 , H01L2221/68327 , H01L2221/6834 , H01L2221/68377 , H01L2224/29084 , H01L2224/2919 , H01L2224/2929 , H01L2224/29388 , H01L2224/32145 , H01L2224/83191 , H01L2224/94 , H01L2924/00013 , H01L2924/061 , H01L2924/0615 , H01L2924/0635 , H01L2924/0665 , H01L2924/0675 , H01L2924/068 , H01L2924/07025 , H01L2924/0705 , Y10T428/28 , Y10T428/31515 , H01L2224/27 , H01L2224/13099 , H01L2224/13599 , H01L2224/05599 , H01L2224/05099 , H01L2224/29099 , H01L2224/29599 , H01L2924/3512 , H01L2924/00
Abstract: 本发明提供了一种用于半导体装置的粘合剂膜,所述粘合剂膜包括在0℃至5℃下具有50μm/m·℃至150μm/m·℃的线性膨胀系数的基膜。所述粘合剂膜在低温储存较长时间后具有优异的卷绕形状稳定性,从而在以后的半导体封装工艺中不会导致倾斜现象并降低缺陷。
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公开(公告)号:CN102167963A
公开(公告)日:2011-08-31
申请号:CN201010610558.3
申请日:2010-12-16
Applicant: 第一毛织株式会社
IPC: C09J167/00 , C09J177/00 , C09J109/00 , C09J133/00 , C09J175/04 , C09J171/12 , C09J179/08 , C09J163/02 , C09J163/00 , C09J163/04 , C09J11/04 , C09J7/00 , H01L21/00
CPC classification number: C09J163/00 , C08G59/621 , C08L63/00 , C08L2205/02 , Y10T428/31511
Abstract: 本发明公开了一种用于半导体隐形切割的粘结剂组合物、使用该粘结剂组合物的粘结剂膜以及包括该粘结剂膜的半导体器件。所述粘结剂组合物包括聚合物树脂和液态环氧树脂。所述聚合物树脂具有特定的玻璃化转变温度(Tg)。所述粘结剂组合物实现了增加的固化前低温弹性模量和降低的固化后高温弹性模量。所述增加的固化前低温弹性模量能实现低温个体化并易于切割。此外,所述降低的固化后高温弹性模量保证了良好地嵌入衬底中和高粘附可靠性。
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公开(公告)号:CN102120927A
公开(公告)日:2011-07-13
申请号:CN201010610541.8
申请日:2010-12-16
Applicant: 第一毛织株式会社
IPC: C09J201/00 , C09J133/00 , C09J163/00 , C09J163/02 , C09J163/04 , C09J7/02 , H01L21/68
CPC classification number: C08G59/38 , C08L21/00 , C08L63/00 , C08L63/04 , C08L2205/02 , C09J163/00 , Y10T428/287
Abstract: 本发明公开了一种用于半导体器件的粘结剂组合物。所述粘结剂组合物包括弹性体树脂、环氧树脂、可固化树脂和填料。所述环氧树脂包括双官能团环氧树脂和多种多官能团环氧树脂。基于100重量份的环氧树脂的总量,双官能团环氧树脂以20~60重量份的量存在。由于存在所述双官能团环氧树脂,所述粘结剂组合物在125℃半固化后,在170℃下具有1.5×106泊~2.30×106泊的剪切粘度。本发明进一步公开了包括所述粘结剂组合物的用于半导体器件的芯片贴装膜。
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公开(公告)号:CN102533170A
公开(公告)日:2012-07-04
申请号:CN201110418517.9
申请日:2011-12-14
Applicant: 第一毛织株式会社
IPC: C09J133/04 , C09J163/00 , C09J7/00 , H01L23/29
CPC classification number: H01L24/29
Abstract: 本公开提供了一种用于半导体的粘合剂组合物和包括该粘合剂组合物的粘合剂膜。所述粘合剂组合物在125℃固化30分钟后在150℃具有100至1500gf/mm2的抗压强度。所述用于半导体的粘合剂组合物可缩短或省略半固化工艺,通常在接合相同类型的芯片后进行所述半固化工艺。所述用于半导体的粘合剂组合物保证了芯片接合之后的引线接合中的最小模量以最小化空隙,并在芯片接合后的多个固化工艺提供残留固化速率以易于消除EMC成型中的空隙。
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公开(公告)号:CN102533148A
公开(公告)日:2012-07-04
申请号:CN201110354111.9
申请日:2011-11-10
Applicant: 第一毛织株式会社
IPC: C09J7/02 , C09J133/08 , C09J163/00 , C09J175/04 , C09J175/14 , H01L21/68 , H01L21/58
CPC classification number: H01L24/27 , H01L21/6836 , H01L24/29 , H01L24/83 , H01L2224/83191 , H01L2924/01012 , H01L2924/01029 , H01L2924/3512 , H01L2924/00
Abstract: 本发明公开了切割芯片粘合膜、用于切割芯片粘合膜的组合物和半导体装置,且所述切割芯片粘合膜包括邻接基膜的第一表面(A)和邻接半导体晶片的第二表面(B),其中所述第二表面具有高于所述第一表面的剥离强度,并具有0.2N/25mm或更高的剥离强度。所述切割芯片粘合膜与所述基膜接触的表面顺利分离,而不是与所述晶片接触的表面分离,从而表现出优异的拾取性能。
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公开(公告)号:CN101445709A
公开(公告)日:2009-06-03
申请号:CN200810178919.4
申请日:2008-11-27
Applicant: 第一毛织株式会社
IPC: C09J11/00 , C09J133/00 , C09J175/00 , C09J163/00 , C09J7/00
CPC classification number: H01L24/27 , C08L2666/14 , C09J7/20 , C09J133/062 , C09J163/00 , C09J2203/326 , C09J2433/00 , C09J2461/00 , C09J2463/00 , H01L21/6836 , H01L24/29 , H01L24/83 , H01L2221/68327 , H01L2224/274 , H01L2224/29 , H01L2224/2919 , H01L2224/2929 , H01L2224/29339 , H01L2224/29347 , H01L2224/29355 , H01L2224/29386 , H01L2224/29387 , H01L2224/29388 , H01L2224/29393 , H01L2224/83191 , H01L2224/8385 , H01L2924/00013 , H01L2924/01005 , H01L2924/01006 , H01L2924/01012 , H01L2924/01013 , H01L2924/01015 , H01L2924/01019 , H01L2924/0102 , H01L2924/01021 , H01L2924/01027 , H01L2924/01029 , H01L2924/01033 , H01L2924/01045 , H01L2924/01047 , H01L2924/01072 , H01L2924/01073 , H01L2924/01075 , H01L2924/01078 , H01L2924/01079 , H01L2924/01082 , H01L2924/01322 , H01L2924/0665 , H01L2924/07802 , H01L2924/09701 , H01L2924/1461 , H01L2924/181 , Y10T428/2848 , H01L2924/0635 , H01L2924/066 , H01L2924/00 , H01L2924/3512 , H01L2924/00014 , H01L2924/05432 , H01L2924/0532 , H01L2924/05032 , H01L2924/05442 , H01L2924/0503 , H01L2224/29099 , H01L2224/29199 , H01L2224/29299
Abstract: 本发明提供一种半导体组装芯片粘接用粘合剂组合物,以及采用该组合物制得的粘合膜,所述组合物包括一种双组分溶剂,其包括沸点为0~100℃的低沸点溶剂和另一种沸点为140~200℃的高沸点溶剂。本发明的溶剂残留量小于2%的粘合膜可在提高固化组分含量时同时满足膜的延展性结构和增强的抗张强度,从而在防止膜被切割的同时提高了硬度。由于产生间隙的挥发性组分具有高沸点,则半导体组装中由溶剂挥发而产生的间隙可得到显著降低。其结果是所述粘合膜显示出在粘合膜表面产生的间隙或空隙的体积膨胀降低,从而保证极好的膜可靠性。
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公开(公告)号:CN103261348B
公开(公告)日:2016-09-07
申请号:CN201180060456.1
申请日:2011-03-25
Applicant: 第一毛织株式会社
IPC: C09J11/06 , C09J7/02 , C09J163/00 , H01L21/58
CPC classification number: H01L24/83 , C08K5/09 , C09J7/10 , C09J9/02 , C09J11/06 , C09J163/00 , C09J2203/326 , H01L24/13 , H01L24/16 , H01L24/29 , H01L24/32 , H01L24/81 , H01L24/92 , H01L25/0657 , H01L25/50 , H01L2224/13111 , H01L2224/13147 , H01L2224/16146 , H01L2224/29101 , H01L2224/2919 , H01L2224/2929 , H01L2224/293 , H01L2224/29386 , H01L2224/32145 , H01L2224/73104 , H01L2224/81011 , H01L2224/81191 , H01L2224/81193 , H01L2224/81203 , H01L2224/81447 , H01L2224/8181 , H01L2224/81815 , H01L2224/83191 , H01L2224/83203 , H01L2224/8385 , H01L2224/9211 , H01L2225/06513 , H01L2225/06541 , H01L2924/01005 , H01L2924/01006 , H01L2924/01012 , H01L2924/0102 , H01L2924/01029 , H01L2924/01033 , H01L2924/01045 , H01L2924/01047 , H01L2924/01072 , H01L2924/01077 , H01L2924/01078 , H01L2924/01079 , H01L2924/01327 , H01L2924/014 , H01L2924/0665 , H01L2924/00014 , H01L2224/81 , H01L2224/83 , H01L2924/00
Abstract: 提供了一种高流动性的半导体用粘合剂组合物,其中该组合物:包含具有特定结构的助焊活性固化剂;允许满足隆起‑芯片电连接的可靠性需要并去除在焊料和Cu隆起上作为隆起‑芯片接触层的任何氧化膜的助焊过程;在通过热压缩焊接的芯片焊接过程中确保焊料和隆起之间充分的相互接触。还提供了一种含该组合物的粘合剂膜和使用该组合物的半导体封装。
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公开(公告)号:CN104263266A
公开(公告)日:2015-01-07
申请号:CN201410415678.6
申请日:2011-10-09
Applicant: 第一毛织株式会社
IPC: C09J7/02 , C09J133/00 , C09J163/02 , C09J163/04 , C09J163/00 , H01L21/60
CPC classification number: C09J7/0217 , B32B7/06 , B32B27/08 , B32B2255/10 , B32B2255/26 , B32B2255/28 , B32B2307/30 , B32B2405/00 , C08G18/6254 , C08G59/08 , C08G2170/40 , C08L2312/08 , C09J7/22 , C09J7/385 , C09J163/00 , C09J175/04 , C09J2201/606 , C09J2203/326 , C09J2433/00 , C09J2463/00 , H01L21/6836 , H01L24/29 , H01L24/83 , H01L2221/68318 , H01L2221/68327 , H01L2221/6834 , H01L2221/68377 , H01L2224/29084 , H01L2224/2919 , H01L2224/2929 , H01L2224/29388 , H01L2224/32145 , H01L2224/83191 , H01L2224/94 , H01L2924/00013 , H01L2924/061 , H01L2924/0615 , H01L2924/0635 , H01L2924/0665 , H01L2924/0675 , H01L2924/068 , H01L2924/07025 , H01L2924/0705 , Y10T428/28 , Y10T428/31515 , H01L2224/27 , H01L2224/13099 , H01L2224/13599 , H01L2224/05599 , H01L2224/05099 , H01L2224/29099 , H01L2224/29599 , H01L2924/3512 , H01L2924/00
Abstract: 本发明提供了一种用于半导体装置的粘合剂膜,所述粘合剂膜包括在0℃至5℃下具有50μm/m·℃至150μm/m·℃的线性膨胀系数的基膜。所述粘合剂膜在低温储存较长时间后具有优异的卷绕形状稳定性,从而在以后的半导体封装工艺中不会导致倾斜现象并降低缺陷。
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公开(公告)号:CN102167963B
公开(公告)日:2014-03-26
申请号:CN201010610558.3
申请日:2010-12-16
Applicant: 第一毛织株式会社
IPC: C09J167/00 , C09J177/00 , C09J109/00 , C09J133/00 , C09J175/04 , C09J171/12 , C09J179/08 , C09J163/02 , C09J163/00 , C09J163/04 , C09J11/04 , C09J7/00 , H01L21/00
CPC classification number: C09J163/00 , C08G59/621 , C08L63/00 , C08L2205/02 , Y10T428/31511
Abstract: 本发明公开了一种用于半导体隐形切割的粘结剂组合物、使用该粘结剂组合物的粘结剂膜以及包括该粘结剂膜的半导体器件。所述粘结剂组合物包括聚合物树脂和液态环氧树脂。所述聚合物树脂具有特定的玻璃化转变温度(Tg)。所述粘结剂组合物实现了增加的固化前低温弹性模量和降低的固化后高温弹性模量。所述增加的固化前低温弹性模量能实现低温个体化并易于切割。此外,所述降低的固化后高温弹性模量保证了良好地嵌入衬底中和高粘附可靠性。
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