一种p型ZnO基材料的制备方法

    公开(公告)号:CN103180491B

    公开(公告)日:2016-02-17

    申请号:CN201080067947.4

    申请日:2010-09-25

    Applicant: 叶志镇

    Abstract: 本发明公开了一种p型ZnO基材料的制备方法,该方法在金属有机化学气相沉积设备系统中进行,该方法将衬底表面清洗后放入金属有机化学气相沉积系统的生长室中,生长室抽真空至10-3~10-4Pa,加热衬底至200~700℃,输入有机锌源、有机钠源和氧气,在衬底上沉积p型ZnO基材料;Na掺杂能够大大提高ZnO基材料中的空穴浓度以及p型稳定性,采用Na掺杂技术结合MOCVD设备,可制备具有良好晶体质量和优良电学、光学性能的p型ZnO基材料;本发明采用环戊二烯基钠等类似有机物作为钠掺杂的金属有机源,可实现工业化生产Na掺杂p型ZnO基材料应用。

    TFT阵列基板制作方法及TFT阵列基板

    公开(公告)号:CN107980174A

    公开(公告)日:2018-05-01

    申请号:CN201680039400.0

    申请日:2016-11-23

    Inventor: 李文辉

    CPC classification number: H01L21/77 H01L27/12 H01L29/227

    Abstract: 一种TFT阵列基板及其制作方法,包括,在基板(10)上依次形成栅极(11)、绝缘层(12)及氧化物导体层(13);其中氧化物层正投影于该栅极;在该氧化物导体层上依次形成蚀刻阻挡层(14)及第二金属层(15);图案化该第二金属层形成沟道(151);对与该沟道相对位置的氧化物导体层区域处理,形成半导体沟道。

    氧化锌基非晶氧化物半导体薄膜晶体管及其制造方法

    公开(公告)号:CN103840011A

    公开(公告)日:2014-06-04

    申请号:CN201410066494.3

    申请日:2014-02-26

    Inventor: 尹盛 李小月 徐东

    CPC classification number: H01L29/7869 H01L29/22 H01L29/227 H01L29/66742

    Abstract: 本发明公开了一种氧化锌基非晶氧化物半导体薄膜晶体管及其制造方法。该晶体管包括衬底、栅极、栅绝缘层、有源层、源极和漏极;栅极于衬底上形成,栅绝缘层覆盖栅极和衬底,有源层于栅绝缘层上形成,与栅极对应,源极和漏极分别覆盖有源层的两端;有源层为掺X和Y的氧化锌基非晶氧化物半导体,随着与栅绝缘层距离的增大,X的含量逐渐降低,Y的含量逐渐升高,其中,X为Cd、In、Sn、Sb、Ti、Pb和As中的一种,Y为Ga、Al、Hf、Ge、Ca和Cu中的一种。本发明能有效提高器件的迁移率和工作电流,减小器件的阈值电压漂移,降低器件受工艺、光照及外界气体的影响,并提高器件的机械稳定性。

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