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公开(公告)号：CN119269838A
公开(公告)日：2025-01-07
申请号：CN202411218369.X
申请日：2024-09-02
Applicant: 中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室)) , 华南理工大学
IPC: G01P21/00
Abstract: 本发明公开了一种用于测试加速度计交叉轴灵敏度的方法，通过双离心机系统实现，方法包括下述步骤：首先，将待测加速度计固定于从离心机，使从离心机回零并定位于零位，记录待测加速度计的输出U0；接着，设定主离心机的输出加速度为预设值a，启动主离心机，使从离心机角度保持在零度角，记录此时待测加速度计的输出U1；随后，从离心机分别定位至90°、180°、270°，记录各位置待测加速度计的输出U2、U3、U4；利用公式ko＝k1×(U2‑U4)/(U1‑U3)，计算输出轴交叉轴灵敏度ko；最后，重新安装加速度计，重复上述步骤，计算摆轴交叉轴灵敏度kp。本发明的方法可精确测定加速度计的交叉轴灵敏度，提高了测量效率和准确性，适用于各类高精度加速度计测试场景。
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公开(公告)号：CN119337558A
公开(公告)日：2025-01-21
申请号：CN202411218381.0
申请日：2024-09-02
Applicant: 中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室)) , 华南理工大学
IPC: G06F30/20 , G06F30/17 , G06F119/02
Abstract: 本发明公开了一种考虑多种失效机制的真空封装MEMS器件腔体真空退化模型构建方法及评价方法，模型构建方法包括：(1)真空度表征：利用品质因子对腔体的真空度进行表征；(2)真空退化数理模型建模：a.计算腔体内释放的气体分子数，获取腔体内部释气导致的第一真空退化数理模型；b.计算腔体内由外部泄露进来的气体分子数，获取腔体内由外部泄露导致的第二真空退化数理模型；c.第一、第二真空退化数理模型，基于算腔体内总气体分子数与腔体气压的关系，获取腔体内部真空度退化模型。在构建的真空度退化模型基础上，本发明还提供了真空封装MEMS器件真空退化进行可靠性评价的方法，并可实现对真空封装MEMS器件真空度退化进行可靠性预计。
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公开(公告)号：CN120046043A
公开(公告)日：2025-05-27
申请号：CN202510451327.9
申请日：2025-04-11
Applicant: 中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
IPC: G06F18/2415 , G06F18/25
Abstract: 本申请涉及一种数理智融合的可靠性试验与评价方法、装置和计算机设备。获取待检测产品中不同部件类型下各子类型的多个检测部件，在不同检测时间的性能退化数据，针对同一部件类型下各子类型的多个检测部件，根据多个检测部件的性能退化数据，确定各子类型的检测部件对应的第一累积分布函数，根据各第一累积分布函数确定待检测产品的第一失效寿命，根据多个待检测产品的第一失效寿命，确定待检测产品的可靠性评价指标。本申请实施例对待检测产品中的检测部件进行划分得到不同部件类型的检测部件，针对不同部件类型的性能退化数据采用不同的算法进行处理，充分利用多种算法的优势，灵活处理不同部件类型的性能退化数据，提高了可靠性评价的准确性。
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公开(公告)号：CN119989931A
公开(公告)日：2025-05-13
申请号：CN202510451264.7
申请日：2025-04-11
Applicant: 中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
IPC: G06F30/27 , G06F18/20 , G06N3/08 , G01D21/00 , G01M99/00 , G06F119/02 , G06F119/14 , G06F123/02
Abstract: 本申请涉及一种数理智融合的加速试验与寿命评估方法、装置和设备。该方法包括：在将待试验产品的不同组成设备放置于不同加速试验箱中，且不同加速试验箱分别被施加有不同加速应力的情况下，根据各组成设备的失效类型，获取各组成设备的试验检测数据；根据各试验检测数据的数据类型，对各试验检测数据进行数据分析，得到各组成设备的寿命分布函数；根据各组成设备之间的失效关联性和各组成设备的寿命分布函数，确定待试验产品的寿命评估试验结果。采用本方法能够提高寿命评估结果的准确性。
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公开(公告)号：CN119438629A
公开(公告)日：2025-02-14
申请号：CN202411589559.2
申请日：2024-11-08
Applicant: 中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
IPC: G01P21/00
Abstract: 本申请涉及一种加速度计参数确定方法、装置、计算机设备和存储介质。所述方法包括：控制转台以不同转速旋转；转台上设置有待测加速度计，且待测加速度计的敏感轴方向垂直于转台的旋转轴方向；获取待测加速度计在不同转速下的电压曲线；其中，每一电压曲线基于相应转速下待测加速度计在不同时刻下的电压值构建得到；根据不同转速以及相应转速下的电压曲线，确定待测加速度计的加速度计参数。采用本方法能够通过转台的连续转动，构建待测加速度计的参数测试环境，在相应参数测试环境中根据待测加速度计所处的不同转速以及相应转速下的电压曲线，能够更加准确的确定出待测加速度计的加速度计参数。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN118603676A
公开(公告)日：2024-09-06
申请号：CN202410801445.3
申请日：2024-06-20
Applicant: 中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
IPC: G01N1/22
Abstract: 本申请涉及一种器件内部气氛取样装置、方法、设备、存储介质和程序产品。所述装置包括取样腔和穿刺模块，其中：所述取样腔的腔体上开设有穿刺孔；所述穿刺模块设置于所述取样腔内，所述穿刺模块用于在待测器件的壳面与所述取样腔外表面相贴合且覆盖所述穿刺孔的情况下，经过所述穿刺孔，刺破所述待测器件中的充气空腔；所述取样腔用于收集所述充气空腔中逸出的待测气氛。采用本方法能够提高器件内部气氛检测准确性。
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公开(公告)号：CN113899509B
公开(公告)日：2024-03-26
申请号：CN202111092412.9
申请日：2021-09-17
Applicant: 中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
Abstract: 本公开涉及一种检测封装器件抗水汽影响的方法及系统，方法包括：抽取密封腔体内气体，制造真空条件；其中，所述密封腔体内设置有待测封装器件；向所述密封腔体内通入水汽与惰性气体的混合气体，实时监测所述密封腔体内气压数据，使得所述密封腔体内气压稳定在目标气压；实时监测所述密封腔体内水汽浓度，并根据所述水汽浓度调节所述混合气体的流速以及水汽含量，直至所述密封腔体内的气氛环境达到目标气氛的特征参数，停止通入所述混合气体；实时监测所述待测封装器件的电气性能数据，获得所述待测封装器件的抗水汽影响的评估结果。本公开有助于对单一水汽影响失效机理的加速评价，提高了检测封装器件抗水汽影响能力的准确性和可靠性。
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公开(公告)号：CN117420262A
公开(公告)日：2024-01-19
申请号：CN202311219329.2
申请日：2023-09-20
Applicant: 中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
IPC: G01N33/00
Abstract: 本申请涉及一种圆片级真空封装器件内部材料的放气特性确定方法和装置。所述方法包括：获取试验样品在标准温度下的第一品质因子和第一谐振频率；在试验样品放置于温度试验箱中的情况下，通过对温度试验箱中的温度进行调节，获取试验样品在各试验温度下的第二品质因子和第二谐振频率；根据第一谐振频率和各第二谐振频率，确定试验样品在各试验温度下的频率变化幅度；根据第一品质因子和各第二品质因子，确定试验样品在各试验温度下的因子变化幅度；根据试验样品在各试验温度下的频率变化幅度和因子变化幅度，确定试验样品的内部材料的放气特性。采用本方法能够准确获取圆片级真空封装器件内部材料的放气特性。
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公开(公告)号：CN116659740A
公开(公告)日：2023-08-29
申请号：CN202310446718.2
申请日：2023-04-23
Applicant: 中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
Abstract: 本申请涉及一种MEMS器件真空度测量方法、装置、计算机设备、存储介质和计算机程序产品。方法包括：获取MEMS器件在真空封装条件下的品质因数；获取MEMS器件在不同气压条件下的品质因数；根据不同气压条件下的品质因数进行拟合，得到拟合方程；基于拟合方程以及真空封装条件下的品质因数进行计算，得到MEMS器件的腔内真空度。整个方案通过测量MEMS器件在不同气压条件下的品质因数，根据不同气压条件下的品质因数进行拟合，得到拟合方程，拟合方程可以准确描述气压与品质因数之间的相关关系，进而根据拟合方程以及真空封装条件下的品质因数进行计算，可以准确地得到MEMS器件的腔内真空度。
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公开(公告)号：CN116338544A
公开(公告)日：2023-06-27
申请号：CN202211286803.9
申请日：2022-10-20
Applicant: 中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
IPC: G01R35/00
Abstract: 本申请涉及一种三维互连结构传输参数校准方法、装置、计算机设备、存储介质和计算机程序产品。所述方法包括：获取参数测量装置测量得到的三维互连结构的待校准传输参数以及各校准结构的各测量参数；参数测量装置的各测试点分别通过延伸预设长度的传输线与三维互连结构以及各校准结构的各测试连接点进行连接；各校准结构包括直通校准结构、传输线校准结构以及反射校准结构；根据待校准传输参数与各测量参数，调用参数校准模型对待校准传输参数进行校准操作，得到校准后的目标传输参数，参数校准模型基于TRL去嵌校准算法预先生成。采用本方法能够有效降低了校准后的目标传输参数的误差，提高了目标传输参数的精准性。
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