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公开(公告)号：CN118858094A
公开(公告)日：2024-10-29
申请号：CN202410656704.8
申请日：2024-05-24
Applicant: 中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
IPC: G01N15/08
Abstract: 本申请膜结构渗透率测试技术领域，尤其是涉及膜结构材料高压渗水率测试方法。该方法包括如下步骤：步骤一、建立渗透率变化系数数学模型公式；步骤二、制备若干个测试样品进行分组；步骤三、压力测试；步骤四、根据渗透率变化系数数学模型公式计算得到渗水率值。1.本发明通过较低压力，如中压范围的测试数据，可以直接推断出膜结构材质在液态高压环境(10
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公开(公告)号：CN119438629A
公开(公告)日：2025-02-14
申请号：CN202411589559.2
申请日：2024-11-08
Applicant: 中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
IPC: G01P21/00
Abstract: 本申请涉及一种加速度计参数确定方法、装置、计算机设备和存储介质。所述方法包括：控制转台以不同转速旋转；转台上设置有待测加速度计，且待测加速度计的敏感轴方向垂直于转台的旋转轴方向；获取待测加速度计在不同转速下的电压曲线；其中，每一电压曲线基于相应转速下待测加速度计在不同时刻下的电压值构建得到；根据不同转速以及相应转速下的电压曲线，确定待测加速度计的加速度计参数。采用本方法能够通过转台的连续转动，构建待测加速度计的参数测试环境，在相应参数测试环境中根据待测加速度计所处的不同转速以及相应转速下的电压曲线，能够更加准确的确定出待测加速度计的加速度计参数。
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公开(公告)号：CN119714393A
公开(公告)日：2025-03-28
申请号：CN202411862129.3
申请日：2024-12-17
Applicant: 中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
Abstract: 本申请涉及一种近红外光电探测器性能测试方法、装置以及设备。所述方法包括：在对目标探测器进行性能测试的过程中，获取多种测试策略对应的测试参数，根据各测试参数分别对目标探测器进行性能测试，可以得到各测试参数对应的性能参数，根据各性能参数能够确定目标探测器的性能测试结果，其中，多种测试策略包括应力测试、脉冲光响应测试以及噪声测试中的至少两种。采用本方法能够提高测试的准确性。
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公开(公告)号：CN119667452A
公开(公告)日：2025-03-21
申请号：CN202510200107.9
申请日：2025-02-24
Applicant: 中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
IPC: G01R31/28 , G01M11/00 , G06F30/398
Abstract: 本发明公开了一种基于深度学习的硅基光互连芯片动态评估系统，涉及芯片评估技术领域，该系统公开了基本性能分析模块、光学器件筛查模块、光学器件评估模块、动态评估模块，设置光学器件筛查模块、光学器件评估模块以及动态评估模块，在开启光学器件筛查工作后，通过构建一个硅基光互连芯片的模拟模型，可以模拟硅基光互连芯片在当前性能参数下各光学器件可能的性能表现，综合分析每个光学器件的测试评估需求，根据测试评估需求的动态筛选以及排序光学器件的测试评估顺序，不再需要对每个光学器件进行测试评估，可以快速确定硅基光互连芯片中的异常光学器件，提高光学器件的测试评估精度与效率。
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公开(公告)号：CN120043631A
公开(公告)日：2025-05-27
申请号：CN202510255666.X
申请日：2025-03-05
Applicant: 中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
Abstract: 本申请涉及一种单光子探测器性能测试方法和装置。所述方法包括：根据待测探测器的待测性能的性能类型，从候选性能测试系统中选择待测性能对应的目标性能测试系统；其中，待测探测器为单光子探测器；将待测探测器置于目标性能测试系统中，以构建针对待测探测器的测试环境；根据待测性能的性能测试要求，对置于测试环境中的待测探测器施加预设光信号，并获取待测探测器对预设光信号进行检测的过程中生成的脉冲探测信息；根据脉冲探测信息，确定待测探测器的待测性能的测试结果。采用本方法能够降低单光子探测器性能测试过程中的测试成本，并保证测试过程的稳定性和测试结果的准确性。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN120043630A
公开(公告)日：2025-05-27
申请号：CN202510247669.9
申请日：2025-03-04
Applicant: 中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
Abstract: 本申请涉及一种单光子探测器性能评估方法、装置、计算机设备和介质。所述方法包括：将待测探测器接入性能测试电路中，以搭建性能测试环境；根据待测探测器的预设工作电压范围，对性能测试环境中的待测探测器施加电压，以使待测探测器处于工作状态，并采用待测探测器的各性能退化参数对应的采样频率，分别对待测探测器的电量参数进行采样，得到各性能退化参数对应的电量时间序列；各性能退化参数至少包括暗电流参数、击穿电压参数和噪声参数；根据各性能退化参数对应的电量时间序列，确定各性能退化参数对应的评估指标值；根据各性能退化参数对应的评估指标值，对待测探测器的性能退化情况进行评估。采用本方法能够准确对探测器的性能进行评估。
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公开(公告)号：CN119667452B
公开(公告)日：2025-05-23
申请号：CN202510200107.9
申请日：2025-02-24
Applicant: 中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
IPC: G01R31/28 , G01M11/00 , G06F30/398
Abstract: 本发明公开了一种基于深度学习的硅基光互连芯片动态评估系统，涉及芯片评估技术领域，该系统公开了基本性能分析模块、光学器件筛查模块、光学器件评估模块、动态评估模块，设置光学器件筛查模块、光学器件评估模块以及动态评估模块，在开启光学器件筛查工作后，通过构建一个硅基光互连芯片的模拟模型，可以模拟硅基光互连芯片在当前性能参数下各光学器件可能的性能表现，综合分析每个光学器件的测试评估需求，根据测试评估需求的动态筛选以及排序光学器件的测试评估顺序，不再需要对每个光学器件进行测试评估，可以快速确定硅基光互连芯片中的异常光学器件，提高光学器件的测试评估精度与效率。
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公开(公告)号：CN119573895A
公开(公告)日：2025-03-07
申请号：CN202411894280.5
申请日：2024-12-20
Applicant: 中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
IPC: G01J5/90
Abstract: 本申请涉及一种红外探测器NETD不确定度计算方法、装置、设备、存储介质和程序产品。所述方法包括：首先，在满足测试条件的情况下，获取目标红外设备上各像元的测试温度、响应电压和噪声电压，然后，根据各像元的测试温度、响应电压和噪声电压确定各像元的噪声等效温差的扩展不确定度，最后，根据各像元的噪声等效温差的扩展不确定度，确定用于表征目标红外设备的噪声等效温差的可信程度的总体噪声等效温差的扩展不确定度。采用本方法能够实现对目标红外设备的噪声等效温差的扩展不确定度的计算。
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公开(公告)号：CN118445767A
公开(公告)日：2024-08-06
申请号：CN202410626485.9
申请日：2024-05-20
Applicant: 中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
IPC: G06F18/27 , G06F30/20 , G06F119/08 , G06F119/14 , G06F119/04
Abstract: 本发明公开了光纤声敏元件可靠性评价方法，涉及光纤声敏元件评价技术领域，基于光纤声敏元件实际应用工况以及可靠性指标要求，提出了一种光纤声敏元件可靠性评价方法，可实现光纤声敏元件热海水加速退化激发和评估，建立考虑海水服役环境下光纤声敏元件加速寿命模型，具有更加贴近实际服役环境和较高效费比的特点，可以更好的满足产品研发、鉴定以及应用等多个环节对于光纤声敏元件可靠性评价需求。
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公开(公告)号：CN117647264A
公开(公告)日：2024-03-05
申请号：CN202311242286.X
申请日：2023-09-25
Applicant: 中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
IPC: G01C25/00
Abstract: 本申请涉及一种陀螺仪的标度因数标定方法、装置和计算机设备，具体涉及陀螺仪测试技术领域。所述方法包括：控制步进电机静止，并采集所述步进电机上待测陀螺仪的静态电压；控制所述步进电机旋转，并在所述步进电机旋转的过程中采集所述待测陀螺仪的动态电压；根据采样频率、所采集的动态电压和静态电压，以及所述步进电机的第一转动角度，确定旋转环境下所述步进电机的等效角速度和所述待测陀螺仪的等效输出电压；根据所述等效角速度和所述等效输出电压，对所述待测陀螺仪的标度因数进行标定。采用本方法能够快速准确地对标度因数进行标定，并且降低了设备成本。
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