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公开(公告)号：CN119585596A
公开(公告)日：2025-03-07
申请号：CN202380055666.4
申请日：2023-08-09
Applicant: 住友电气工业株式会社
Inventor： 郑钟大
IPC: G01M11/00
Abstract: 对被树脂包覆的光纤的弯曲损耗进行测定的方法具有：第一工序，决定将光纤卷绕于具有规定的直径的心轴时规定的传送波长以下的区域的光纤的弯曲损耗值的波长依赖性相对于传送波长而成为指数函数形状的基准卷绕数；第二工序，对在以基准卷绕数卷绕于心轴的状态下以规定的传送波长使规定功率的光射入光纤的第一端而从光纤的第二端射出的光的功率进行测定；第三工序，对在以比基准卷绕数多的卷绕数卷绕于心轴的状态下以所述规定的传送波长使规定功率的光射入光纤的第一端而从光纤的第二端射出的光的功率进行测定；以及第四工序，基于通过第二工序测定出的光的功率和通过第三工序测定出的光的功率，求出以规定的直径将光纤弯曲时光纤的规定的传送波长的弯曲损耗值。
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公开(公告)号：CN119575131A
公开(公告)日：2025-03-07
申请号：CN202411723446.7
申请日：2024-11-28
Applicant: 江苏晋成半导体有限公司
IPC: G01R31/28 , G01M11/00 , G01M11/02 , G05B19/042
Abstract: 本发明涉及光学芯片测试技术领域，具体公开了基于FPGA的光学芯片测试系统，包括光学芯片基本性能测试分析模块、光学芯片性能评级模块、光学芯片稳定性测试分析模块、光学芯片信号处理测试分析模块和数据库。通过高精度激光器与光功率计校准以及在光学芯片输出端连接光电探测器并经放大和模数转换后由FPGA采集数据，能够精确获取各测试时段的输入和输出光信号强度，从而准确计算光学增益值，这有助于深入了解光学芯片在不同时段对光信号强度的放大能力，有效提高了光学芯片测试分析的效率和准确性，减少了因芯片性能不达标而导致的系统故障风险，同时也为光学芯片的进一步优化设计提供了有价值的数据支撑。
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公开(公告)号：CN119574240A
公开(公告)日：2025-03-07
申请号：CN202411644260.2
申请日：2024-11-18
Applicant: 深圳市盛波光电科技有限公司
Abstract: 本发明提供了一种液晶片弯曲的快速测试方法，包括以下步骤：步骤1，制作液晶模组：制作液晶片，将制作好的液晶片组装在背光上，用边条固定，组成液晶模组；步骤2，高温测试：将制作的液晶模组置于设定的测试条件环境中，完成预设时间节点，用于测定，待预设时间结束后拿出，点亮液晶模组的背光再静置设定时间；步骤3，检测判断：拆除固定条及背光，用塞尺测试液晶片四个角的高度并记录数据，如果所记录的测试数据中只要有一个角的高度值超过所设定的弯曲规格值，则判定该液晶片不合格，否则合格。本发明的有益效果是：本发明方法能在96小时内快速检测出液晶片弯曲强度，大大节省了测试时间，提高了测试效率。
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公开(公告)号：CN119574049A
公开(公告)日：2025-03-07
申请号：CN202411737116.3
申请日：2024-11-29
Applicant: 北京航空航天大学
Abstract: 本发明属于镜面校准技术领域，且公开了一种基于激光镜面反射的同轴校准系统，包括激光出射装置，激光出射装置的底部设置有激光接收装置，激光出射装置的内部设置有激光发射器，喷管卡套B的底端固定有激光出射平台B，激光出射平台B内部的顶端固定有激光发射器固定机构。通过设置激光出射装置、激光接收装置、激光发射器等结构的配合，将激光出射装置和激光接收装置分别安装在喷管和测量平面上，激光发射后，由于出射平面和反射平面均为镜面，激光将在这两个平面之间进行多次反射，当两个平面完全平行且同轴对准时，入射激光和反射激光将完全重合，使得装置对同轴度高度敏感，能够放大并显示微小的误差，操作简便。
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公开(公告)号：CN119574048A
公开(公告)日：2025-03-07
申请号：CN202411735150.7
申请日：2024-11-29
Applicant: 中海石油(中国)有限公司海南分公司 , 海洋石油工程股份有限公司 , 宁波东方电缆股份有限公司
IPC: G01M11/00
Abstract: 本发明公开一种模拟应用工况的插拔测试装置，包括测试腔，测试腔内填充满有浑浊海水，测试腔的一端靠近测试腔内部的一侧固定连接有水下插座，测试腔的另一端靠近测试腔内部的一侧移动连接有水下插头，水下插头在浑浊海水环境下与水下插座进行插拔测试，测试腔上还设有用于调节浑浊海水水压的控压组件、用于调节浑浊海水温度的加热组件、用于测试插拔过程中光纤损耗的插回损测试仪和用于搅拌浑浊海水并调节海水流动方向的搅拌组件，测试腔的下端设有用于调节测试腔倾斜角度的调节组件。本发明提供一种可以模拟复杂水下环境，并进行电缆连接测试的一种模拟应用工况的插拔测试装置。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN119535149A
公开(公告)日：2025-02-28
申请号：CN202411408411.4
申请日：2024-10-10
Applicant: 北京确安科技股份有限公司
Abstract: 本申请提供了一种光感芯片测试装置，该光感芯片测试装置包括：壳体，所述壳体上设置有吸附机构和光源槽，所述吸附机构，用于吸取待测试光感芯片；所述光源槽，用于为所述待测试光感芯片提供照射光源。在上述技术方案中，通过设置吸附机构和光源槽，所述吸附机构，用于吸取待测试光感芯片；所述光源槽，用于为所述待测试光感芯片提供照射光源；解决了测试光感芯片时提供可控光源的问题。
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公开(公告)号：CN119528064A
公开(公告)日：2025-02-28
申请号：CN202411688976.2
申请日：2024-11-25
Applicant: 深圳供电局有限公司
Abstract: 本发明公开了一种用于变电站网络摄像头的故障排查装置，包括：遥控履带底盘、绝缘罩组件及伸缩升降组件；绝缘罩组件包括：装设在遥控履带底盘上的双向驱动单元和紧固在双向驱动单元上的绝缘罩本体，绝缘罩本体为两片弧形罩体，在弧形罩体的底板上设有用以容纳变电站网络摄像头杆体的卡持口，其中：通过操控遥控履带底盘将故障排查装置移动到变电站网络摄像头杆体的位置，通过双向驱动单元联动两片弧形罩体分别转动收拢，使网络摄像头的杆体容纳在卡持口的位置，用以对变电站网络摄像头的杆体进行遮挡。实施本发明的用于变电站网络摄像头的故障排查装置，降低高压设备和维护人员间空气被击穿的可能性，增加维护人员安全；提升故障排查的效率。
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公开(公告)号：CN119527957A
公开(公告)日：2025-02-28
申请号：CN202411709460.1
申请日：2024-11-27
Applicant: 通鼎互联信息股份有限公司
Abstract: 本发明公开了一种用于光子晶体光纤生产用测试平台，具备能够直接对测试完成后的光纤进行收卷，解决了光纤测试平台不能够对测试的光纤直接进行收纳处理的问题。其包括：底箱；固定架；显示屏；显微镜；转盘组件，其包括固定环、转盘、转动组件；夹持组件，其包括一对互相夹持的定位板组；以及一复合卷辊，其包括上部的卷辊、中部的定位杆、下部的限位盘；所述复合卷辊用于卷收光纤。
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公开(公告)号：CN119509916A
公开(公告)日：2025-02-25
申请号：CN202411405766.8
申请日：2024-10-10
Applicant: 上海交通大学
Abstract: 一种同轴式自对中可调谐反射光栅衍射性能测试装置，包括：支承装置、用于拉伸柔性光栅样品的拉伸装置、用于同轴改变并测量入射出射角度的旋转装置、用于固定并调整入射激光器的光源装置和用于固定并调整接收屏或相机的位置和朝向的接收装置，其中：旋转装置分别与光源装置和接收装置相连，拉伸装置固定设置于支承装置上，通过调节相对位置达到自对中。本发明结构紧凑、体积适中、操作简单、测试结果精确。利用机械装置对光栅进行固定和拉伸，保证了光栅的可调谐性，旋转轴的设计可以同时改变入射激光、接收装置和光栅之间的夹角，同时装置还可改变入射距离、接收距离和朝向等参数，在实现测试样品位置自对中的同时实现高达六个自由度的实验测试，不同位置的调节设计也让装置具有更强的适应性。
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公开(公告)号：CN119043657B
公开(公告)日：2025-02-25
申请号：CN202411047669.6
申请日：2024-08-01
Applicant: 南京海汇装备科技有限公司
Abstract: 本发明涉及光电测试管理领域，具体为一种分布式综合光电测试管理系统及方法，包括：测试平台模块、分布式控件模块、靶盘测试模块、光电检波模块和波段时延模块，测试平台模块用于搭建测试数据处理中枢，分布式控件模块用于检测红外辐射，靶盘测试模块用于提供测试环境和辐射源，光电检波模块用于获取测试数据，波段时延模块用于计算光电系统的时延，并对计算到的时延进行调整，本发明能够实现对大范围或分散布局的光电设备进行全面、实时的监测和测试，提高测试效率和准确性，能够满足多样化的测试需求，有助于优化系统参数和算法，提高光成像系统在不同波段环境下的成像量和系统性能。
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