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公开(公告)号：CN116381467A
公开(公告)日：2023-07-04
申请号：CN202310652188.7
申请日：2023-06-05
Applicant: 中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室)) , 华南理工大学
Abstract: 本申请涉及一种双端口近场探头非对称补偿方法、装置、设备和存储介质。该方法包括：获取第一散射参数，第一散射参数由基于对称双端口近场探头建立的对称双端口网络采集得到；获取第二散射参数，第二散射参数由基于非对称元件建立的非对称双端口网络采集得到；获取磁场环境下校准网络的整体响应，校准网络基于对称双端口近场探头以及非对称元件建立；根据对称双端口近场探头的散射参数、非对称元件的散射参数、以及磁场环境下校准网络的整体响应进行计算，确定校准因子；根据校准因子对对称双端口近场探头进行补偿，从而解决非对称问题，提高了非对称系统的测量精度。
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公开(公告)号：CN119269838A
公开(公告)日：2025-01-07
申请号：CN202411218369.X
申请日：2024-09-02
Applicant: 中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室)) , 华南理工大学
IPC: G01P21/00
Abstract: 本发明公开了一种用于测试加速度计交叉轴灵敏度的方法，通过双离心机系统实现，方法包括下述步骤：首先，将待测加速度计固定于从离心机，使从离心机回零并定位于零位，记录待测加速度计的输出U0；接着，设定主离心机的输出加速度为预设值a，启动主离心机，使从离心机角度保持在零度角，记录此时待测加速度计的输出U1；随后，从离心机分别定位至90°、180°、270°，记录各位置待测加速度计的输出U2、U3、U4；利用公式ko＝k1×(U2‑U4)/(U1‑U3)，计算输出轴交叉轴灵敏度ko；最后，重新安装加速度计，重复上述步骤，计算摆轴交叉轴灵敏度kp。本发明的方法可精确测定加速度计的交叉轴灵敏度，提高了测量效率和准确性，适用于各类高精度加速度计测试场景。
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公开(公告)号：CN116381467B
公开(公告)日：2023-09-01
申请号：CN202310652188.7
申请日：2023-06-05
Applicant: 中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室)) , 华南理工大学
Abstract: 本申请涉及一种双端口近场探头非对称补偿方法、装置、设备和存储介质。该方法包括：获取第一散射参数，第一散射参数由基于对称双端口近场探头建立的对称双端口网络采集得到；获取第二散射参数，第二散射参数由基于非对称元件建立的非对称双端口网络采集得到；获取磁场环境下校准网络的整体响应，校准网络基于对称双端口近场探头以及非对称元件建立；根据对称双端口近场探头的散射参数、非对称元件的散射参数、以及磁场环境下校准网络的整体响应进行计算，确定校准因子；根据校准因子对对称双端口近场探头进行补偿，从而解决非对称问题，提高了非对称系统的测量精度。
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公开(公告)号：CN119337558A
公开(公告)日：2025-01-21
申请号：CN202411218381.0
申请日：2024-09-02
Applicant: 中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室)) , 华南理工大学
IPC: G06F30/20 , G06F30/17 , G06F119/02
Abstract: 本发明公开了一种考虑多种失效机制的真空封装MEMS器件腔体真空退化模型构建方法及评价方法，模型构建方法包括：(1)真空度表征：利用品质因子对腔体的真空度进行表征；(2)真空退化数理模型建模：a.计算腔体内释放的气体分子数，获取腔体内部释气导致的第一真空退化数理模型；b.计算腔体内由外部泄露进来的气体分子数，获取腔体内由外部泄露导致的第二真空退化数理模型；c.第一、第二真空退化数理模型，基于算腔体内总气体分子数与腔体气压的关系，获取腔体内部真空度退化模型。在构建的真空度退化模型基础上，本发明还提供了真空封装MEMS器件真空退化进行可靠性评价的方法，并可实现对真空封装MEMS器件真空度退化进行可靠性预计。
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公开(公告)号：CN119830816A
公开(公告)日：2025-04-15
申请号：CN202510308756.0
申请日：2025-03-17
Applicant: 中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
IPC: G06F30/30 , G06F17/16 , G06F119/02 , G06F119/04 , G06F119/14 , G06F119/16
Abstract: 本申请涉及汽车芯片技术领域，公开了一种基于多失效机理竞争失效的汽车芯片可靠性评估方法，该方法包括开展单失效机理评估试验得到加速因子及失效率、构建加速因子矩阵和失效率矩阵计算占比系数矩阵、构建多机理竞争失效矩阵计算综合失效率及平均寿命时间以评估其可靠性。本申请，实现了全面考虑多种失效机理的竞争关系，通过科学合理的试验和计算方法，能够准确评估汽车芯片在复杂应力环境下的综合失效率和平均寿命时间，有效克服了传统单独评估各失效机理的局限性，为汽车芯片可靠性评估提供了更精准、更符合实际工况的评估手段，满足汽车行业对芯片可靠性评估的严苛要求，提升了汽车芯片在设计、生产及应用环节的可靠性保障水平。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN119827939A
公开(公告)日：2025-04-15
申请号：CN202510094757.X
申请日：2025-01-21
Applicant: 中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
Abstract: 本申请涉及一种功率器件动态导通电阻检测方法、系统、设备、存储介质及程序产品，应用于功率器件动态导通电阻检测系统，功率器件动态导通电阻检测系统包括上位机、控制器、双脉冲测试电路和信号采集器，其中，双脉冲测试电路安装有被测氮化镓功率器件；方法包括：在被测氮化镓功率器件的测试温度满足预设测试条件的情况下，通过控制器向双脉冲测试电路发送多组双脉冲测试信号；通过信号采集器采集被测氮化镓功率器件在多组双脉冲测试信号下的多组电气测试参数；通过上位机基于多组电气测试参数，检测被测氮化镓功率器件的导通电阻。采用本方法提升进行功率器件动态导通电阻检测的检测准确性。
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公开(公告)号：CN119555711B
公开(公告)日：2025-03-28
申请号：CN202510120710.6
申请日：2025-01-26
Applicant: 中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
Abstract: 本发明公开了一种材料均匀性的自动化检测方法和计算机设备，所述方法包括：设置X射线发射器的电压、电流和曝光时间条件，并且设置待测材料的观察区域和均匀性判定标准；对探测器表面直接照射X射线，获得空场探测图像像素点灰度值：将待测材料放置在探测器表面，对探测器表面照射X射线，获得满场探测图像像素点灰度值；根据空场探测图像的像素点灰度值和满场探测图像的像素点灰度值，计算获取待测材料在观察区域的变异系数；将观察区域的变异系数与所设置的均匀性判定标准进行对比，当变异系数低于判定标准时判断材料均匀性满足要求，否则判断材料均匀性不合格。本发明能够对材料不同区域的致密性、厚度的一致性等进行快速检验判断。
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公开(公告)号：CN119555711A
公开(公告)日：2025-03-04
申请号：CN202510120710.6
申请日：2025-01-26
Applicant: 中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
Abstract: 本发明公开了一种材料均匀性的自动化检测方法和计算机设备，所述方法包括：设置X射线发射器的电压、电流和曝光时间条件，并且设置待测材料的观察区域和均匀性判定标准；对探测器表面直接照射X射线，获得空场探测图像像素点灰度值：将待测材料放置在探测器表面，对探测器表面照射X射线，获得满场探测图像像素点灰度值；根据空场探测图像的像素点灰度值和满场探测图像的像素点灰度值，计算获取待测材料在观察区域的变异系数；将观察区域的变异系数与所设置的均匀性判定标准进行对比，当变异系数低于判定标准时判断材料均匀性满足要求，否则判断材料均匀性不合格。本发明能够对材料不同区域的致密性、厚度的一致性等进行快速检验判断。
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公开(公告)号：CN118937818A
公开(公告)日：2024-11-12
申请号：CN202411196239.0
申请日：2024-08-29
Applicant: 中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
IPC: G01R29/08
Abstract: 本申请涉及一种微波辐射试验装置。装置包括：装置包括信号注入模块、辐射试验模块和样品检测模块，信号注入模块包括探针；辐射试验模块的第一内表面和第二内表面之间的形成谐振腔体，且第一内表面和第二内表面之间的间隔距离非均匀分布；第一内表面上设置有第一开孔和第二开孔，且第二开孔在第一内表面上所处的位置与第二内表面之间的距离小于预设距离阈值；信号注入模块用于通过探针从第一开孔向谐振腔体中注入电场信号源，信号源用于调节谐振腔体中的电场强度；样品检测模块用于通过第二开孔将试验样品安置在谐振腔体中，并检测试验样品在谐振腔体中的微波辐射损伤。采用本装置能够可靠进行微波辐射实验。
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公开(公告)号：CN118801572A
公开(公告)日：2024-10-18
申请号：CN202410979683.3
申请日：2024-07-22
Applicant: 中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
IPC: H02J13/00 , G06F30/20 , G06F113/04 , G06F119/08 , G06F119/04
Abstract: 本申请涉及一种上述功率模块的监测方法、装置、低压配电网和计算机设备，涉及智能电网技术领域，本申请通过获取低压配电网中各功率模块的配置信息和运行状态参数，运行状态参数包括温度参数、湿度参数和电流参数，首先根据各功率模块的配置信息确定各功率模块对应的加速寿命模型，之后即可根据各功率模块的温度参数、湿度参数和电流参数以及对应的加速寿命模型确定各功率模块的寿命预测值，从而实现对低压配电网中各功率模块的寿命的预测，有利于对各功率模块进行可靠性检测及运行管理。
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