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公开(公告)号：CN117832041A
公开(公告)日：2024-04-05
申请号：CN202410013607.7
申请日：2024-01-04
Applicant: 中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
Abstract: 本申请涉及一种过模慢波结构和行波管。所述过模慢波结构包括：相对设置的第一周期性波导和第二周期性波导；在第一方向，所述第一周期性波导和所述第二周期性波导相对设置的端面分别为具有周期性变化波动起伏的端面；所述第一周期性波导的波谷部设有第一开口和第二开口，所述第二周期性波导的波峰部设有第三开口和第四开口，所述第一开口与所述第三开口相对设置，各所述第一开口与各所述第三开口在所述第一方向上连通形成第一带状电子注通道；所述第二开口与所述第四开口相对设置，各所述第二开口与各所述第四开口在所述第一方向上连通形成第二带状电子注通道。采用上述过模慢波结构可以提升行波管的器件性能。
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公开(公告)号：CN117811505A
公开(公告)日：2024-04-02
申请号：CN202311832323.2
申请日：2023-12-27
Applicant: 中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
Abstract: 本申请提供一种双通道毫米波高线性上变频集成装置和毫米波高线性功率放大器的测试系统，其中，双通道毫米波高线性上变频集成装置包括第一滤波器、第二滤波器、第三滤波器、功分器、第一倍频放大链路、第二倍频放大链路、第一混频器、第二混频器、第一滤波放大链路和第二滤波放大链路。本申请的双通道毫米波高线性上变频集成装置用于为待测毫米波高线性功率放大器提供可用于测试IM3、ACPR及EVM指标的输入信号。进一步地，本申请的双通道毫米波高线性上变频集成装置至少具有可降低测试成本、提高测试准确性的优点。
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公开(公告)号：CN118360567A
公开(公告)日：2024-07-19
申请号：CN202410521912.7
申请日：2024-04-28
Applicant: 中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
Abstract: 本发明涉及一种导电离子镀层和导电离子镀层制备方法，包括：第一导电离子镀层，位于基材表面上方，所述第一导电离子镀层包括第一氮化钛层，第一氮化钛层包括多个氮化钛子层，各所述第一氮化钛层中氮元素的含量沿远离所述基材的方向依次增加；至少一第二导电离子镀层，各所述第二导电离子镀层层叠设置于所述第一导电离子镀层的远离基材的表面，所述第二导电离子镀层包括复合层和第二氮化钛层，其中，所述复合层包括二硫化钼和钛，所述复合层作为底层，所述第二氮化钛层作为顶层。通过本申请的导电离子镀层可以防止接触件发生金属粘接。
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公开(公告)号：CN116087668A
公开(公告)日：2023-05-09
申请号：CN202310250939.2
申请日：2023-03-15
Applicant: 中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
IPC: G01R31/00
Abstract: 本申请提供了毫米波高线性功率放大器的测试装置、方法及存储介质，测试装置包括中频信号源、第一本振模拟信号源、第二本振模拟信号源、双通道上变频集成模块、合路器、毫米波高线性功率放大器、第一下变频集成模块、第二下变频集成模块、第一毫米波功率计、第二毫米波功率计以及信号分析仪。中频信号源的第一输出端与双通道上变频集成模块的第一端电连接，中频信号源的第二端与双通道上变频集成模块的第二端电连接，双通道上变频集成模块的第三端与第一本振模拟信号源电连接。通过双通道上变频集成模块、第一下变频集成模块、第二下变频集成模块以及其他基础设备及配件，实现对毫米波高线性功率放大器电参数性能的高效测试。
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公开(公告)号：CN118137295A
公开(公告)日：2024-06-04
申请号：CN202410287457.9
申请日：2024-03-13
Applicant: 中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
Abstract: 本申请涉及基于液态金属的气体火花开关装置和脉冲功率发生器。所述装置包括：绝缘壳体、触发电极和液态金属；绝缘壳体包括放电壳体和两个主电极壳体；各主电极壳体设置于放电壳体两侧；其中，放电壳体为倒U型结构，在倒U型结构内部设置有触发电极；主电极壳体为中空的腔体结构；在主电极壳体的腔体内设置有液态金属；若触发电极上施加有触发电压，则在两个主电极壳体之间位于放电壳体的外表面上形成放电通路；若触发电极上未施加有触发电压，则放电壳体与两个主电极壳体绝缘。通过液态金属，改善了传统气体火花开关电极的烧蚀情况，延长气体火花开关的寿命和可靠性。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN117790262A
公开(公告)日：2024-03-29
申请号：CN202311858081.4
申请日：2023-12-29
Applicant: 中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
Abstract: 本申请涉及一种慢波结构及行波管。该慢波结构包括：周期性波导；周期性波导包括第一波导、第二波导和柱体，柱体位于第一波导和第二波导之间；在第一方向，第一波导和第二波导朝向柱体的端面分别为具有周期性变化波动起伏的端面；柱体朝向第一波导、第二波导的两端分别设有第一开口和第二开口，第一波导的波谷部设有第三开口，第二波导的波峰部设有第四开口，第一开口与第三开口相对设置，各第一开口与各第三开口连通形成第一电子注入通道，第二开口与第四开口相对设置，各第二开口与各第四开口连通形成第二电子注入通道。采用上述慢波结构可以提升行波管的器件性能。
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公开(公告)号：CN117680259A
公开(公告)日：2024-03-12
申请号：CN202311783533.7
申请日：2023-12-22
Applicant: 中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
IPC: B02C19/18
Abstract: 本申请涉及一种电脉冲破碎反应器及固体物料破碎加工系统，包括反应器本体的内部形成反应腔室，反应器本体的外壁设置有加压阀，加压阀与反应腔室连通，加压阀用于向反应腔室内通入高压气体；第一高压套管和第二高压套管，第一高压套管和第二高压套管分别装设于反应器本体上；及第一空心电极和第二空心电极，第一空心电极和第二空心电极分别装设于反应腔室的侧壁上，第一空心电极和第二空心电极间隔以围成有反应通道。使反应腔室充满高压气体，同时产生放电现象以形成高压脉冲电火花，由于高压空气能形成绝缘效果，从而抑制空气直接击穿和沿面放电现象发生，使产生的高压脉冲电火花能有效击穿反应通道内的固体物料，获得很好的物料破碎效果。
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公开(公告)号：CN116130319A
公开(公告)日：2023-05-16
申请号：CN202310156875.X
申请日：2023-02-23
Applicant: 中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
Abstract: 本发明涉及一种行波管的慢波结构。该慢波结构包括：波导、矩形栅和电子注通道：波导包括对应设置的两个周期性波导；各周期性波导之间形成耦合腔体，且各周期性波导的周期相同；矩形栅位于耦合腔体中；矩形栅中矩形块的数量与周期性波导的周期数量对应；电子注通道位于波导与矩形栅之间；波导中电磁波的前进方向、矩形栅中各矩形块的排列方向、以及电子注通道中电子注的传输方向满足相似条件。采用本方法能够提高慢波结构的输入直流电流。
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公开(公告)号：CN116013750A
公开(公告)日：2023-04-25
申请号：CN202310017834.2
申请日：2023-01-06
Applicant: 中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
Abstract: 本申请涉及一种慢波结构和返波振荡器。所述慢波结构包括周期性波导；所述周期性波导包括相对设置的第一结构和第二结构，其中，在第一方向上，所述第一结构和所述第二结构相对设置的端面分别为具有周期性变化波动起伏的端面，所述第一结构的波峰部与所述第二结构的波峰部在第一方向上的投影重合，且所述第一结构的波峰部与所述第二结构的波峰部之间的距离为极小值，在所述第一结构的波谷部和所述第二结构的波峰部开设有注入通道，在第一方向上各所述注入通道连通形成电子注通道。采用本慢波结构能够提供更大的工作电流及提高互作用耦合阻抗，进而提升返波振荡器的输出性能。
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公开(公告)号：CN118937818A
公开(公告)日：2024-11-12
申请号：CN202411196239.0
申请日：2024-08-29
Applicant: 中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
IPC: G01R29/08
Abstract: 本申请涉及一种微波辐射试验装置。装置包括：装置包括信号注入模块、辐射试验模块和样品检测模块，信号注入模块包括探针；辐射试验模块的第一内表面和第二内表面之间的形成谐振腔体，且第一内表面和第二内表面之间的间隔距离非均匀分布；第一内表面上设置有第一开孔和第二开孔，且第二开孔在第一内表面上所处的位置与第二内表面之间的距离小于预设距离阈值；信号注入模块用于通过探针从第一开孔向谐振腔体中注入电场信号源，信号源用于调节谐振腔体中的电场强度；样品检测模块用于通过第二开孔将试验样品安置在谐振腔体中，并检测试验样品在谐振腔体中的微波辐射损伤。采用本装置能够可靠进行微波辐射实验。
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