指导半导体制造过程的方法和电子设备

    公开(公告)号:CN112446167A

    公开(公告)日:2021-03-05

    申请号:CN202010876227.8

    申请日:2020-08-27

    Abstract: 一种指导半导体制造过程的方法包括:接收与目标半导体产品对应的半导体制造过程数据;通过使用技术计算机辅助设计(TCAD)模型来生成与半导体制造过程数据对应的第一半导体特性数据,该TCAD模型是基于包括TCAD模拟数据的训练数据通过机器学习进行训练的;通过使用紧凑模型来生成与半导体制造过程数据对应的第二半导体特性数据,该紧凑模型是基于第一半导体产品的至少一个半导体特性的测量信息来生成的;基于第一半导体特性数据和第二半导体特性数据,通过使用多个对策模型生成分别与多个对策参考对应的多个过程策略;以及基于多个过程策略提供与目标半导体产品对应的最终过程策略。

    半导体器件
    4.
    发明授权

    公开(公告)号:CN106847876B

    公开(公告)日:2021-07-30

    申请号:CN201611087672.6

    申请日:2016-11-30

    Abstract: 提供了一种半导体器件,所述半导体器件包括:鳍型图案,沿第一方向延伸;器件隔离膜,围绕鳍型图案的同时暴露鳍型图案的上部;栅电极,在器件隔离膜和鳍型图案上沿与第一方向相交的第二方向延伸;栅极隔离膜,将栅电极沿第二方向隔离开,并包括第一材料;层间绝缘膜,在所述器件隔离膜上,填充鳍型图案的侧表面并包括不同于第一材料的第二材料。

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