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公开(公告)号：CN115086415A
公开(公告)日：2022-09-20
申请号：CN202210644936.2
申请日：2022-06-08
Applicant: 上海精密计量测试研究所
IPC: H04L67/55 , G06Q50/18 , G06F16/9535 , G06F16/36 , G06F16/35
Abstract: 本发明实施例提供了一种知识产权资源的推送方法，其特征在于，包括：步骤1：从数据源获取知识产权资源数据库；所述数据源包括现有的知识产权信息平台；步骤2：记录用户在所述知识产权资源数据库的操作行为，构建操作行为特征关系向量，所述操作行为包括用户的搜索行为及点击行为；步骤3：根据搜索行为及点击行为，生成用户遍历知识产权资源的“实体‑关系‑属性”三元组架构；步骤4：对所述知识产权资源的三元组架构进行实体对齐，生成本体模型，所述本体模型用于根据用户输入的指定实体确定推荐实体。
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公开(公告)号：CN114966252A
公开(公告)日：2022-08-30
申请号：CN202111505888.0
申请日：2021-12-10
Applicant: 上海精密计量测试研究所
IPC: G01R31/00
Abstract: 本发明提供了一种数字信号处理电路辐照测试系统，所述数字信号处理电路辐照测试系统包括FPGA母板电路、DSP子板电路、上位机和电源模块，所述数字信号处理电路辐照测试系统置于辐照室中进行辐照测试；所述上位机通过网口与FPGA母板电路连接，上位机通过控制FPGA母板电路来控制DSP子板电路的偏置状态；所述电源模块对FPGA母板电路和DSP子板电路进行供电，所述电源模块采用TPS54310芯片，输入电压为5V，输出电压在0.9V‑3.3V之间调节。本发明通过字母板的设计方案，可以同时对两块DSP进行配置，提高了辐射实验的效率，并且能够进行动态偏置和静态偏置两种偏置实验。
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公开(公告)号：CN114894838A
公开(公告)日：2022-08-12
申请号：CN202210477014.7
申请日：2022-05-02
Applicant: 上海精密计量测试研究所
Abstract: 本发明的定量评估NMOS晶体管焊料层孔隙安全分布区域的方法包括：制备一系列焊料层孔隙率相同、孔隙分布位置不同的标定样品；通过超声波扫描显微镜验证各标定样品焊料层孔隙分布情况；采用瞬态热阻法获得孔隙位置与热阻参数的关系；根据孔隙位置与热阻参数的关系，确定焊料层孔隙的安全分布范围。本发明根据焊料孔隙‑芯片焊盘中心点间距，定量确定焊料层孔隙的安全分布区域，剔除含有显著影响散热性能孔隙的器件，保留含有不显著影响散热性能孔隙的器件，减少NMOS晶体管不必要的批退、返厂和报废，提升NMOS晶体管的利用率，解决了传统方法无法定量评估焊料孔隙位置对NMOS晶体管散热性能影响程度的不足。
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公开(公告)号：CN109885348B
公开(公告)日：2022-06-24
申请号：CN201711270933.2
申请日：2017-12-05
Applicant: 上海精密计量测试研究所 , 上海航天信息研究所
IPC: G06F9/445
Abstract: 本发明提供了一种动态层进式装备零部件分解的实现方法，该方法能够根据装备层级关系，通过递归法对装备进行动态层进分解，动态地展示不同层级上的部件分解过程以及分解进度可调节的零部件分解方式，解决了现有技术中工作量大、操作复杂、不具备通用性的问题。动态层进式装备零部件分解方法作为一种可以展示部件分解过程的认知方式，比静态分解更直观、更形象，可以大大提高部件认知效率。
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公开(公告)号：CN109614143B
公开(公告)日：2022-06-21
申请号：CN201811506174.X
申请日：2018-12-10
Applicant: 上海精密计量测试研究所 , 上海航天信息研究所
Abstract: 本发明的IETM浏览器中自动生成故障流程图的开发方法包括故障流程图自动生成，利用预置的故障隔离逻辑和Dojo的gfx技术动态生成故障流程图；包括故障流程图浏览交互，所述故障流程图浏览交互利用JS技术实现；包括故障浏览交互记录和统计展示，所述浏览交互记录和统计展示利用数据库保存浏览交互的记录；利用Dojo的gfx和charting展示浏览交互的统计。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN114414971A
公开(公告)日：2022-04-29
申请号：CN202111530294.5
申请日：2021-12-14
Applicant: 上海精密计量测试研究所
Abstract: 本发明提供了一种基于CMOS图像传感器暗电流来定量质子电离损伤的方法，包括第一步，选取2只同晶圆批的CMOS图像传感器，分为A组、B组，第二步，对A组的CMOS图像传感器进行70MeV质子辐照试验；第三步，对A组CMOS图像传感器进行结构分析；第四步，采用粒子输运软件Geant4计算非电离能损，计算出位移损伤剂量；第五步，采用粒子输运软件Geant4计算非电离能损，根据位移损伤剂量计算出对应的中子注量Fni；第六步，对B组的CMOS图像传感器进行反应堆中子辐照试验；第七步，计算空间质子电离损伤△μi，△μi＝μAi‑μBi；第八步，拟合△μi‑Fpi的变化曲线。本发明消除位移损伤的影响、定量评价质子电离损伤，精准预判器件在轨性能退化趋势，提前做好防护措施，对航天器在轨安全运行具有重要意义。
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公开(公告)号：CN114414322A
公开(公告)日：2022-04-29
申请号：CN202111504593.1
申请日：2021-12-10
Applicant: 上海精密计量测试研究所
Abstract: 本发明实施例提供了一种浇注可逆元器件制样研磨方法，其特征在于，包括步骤：步骤1：将在80℃熔化成液体的石蜡引流致放置有样品的模具中；步骤2：将冷却固化的石蜡连同其中的样品从模具中取下，开展研磨、抛光，对抛光后的制样进行镜检、拍照；步骤3：采用对样品无损的方式将石蜡熔化成液态，从液状石蜡中取出完成镜检、拍照流程的样品，并对样品进行清洗。
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公开(公告)号：CN114408309A
公开(公告)日：2022-04-29
申请号：CN202111536195.8
申请日：2021-12-14
Applicant: 上海精密计量测试研究所
Abstract: 本发明提供了一种带交联乙烯‑四氟乙烯导线的组件的防腐蚀包装方法，其特征在于，其包括以下步骤：S1、导线前处理：包括将剪好的导线放入烘箱中进行热处理；S2、导线组件包装：包括将热处理过的导线组装成导线组件后进行单元包装，所述单元包装采用自封袋打孔包装或者真空干燥包装。本发明通过对X‑ETFE导线进行前处理将氟元素提前释放，并通过采用自封袋打孔的包装方法，使得包装内含氟物质通过打孔向外散发，从而降低电连接器金属零件的腐蚀速率；或者采用真空干燥包装方法，除去空气中的水气，以有利于延长贮存时间，有效解决了腐蚀的问题。
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公开(公告)号：CN114384456A
公开(公告)日：2022-04-22
申请号：CN202111531830.3
申请日：2021-12-14
Applicant: 上海精密计量测试研究所
Abstract: 本发明实施例提供了一种线路阻抗稳定网络校准适配器，其特征在于，包括火线接片，地线接片，BNC法兰盘，绝缘板；其中，所述BNC法兰盘的底盘与所述地线接片焊接相连，且一端用螺丝固定在所述绝缘板上，所述BNC法兰盘的BNC接口信号内芯穿过所述绝缘板与所述火线接片焊接相连；所述火线接片用螺丝固定于所述绝缘板上；所述火线接片与所述地线接片不相连。
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公开(公告)号：CN113985130A
公开(公告)日：2022-01-28
申请号：CN202110880766.3
申请日：2021-08-02
Applicant: 上海精密计量测试研究所
Abstract: 本发明提供了一种带线电连接器直流电阻测试自动测试系统及测试方法。所述系统包括：计算机(1)；测试控制主机(2)，包括多路测试单元(5)与运动控制单元(6)；配对转接工装(3)，包括测试电缆一(21)、转接电缆(22)，所述测试电缆一(21)一端与多通道测试接口(16)相连，另一端与转接电缆(22)相连；夹持装置(4)，包括正反牙丝杆滑台(23)、步进电机(20)、齿形刀片组合(24)、测试电缆二(25)、送线夹具(26)，所述齿形刀片组合(24)为具有多个齿尖刃口的上、下刀片，上刀片(31)与下刀片(32)齿尖与齿尖相对安装固定。本发明可通过一次装夹，简单、高效、准确地实现带线电连接器各接点的直流电阻测试。
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