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公开(公告)号：CN114966252A
公开(公告)日：2022-08-30
申请号：CN202111505888.0
申请日：2021-12-10
Applicant: 上海精密计量测试研究所
IPC: G01R31/00
Abstract: 本发明提供了一种数字信号处理电路辐照测试系统，所述数字信号处理电路辐照测试系统包括FPGA母板电路、DSP子板电路、上位机和电源模块，所述数字信号处理电路辐照测试系统置于辐照室中进行辐照测试；所述上位机通过网口与FPGA母板电路连接，上位机通过控制FPGA母板电路来控制DSP子板电路的偏置状态；所述电源模块对FPGA母板电路和DSP子板电路进行供电，所述电源模块采用TPS54310芯片，输入电压为5V，输出电压在0.9V‑3.3V之间调节。本发明通过字母板的设计方案，可以同时对两块DSP进行配置，提高了辐射实验的效率，并且能够进行动态偏置和静态偏置两种偏置实验。
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公开(公告)号：CN113900367B
公开(公告)日：2022-04-19
申请号：CN202111124208.0
申请日：2021-09-24
Applicant: 上海精密计量测试研究所
Abstract: 本发明提供了一种氢原子钟频率驾驭系统，包括主钟系统、共视比对接收机和中心服务器；所述主钟系统包括氢原子钟和相位微调器，氢原子钟将时间基准信号输入到相位微调器进行处理；相位微调器将处理后形成1PPS信号，并将1PPS信号输入到共视比对接收机；共视比对接收机通过天线接收卫星信号，并将1PPS信号和卫星信号进行比对，形成共视比对数据文件；主钟系统通过相位微调器将共视比对数据文件通过网络发送给中心服务器，中心服务器对共视比对数据文件进行处理，将反馈调整量返回至相位微调器，完成氢原子钟频率驾驭。
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公开(公告)号：CN113848568A
公开(公告)日：2021-12-28
申请号：CN202111124209.5
申请日：2021-09-24
Applicant: 上海精密计量测试研究所
IPC: G01S19/07
Abstract: 本发明提供了一种时间校正系统，包括客户端和参考端：客户端包括时间频率源、相位微调器、本地GNSS时间频率传递装置和驯服控制系统；时间频率源将待校准时间输入通过相位微调器，相位微调器处理后形成1PPS信号，并将1PPS信号输入到本地GNSS时间频率传递装置；本地GNSS时间频率传递装置将通过天线接收的卫星信号和1PPS信号进行比对，生成单站时差数据，并输入到驯服控制系统；参考端包括参考GNSS时间频率传递装置和UTC装置；UTC装置向参考GNSS时间频率装置提供参考时间；参考GNSS时间频率传递装置将通过天线接收的卫星信号和参考时间进行比对，生成时差参考数据，并上传至FTP服务器进行存储。
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公开(公告)号：CN113900367A
公开(公告)日：2022-01-07
申请号：CN202111124208.0
申请日：2021-09-24
Applicant: 上海精密计量测试研究所
Abstract: 本发明提供了一种氢原子钟频率驾驭系统，包括主钟系统、共视比对接收机和中心服务器；所述主钟系统包括氢原子钟和相位微调器，氢原子钟将时间基准信号输入到相位微调器进行处理；相位微调器将处理后形成1PPS信号，并将1PPS信号输入到共视比对接收机；共视比对接收机通过天线接收卫星信号，并将1PPS信号和卫星信号进行比对，形成共视比对数据文件；主钟系统通过相位微调器将共视比对数据文件通过网络发送给中心服务器，中心服务器对共视比对数据文件进行处理，将反馈调整量返回至相位微调器，完成氢原子钟频率驾驭。
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公开(公告)号：CN111579956B
公开(公告)日：2022-09-20
申请号：CN202010267509.8
申请日：2020-04-08
Applicant: 上海精密计量测试研究所
Abstract: 本发明涉及可调节表贴封装半导体器件夹具及测试方法，夹具包括第一PCB基板、第二PCB基板、可调节连接组件、底座、簧片、底座插针、插针和弹力带；第一PCB基板和第二PCB基板上均排布有微带线；第一PCB基板和所述第二PCB基板上各设置一底座；两底座上均设有簧片，簧片通过底座插针与微带线连接，微带线与插针连接；第一PCB基板通过所述可调节连接组件与第二PCB基板连接，调节可调节连接组件改变第一PCB基板与第二PCB基板之间的相对位置，从而改变两底座之间的相对位置；待测表贴封装半导体器件两侧的管脚分别与两底座上的簧片接触，并通过弹力带将待测表贴封装半导体器件绑定在两底座上，使管脚与簧片紧压。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN114971008A
公开(公告)日：2022-08-30
申请号：CN202210563099.0
申请日：2022-05-19
Applicant: 上海精密计量测试研究所
Abstract: 本发明提供一种基于用户评价的专利代理数量预测方法，包括了以下步骤：通过设计合理调查问卷，提取出影响用户选择的影响因子及其权重；利用调查问卷结果，结合权重比给出用户对专利代理结构整体评分；根据用户评分，得到用户选择门限，建立用户选择模型；利用样本评分数据，对专利代理机构改善影响因子后的结果进行量化预测。
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公开(公告)号：CN111579956A
公开(公告)日：2020-08-25
申请号：CN202010267509.8
申请日：2020-04-08
Applicant: 上海精密计量测试研究所
Abstract: 本发明涉及可调节表贴封装半导体器件夹具及测试方法，夹具包括第一PCB基板、第二PCB基板、可调节连接组件、底座、簧片、底座插针、插针和弹力带；第一PCB基板和第二PCB基板上均排布有微带线；第一PCB基板和所述第二PCB基板上各设置一底座；两底座上均设有簧片，簧片通过底座插针与微带线连接，微带线与插针连接；第一PCB基板通过所述可调节连接组件与第二PCB基板连接，调节可调节连接组件改变第一PCB基板与第二PCB基板之间的相对位置，从而改变两底座之间的相对位置；待测表贴封装半导体器件两侧的管脚分别与两底座上的簧片接触，并通过弹力带将待测表贴封装半导体器件绑定在两底座上，使管脚与簧片紧压。
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公开(公告)号：CN114966252B
公开(公告)日：2024-07-02
申请号：CN202111505888.0
申请日：2021-12-10
Applicant: 上海精密计量测试研究所
IPC: G01R31/00
Abstract: 本发明提供了一种数字信号处理电路辐照测试系统，所述数字信号处理电路辐照测试系统包括FPGA母板电路、DSP子板电路、上位机和电源模块，所述数字信号处理电路辐照测试系统置于辐照室中进行辐照测试；所述上位机通过网口与FPGA母板电路连接，上位机通过控制FPGA母板电路来控制DSP子板电路的偏置状态；所述电源模块对FPGA母板电路和DSP子板电路进行供电，所述电源模块采用TPS54310芯片，输入电压为5V，输出电压在0.9V‑3.3V之间调节。本发明通过字母板的设计方案，可以同时对两块DSP进行配置，提高了辐射实验的效率，并且能够进行动态偏置和静态偏置两种偏置实验。
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公开(公告)号：CN213581764U
公开(公告)日：2021-06-29
申请号：CN202022586714.9
申请日：2020-11-10
Applicant: 上海精密计量测试研究所
IPC: G04F10/00
Abstract: 本实用新型提供了一种时间间隔测量装置，包括信号调理模块、测量模块和数据传输模块；待测信号输入到信号调理模块，信号调理模块将待测信号进行调理后转换成标准信号，发送到测量模块；测量模块计算出测量数据，并将测量数据转换成二进制码，发送到数据传输模块；数据传输模块将测量数据传输到单片机完成测量数据的处理，处理完成后通过显示器完成测量数据的显示。本实用新型测量模块采用FPGA芯片，不仅可以解决电路系统小化、低功耗、高可靠性等问题，而且开发周期短，开发软件投入少。
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公开(公告)号：CN212330769U
公开(公告)日：2021-01-12
申请号：CN202020495368.0
申请日：2020-04-08
Applicant: 上海精密计量测试研究所
IPC: B25B11/00
Abstract: 本实用新型涉及可调节表贴封装半导体器件夹具，夹具包括第一PCB基板、第二PCB基板、可调节连接组件、底座、簧片、底座插针、插针和弹力带；第一PCB基板和第二PCB基板上均排布有微带线；第一PCB基板和所述第二PCB基板上各设置一底座；两底座上均设有簧片，簧片通过底座插针与微带线连接，微带线与插针连接；第一PCB基板通过所述可调节连接组件与第二PCB基板连接，调节可调节连接组件改变第一PCB基板与第二PCB基板之间的相对位置，从而改变两底座之间的相对位置；待测表贴封装半导体器件两侧的管脚分别与两底座上的簧片接触，并通过弹力带将待测表贴封装半导体器件绑定在两底座上，使管脚与簧片紧压。
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