半导体器件及其制造方法
    53.
    发明公开

    公开(公告)号:CN106683987A

    公开(公告)日:2017-05-17

    申请号:CN201610962976.6

    申请日:2016-10-28

    CPC classification number: H01L21/027

    Abstract: 本发明提供了一种制造半导体器件的方法,该方法包括以下步骤:在衬底上形成包括真实掩模图案和伪掩模图案的多个掩模图案;去除伪掩模图案;以及利用真实掩模图案作为掩模对衬底进行蚀刻,以形成第一沟槽、第二沟槽以及由第一沟槽和第二沟槽限定的鳍式图案。接触鳍式图案的第二沟槽包括凸出并且位于第二沟槽的底表面与侧表面之间的平滑图案、位于第二沟槽的侧表面与平滑图案之间的第一凹进部分和位于凸出部分与第二沟槽的底表面之间的第二凹进部分。

    半导体装置
    54.
    发明公开

    公开(公告)号:CN106653851A

    公开(公告)日:2017-05-10

    申请号:CN201610948671.X

    申请日:2016-10-26

    Abstract: 提供一种半导体装置,所述半导体装置包括:第一鳍型图案,包括彼此相对的第一侧表面和第二侧表面;第一深度的第一沟槽,与第一侧表面相邻;第二深度的第二沟槽,与第二侧表面相邻,第二深度与第一深度不同;第一场绝缘膜,部分地填充第一沟槽;以及第二场绝缘膜,部分地填充第二沟槽。第一鳍型图案具有下部和宽度比下部的宽度窄的上部,并具有位于上部与下部之间的边界上的第一台阶部。第一场绝缘膜包括与下部接触的第一下场绝缘膜和与上部接触的第一上场绝缘膜。

    半导体器件
    59.
    发明公开
    半导体器件 审中-公开

    公开(公告)号:CN117637752A

    公开(公告)日:2024-03-01

    申请号:CN202311071592.1

    申请日:2023-08-23

    Inventor: 刘庭均 朴起宽

    Abstract: 一种半导体器件包括:在基板的第一区域和第二区域上的第一有源鳍和第二有源鳍;隔离图案,在第一区域和第二区域之间的边界以及第一区域和第二区域的与其相邻的部分上,隔离图案将第一有源鳍和第二有源鳍分开;第一栅极结构,在第一区域上的第一有源鳍和隔离图案上;第二栅极结构,在第二区域上的第二有源鳍和隔离图案上;第一源极/漏极层,在与第一栅极结构相邻的第一有源鳍上;以及第二源极/漏极层,在与第二栅极结构相邻的第二有源鳍上。第一栅极结构与第一有源鳍重叠的部分的宽度大于第二栅极结构与第二有源鳍重叠的部分的宽度。

    集成电路器件及其制造方法

    公开(公告)号:CN107170741B

    公开(公告)日:2023-07-04

    申请号:CN201710130993.8

    申请日:2017-03-07

    Abstract: 一种集成电路(IC)器件包括:彼此邻近的一对鳍形有源区,在其间有鳍分离区,所述一对鳍形有源区延伸成一行;以及在鳍分离区中的鳍分离绝缘结构,其中所述一对鳍形有源区包括第一鳍形有源区,第一鳍形有源区具有限定部分的鳍分离区的第一拐角,并且其中鳍分离绝缘结构包括:下绝缘图案,覆盖所述一对鳍形有源区的侧壁;以及上绝缘图案,在下绝缘图案上以覆盖第一拐角的至少部分,上绝缘图案具有在比所述一对鳍形有源区的每个的顶表面高的水平处的顶表面。

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