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    基片上导体互连的电测试
    21.
    发明授权
    基片上导体互连的电测试 失效

    公开(公告)号：CN1208626C

    公开(公告)日：2005-06-29

    申请号：CN00818564.6

    申请日：2000-11-23

    申请人： 克里斯多弗·沃彻

    发明人： 克里斯多弗·沃彻

    IPC分类号： G01R31/305

    CPC分类号： G01R31/305

    摘要： 本发明涉及测量导体(4)的一端到另一端的电阻或导体之间的电阻，为此测试目的，与导体无任何机械接触地在导体中建立电流；该方法包括面向并靠近所述导体(4)设置一块包含多个导电区(8、10)的装置板(2)，这些导电区可被个别地置于任何可调电位；用一粒子束(7)照射所述导体(4)上的第一点(C)以从中击出电子，并在所述导体(4)的第二点(B)处注入电子。

    基片上导体互连的电测试
    22.
    发明公开
    基片上导体互连的电测试 失效

    公开(公告)号：CN1425138A

    公开(公告)日：2003-06-18

    申请号：CN00818564.6

    申请日：2000-11-23

    申请人： 克里斯多弗·沃彻

    发明人： 克里斯多弗·沃彻

    IPC分类号： G01R31/305

    CPC分类号： G01R31/305

    摘要： 本发明涉及测量导体(4)的一端到另一端的电阻或导体之间的电阻，为此测试目的，与导体无任何机械接触地在导体中建立电流；该方法包括面向并靠近所述导体(4)设置一块包含多个导电区(8、10)的装置板(2)，这些导电区可被个别地置于任何可调电位；用一粒子束(7)照射所述导体(4)上的第一点(C)以从中击出电子，并在所述导体(4)的第二点(B)处注入电子。

    一种空间飞行器信息处理单元辐射退化测量装置及方法
    24.
    发明授权
    一种空间飞行器信息处理单元辐射退化测量装置及方法 有权

    公开(公告)号：CN106443420B

    公开(公告)日：2019-11-15

    申请号：CN201610783052.X

    申请日：2016-08-30

    申请人： 哈尔滨工业大学

    发明人： 彭宇 ,  马宁 ,  王少军 ,  刘大同 ,  厉明坤 ,  彭喜元

    IPC分类号： G01R31/305 ,  G01R31/3181 ,  G01R31/319

    摘要： 本发明涉及一种空间飞行器信息处理单元辐射退化测量装置及方法，为了解决现有技术的测试方法需要外接测量设备，不适合卫星上的实际使用情况的问题，本发明提出一种空间飞行器信息处理单元辐射退化测量装置，包括环振组、输出选择开关、计数器、定时器、测量控制模块以及输出总线接口，输出选择开关用于从所有环振单元中选择一个为计数器提供频率信号，频率信号用于反映FPGA器件的退化程度；定时器达到定时时长后，向计数器及测量控制模块发送停止信号；测量控制模块能够向计数器以及定时器发送启动信号；输出总线接口用于将测量控制模块中的频率信号读取至总线。本发明还包括一种空间飞行器信息处理单元辐射退化测量方法。本发明适用于空间飞行器。

    芯片对数据库的接触窗检测方法
    25.
    发明公开
    芯片对数据库的接触窗检测方法 无效

    公开(公告)号：CN105588844A

    公开(公告)日：2016-05-18

    申请号：CN201410576461.3

    申请日：2014-10-24

    申请人： 旺宏电子股份有限公司

    发明人： 骆统 ,  李筱玲 ,  杨令武 ,  杨大弘 ,  陈光钊

    IPC分类号： G01N21/95 ,  G01Q30/02 ,  G01R31/305

    摘要： 本发明公开了一种芯片对数据库的接触窗检测方法，包括取得晶片中数个接触窗的实际影像，并对所述实际影像的位置进行译码，以得到图形文件。将图形文件与芯片的设计数据库(design database)对准。然后，对所述实际影像进行影像萃取，以得到接触窗的影像轮廓，随后测量接触窗的所述影像轮廓与上述设计数据库中的对应接触窗在关键尺寸上的差异，以得到晶片的接触窗检测结果。