三维半导体装置
    22.
    发明公开

    公开(公告)号:CN107240588A

    公开(公告)日:2017-10-10

    申请号:CN201710187317.4

    申请日:2017-03-27

    Abstract: 一种半导体装置包括包含单元阵列区和外围电路区的基底。半导体装置还包括设置在单元阵列区中并包括连接到位线的多个单元串的单元阵列。位线在第一方向上延伸。半导体装置附加地包括设置在外围电路区中并包括在与第一方向交叉的第二方向上布置的多个第一单元的第一单元行。第一方向和第二方向平行于基底的上表面。半导体装置还包括多条第一互连线和多条第一电源线,所述多条第一互连线均具有在第一方向上的纵向轴并连接到多个第一单元,所述多条第一电源线在第二方向上延伸并通过第一互连线连接到多个第一单元。

    具有闪速熔丝单元阵列的闪速存储设备

    公开(公告)号:CN100573715C

    公开(公告)日:2009-12-23

    申请号:CN200610059257.X

    申请日:2006-02-05

    Inventor: 金泰成 金奎泓

    Abstract: 提供了一种闪速存储设备,包括闪速单元阵列、第一闪速熔丝单元熔断电路、第二闪速熔丝单元熔断电路、第三闪速熔丝单元熔断电路以及多个熔丝感测放大电路。第一、第二和第三闪速熔丝单元熔断电路都与闪速单元阵列共享位线,并具有闪速熔丝单元。第一闪速熔丝单元熔断电路可以用于控制闪速单元阵列和外部逻辑电路之间的连接。第二闪速熔丝单元熔断电路可以用于将有缺陷的单元的地址变成冗余单元的地址。第三闪速熔丝单元熔断电路可以用于控制DC电平,其用以调整在闪速存储设备的生产过程中使用的参考值。熔丝感测放大电路分别与位线耦合,以从位线读取数据。

    半导体器件、半导体封装件和制造半导体器件的方法

    公开(公告)号:CN110610923B

    公开(公告)日:2025-04-04

    申请号:CN201910504531.7

    申请日:2019-06-12

    Inventor: 洪义官 金泰成

    Abstract: 提供了一种半导体器件、一种半导体封装件和一种制造半导体器件的方法。所述半导体器件包括:第一结构,所述第一结构包括第一导电图案,所述第一导电图案在所述第一结构的上部被暴露;模制层,所述模制层覆盖所述第一导电图案;第二结构,所述第二结构位于所述模制层上;以及贯穿通路,所述贯穿通路穿过所述第二结构和所述模制层,所述贯穿通路电连接到所述第一导电图案,所述贯穿通路包括位于所述第二结构中的第一通路部分和位于所述模制层中的第二通路部分,所述第二通路部分连接到所述第一通路部分,所述第二通路部分的上部具有第一宽度,所述第二通路部分的中间部分具有大于所述第一宽度的第二宽度。

    具有贯穿硅通路的半导体器件及其制造方法

    公开(公告)号:CN111162048B

    公开(公告)日:2024-12-20

    申请号:CN201910627454.4

    申请日:2019-07-12

    Abstract: 提供一种具有贯穿硅通路的半导体器件及其制造方法。所述半导体器件包括:第一绝缘中间层,所述第一绝缘中间层设置在衬底的第一表面上;焊盘图案,所述焊盘图案设置在所述第一绝缘中间层的下表面上,所述焊盘图案包括第一铜图案;以及贯穿硅通路,所述贯穿硅通路穿过所述衬底和所述第一绝缘中间层,并接触所述焊盘图案的所述第一铜图案。所述贯穿硅通路包括穿过所述衬底和所述第一绝缘中间层的第一部分,以及在所述第一部分下方并延伸到所述焊盘图案中的所述第一铜图案的一部分的第二部分。所述贯穿硅通路具有在所述第一部分与所述第二部分之间的边界处的弯曲部分。

    半导体器件制造方法和使用该半导体器件制造方法而制造的半导体器件

    公开(公告)号:CN119028996A

    公开(公告)日:2024-11-26

    申请号:CN202410436991.1

    申请日:2024-04-11

    Abstract: 本公开提供了一种半导体器件制造方法,包括:形成下芯片和上芯片;以及将下芯片和上芯片彼此接合。形成下芯片包括:提供下衬底;顺序地形成下层间绝缘膜和预下粘合膜;蚀刻预下粘合膜和下层间绝缘膜的部分以形成下沟槽;使用溅射工艺来形成第一下籽晶膜和第二下籽晶膜。形成上芯片包括:提供上衬底;顺序地形成上层间绝缘膜和预上层粘合膜;蚀刻预上层粘合膜和上层间绝缘膜的部分以形成上沟槽;使用溅射工艺来形成第一上籽晶膜和第二上籽晶膜。

    包括硅通孔的集成电路半导体器件

    公开(公告)号:CN113451256A

    公开(公告)日:2021-09-28

    申请号:CN202011555509.4

    申请日:2020-12-24

    Abstract: 公开了一种集成电路半导体器件,包括:衬底,包括第一表面和与第一表面相对的第二表面;沟槽,在衬底中,沟槽从衬底的第一表面朝向衬底的第二表面延伸;硅通孔(TSV)着陆部,在沟槽中,TSV着陆部具有与衬底的第一表面间隔开的第一部分,以及第一部分与衬底的第一表面之间的第二部分,第一部分比第二部分宽;TSV孔,在衬底中,TSV孔从衬底的第二表面延伸并且与TSV着陆部的底表面对齐;以及TSV,在TSV孔中并且与TSV着陆部的底表面接触。

Patent Agency Ranking