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公开(公告)号：CN116208224A
公开(公告)日：2023-06-02
申请号：CN202211632287.0
申请日：2022-12-19
Applicant: 上海精密计量测试研究所
IPC: H04B7/185
Abstract: 本发明提出一种高速基带设备多普勒频率变化率的校准装置和方法。本发明基于多普勒频率产生原理和卫星运动轨迹具有周期性的特点，通过分别对最大多普勒频偏和多普勒频率扫描周期(以下简称扫描周期)校准后，再通过计算合成得到多普勒频率变化率参数。本发明提供的多普勒频率变化率的校准装置包含最大多普勒频偏校准单元、扫描周期校准单元及多普勒频率变化率合成单元，硬件组成包含频谱分析仪、示波器和计算机。本发明解决了动态多普勒频率参数的准确校准以及量值溯源问题，算法简单、校准效率高，误差小，测量结果准确度高、测量设备可溯源性好，校准流程清晰，校准方法的可操作性强。
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公开(公告)号：CN116048322A
公开(公告)日：2023-05-02
申请号：CN202211708351.9
申请日：2022-12-29
Applicant: 上海精密计量测试研究所
IPC: G06F3/04815 , G06F3/0482 , G06F3/04842 , G06F3/04845 , G06F3/04847
Abstract: 本发明实施例提供了一种支持多种三维仿真的IETM的方法，其特征在于，包括步骤：步骤1：定义可解析的三维仿真文件；步骤2：对步骤1所述的三维仿真文件进行存储和管理；步骤3：采用数据模块XML文件引用所述三维仿真文件；步骤4：读取并判断所述三维仿真文件所属多媒体格式；步骤5：调用对应所述多媒体格式的显示窗口；步骤6：调用所述三维仿真文件的显示插件。
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公开(公告)号：CN116007494A
公开(公告)日：2023-04-25
申请号：CN202211611784.2
申请日：2022-12-14
Applicant: 上海精密计量测试研究所
Abstract: 本发明实施例提供了一种全自动大型构造件检测装置，其特征在于，包括：激光影像扫描系统、移动升降平台系统、控制终端、靶标、围栏及测量工装；其中，所述激光影像扫描系统至于所述围栏内，用于扫描待测物体；所述移动升降平台系统用于支撑并且控制所述激光影像扫描系统的位置；所述控制终端位于围栏外侧，用于控制所述激光影像扫描系统测量和移动走位；所述靶标均匀分布于大型构造件表面，用于多站位测量拼接成像数据；所述围栏用于区分工作区域与非工作区域，且起到安全防护作用；所述测量工装用于支撑所述待测物体；所述检测软件安装于控制终端。
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公开(公告)号：CN115902460A
公开(公告)日：2023-04-04
申请号：CN202211368561.8
申请日：2022-11-03
Applicant: 上海精密计量测试研究所
Abstract: 本发明公开了一种声表面波滤波器动态老炼系统，包括主控计算机、信号源、功率放大器、功分器、高温试验箱、负载、微波开关阵列、微波开关和功率计；所述高温箱中的老炼板设置有8个并联的工位，每个工位均可安装有一个声表面波滤波器；所述微波开关阵列共8组，每组两路，其中一路连接负载，另一路连接所述微波开关。本发明提供的声表面波滤波器动态高温老炼系统可以为被老炼的声表面波滤波器提供射频信号，在高温箱内进行动态老炼，并由计算机控制微波开关系统和功率计，检测滤波器的输出信号功率，实现对滤波器性能状态的实时监控。
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公开(公告)号：CN115524008A
公开(公告)日：2022-12-27
申请号：CN202211113584.4
申请日：2022-09-14
Applicant: 上海精密计量测试研究所
Abstract: 本发明提供了一种红外实时监测功率二极管芯片温度的方法，其特征在于，包括：在待测功率二极管芯片表面制备碳化硼‑聚酰亚胺涂层；将功率二极管芯片接入老化电路，采用发射率校准红外法实时监测功率二极管芯片温度。本发明通过在芯片表面制备发射率ε均匀一致的碳化硼‑聚酰亚胺涂层，解决了因芯片表面材料发射率ε不一致而无法采用传统红外法准确测试芯片温度的问题，同时验证了涂层不会影响芯片表面电流和温度的分布状态。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN112798015B
公开(公告)日：2022-10-14
申请号：CN202011534838.0
申请日：2020-12-22
Applicant: 上海精密计量测试研究所
IPC: G01C25/00
Abstract: 本发明提供了一种动态角校准装置，包括：通用转接板、多自由度微动调节台、圆光栅轴套工装、精密圆光栅盘、光栅读数头及读数头调整工具、读数头安装调节座和上位机等，本发明针对国防军工型号产品生产测试中作为专用测试设备的多轴转台，本发明设计了一种结构紧凑、安装方便、测量准确度高的转台角运动参数校准的在线校准装置。
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公开(公告)号：CN114894837A
公开(公告)日：2022-08-12
申请号：CN202210477013.2
申请日：2022-05-02
Applicant: 上海精密计量测试研究所
Abstract: 本发明的定量评估铝基板表面微弧氧化膜散热性和绝缘性的方法包括：制备微弧氧化膜厚度不同的铝合金基板作为标定基板；表征铝合金基板表面微弧氧化膜厚度与铝合金基板绝缘性能的关系；在各标定基板上封装LED芯片制得标定样品；采用瞬态热阻法测试各标定样品的热阻；根据微分函数曲线确定微弧氧化膜厚度与微弧氧化膜热阻的独立关系；根据微弧氧化膜厚度、微弧氧化膜热阻和铝合金基板绝缘性能的关系，判定微弧氧化膜的安全厚度范围。本发明解决了现有技术既无法独立评估铝基板表面微弧氧化膜厚度对微弧氧化膜热阻的影响，又没有确定微弧氧化膜最小临界厚度的问题。
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公开(公告)号：CN111060796B
公开(公告)日：2022-06-24
申请号：CN201911262362.7
申请日：2019-12-11
Applicant: 上海精密计量测试研究所 , 上海航天控制技术研究所
IPC: G01R31/26
Abstract: 本发明实施例提供了一种用于光敏三级管空间位移效应检测方法，其特征在于，包括步骤：步骤1：将辐照电路单元送入位于质子加速器束流出口处；其中，辐照电路单元包括：光电转换单元、电压采集单元、偏置电路以及至少两个光敏三级管；步骤2：加工作电压对辐照电路单元进行辐照前通电测试，确保其能正常工作；步骤3：开始质子辐照试验，试验过程中通过路径选通切换单元实时记录采样电压；步骤4：改变试验条件，测试光敏三级管质子辐射下的测试数据。
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公开(公告)号：CN114494679A
公开(公告)日：2022-05-13
申请号：CN202111504588.0
申请日：2021-12-10
Applicant: 上海精密计量测试研究所
IPC: G06V10/22 , G06F40/279 , G06F40/216
Abstract: 本发明提供了一种双层PDF生成及校对方法和装置，针对OCR引擎识别结果进行二次处理，将识别结果整理成逻辑完整的段落，再以段落为单位，针对段落句子从字粒度和词粒度两方面进行错误检测和错误纠错，最后根据纠错结果进一步生成双层PDF文档。装置主要包括OCR识别引擎、存储模块、段落合成模块、错误检测纠正模块和输出模块。
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公开(公告)号：CN113900367B
公开(公告)日：2022-04-19
申请号：CN202111124208.0
申请日：2021-09-24
Applicant: 上海精密计量测试研究所
Abstract: 本发明提供了一种氢原子钟频率驾驭系统，包括主钟系统、共视比对接收机和中心服务器；所述主钟系统包括氢原子钟和相位微调器，氢原子钟将时间基准信号输入到相位微调器进行处理；相位微调器将处理后形成1PPS信号，并将1PPS信号输入到共视比对接收机；共视比对接收机通过天线接收卫星信号，并将1PPS信号和卫星信号进行比对，形成共视比对数据文件；主钟系统通过相位微调器将共视比对数据文件通过网络发送给中心服务器，中心服务器对共视比对数据文件进行处理，将反馈调整量返回至相位微调器，完成氢原子钟频率驾驭。
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