公开(公告)号：CN115273958A

公开(公告)日：2022-11-01

申请号：CN202210644934.3

申请日：2022-06-08

Applicant: 上海精密计量测试研究所

Inventor： 王立恒 ,  王昆黍 ,  楼建设 ,  江芸 ,  游君

IPC: G11C29/56 ,  H05K1/18

Abstract: 本发明提供了一种基于T5385ES测试设备的测试接口装置，其特征在于，其只由一块母板测试板组成，包括测试设备接口、POGO PIN接口，所述POGOPIN接口与测试设备接口采用PCB走线进行连接，所述测试设备接口采用同轴接口模块与T5385ES测试设备硬件资源连接，所述POGO PIN接口与测试接口子板连接，为被测器件DUT提供电源及输入输出信号。本发明提供的T5385ES测试设备改进型接口母板设计，用POGO PIN连接器替代传统的矩形电连接器、印制板电连接器，用印制板走线替代低频线缆、数据线缆，使测试设备接口装置更加小巧、轻薄，更节约空间，简化装配流程，易于维修，而且传输速率更快，更好的发挥T5385ES性能，满足高速存储器测试需求。

公开(公告)号：CN115524008A

公开(公告)日：2022-12-27

申请号：CN202211113584.4

申请日：2022-09-14

Applicant: 上海精密计量测试研究所

Inventor： 陈凡 ,  王昆黍 ,  宋翔 ,  游君 ,  陈龙

IPC: G01J5/00 ,  G01J5/02 ,  G01R31/26

Abstract: 本发明提供了一种红外实时监测功率二极管芯片温度的方法，其特征在于，包括：在待测功率二极管芯片表面制备碳化硼‑聚酰亚胺涂层；将功率二极管芯片接入老化电路，采用发射率校准红外法实时监测功率二极管芯片温度。本发明通过在芯片表面制备发射率ε均匀一致的碳化硼‑聚酰亚胺涂层，解决了因芯片表面材料发射率ε不一致而无法采用传统红外法准确测试芯片温度的问题，同时验证了涂层不会影响芯片表面电流和温度的分布状态。

公开(公告)号：CN214794502U

公开(公告)日：2021-11-19

申请号：CN202120121632.9

申请日：2021-01-16

Applicant: 上海精密计量测试研究所

Inventor： 杜林 ,  圣冬冬 ,  王海涛 ,  楼建设 ,  游君 ,  刘港港

IPC: G01N21/88 ,  G01N21/01

Abstract: 本实用新型提供了一种裸芯片表面缺陷智能检测系统，包括相机、镜头、升降支架、检测工作台和计算机；裸芯片放置在检测工作台上，检测工作台通过导轨进行前后和左右移动；镜头安装在相机前端，用于对采集的裸芯片图像进行放大，镜头位于检测工作台正上方；相机安装在升降支架上，通过升降支架进行上下移动，调整相机与裸芯片之间的距离；计算机与相机通过网线连接，将相机采集的裸芯片图像进行处理，并通过检测模型对裸芯片图像进行识别，判断裸芯片是否存在缺陷，当裸芯片存在缺陷时，计算机通过连接的报警器进行报警。本实用新型有效避免了漏检情况的发生，大幅提升了缺陷识别检测效率，降低了人工劳动强度。