-
公开(公告)号：CN109655740B
公开(公告)日：2021-07-27
申请号：CN201811518304.1
申请日：2018-12-12
Applicant: 上海精密计量测试研究所 , 上海航天信息研究所
IPC: G01R31/3185
Abstract: 本发明提供K7系列FPGA内部CLB模块定位及通用性配置测试方法，包括：定位FPGA内部所有CLB模块的具体位置；对CLB模块阵列进行左右对等分，每等分中同行CLB模块并行，同列CLB模块串行进行配置，实现CLB资源的全覆盖；对配置的CLB模块阵列进行内建自测试，通过实际输出的数据与预期数据的比较，判断CLB模块阵列是否存在缺陷，若某个CLB模块出现问题，根据输出信号与时钟的对应关系，定位CLB模块出错的具体位置。本发明提供的K7系列FPGA内部CLB模块定位及通用性配置测试方法，实现了所有CLB模块的定位，不用计算“空洞”阵列具体位置，优化了配置程序，实现了最优化的配置次数，配置程序具有通用性，减少了程序重复编写的时间。
-
公开(公告)号：CN109655740A
公开(公告)日：2019-04-19
申请号：CN201811518304.1
申请日：2018-12-12
Applicant: 上海精密计量测试研究所 , 上海航天信息研究所
IPC: G01R31/3185
Abstract: 本发明提供K7系列FPGA内部CLB模块定位及通用性配置测试方法，包括：定位FPGA内部所有CLB模块的具体位置；对CLB模块阵列进行左右对等分，每等分中同行CLB模块并行，同列CLB模块串行进行配置，实现CLB资源的全覆盖；对配置的CLB模块阵列进行内建自测试，通过实际输出的数据与预期数据的比较，判断CLB模块阵列是否存在缺陷，若某个CLB模块出现问题，根据输出信号与时钟的对应关系，定位CLB模块出错的具体位置。本发明提供的K7系列FPGA内部CLB模块定位及通用性配置测试方法，实现了所有CLB模块的定位，不用计算“空洞”阵列具体位置，优化了配置程序，实现了最优化的配置次数，配置程序具有通用性，减少了程序重复编写的时间。
-
公开(公告)号：CN106847343A
公开(公告)日：2017-06-13
申请号：CN201611122146.9
申请日：2016-12-08
Applicant: 上海精密计量测试研究所 , 上海航天信息研究所
IPC: G11C29/56
CPC classification number: G11C29/56 , G11C2029/5606
Abstract: 本发明提供一种基于自动测试设备的MARM存储器的测试方法，所述测试方法包括：步骤S1，将自动测试设备与MARM 存储器电连接；步骤S2，对MRAM存储器进行全芯片存储单元读写功能验证；步骤S3，根据MARM存储器工作参数设定要求，对MARM存储器进行直流参数验证和交流参数验证。本发明提供的方法利用自动测试设备针对MARM存储器进行测试，能够发现MARM存储器的故障，所述测试方法能够检测MARM存在的各种可能的失效模式，包括：全芯片存储单元读写功能验证；直流参数验证和交流参数验证。
-
Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN111123184A
公开(公告)日：2020-05-08
申请号：CN201911081428.2
申请日：2019-11-07
Applicant: 上海精密计量测试研究所
Abstract: 本发明实施例提供了一种FPGA结温测试的校准装置，其特征在于，包括设置在高低温箱内的待结温测试的FPGA，和与FPGA的结温测试管脚连接的温度AD转换器；以及设置在高低温箱外的第一数字处理单元，所述第一数字处理单元用于解析并显示所述温度AD转换器输出的表征温度的数字信号；以及第一电源组和第二电源组，其中，第一电源组为FPGA模块供电，所述第二电源组为该校准装置的其他元件供电；当测试时，电源组A停止对FPGA供电，电源组B持续供电。
-
公开(公告)号：CN115273958A
公开(公告)日：2022-11-01
申请号：CN202210644934.3
申请日：2022-06-08
Applicant: 上海精密计量测试研究所
Abstract: 本发明提供了一种基于T5385ES测试设备的测试接口装置，其特征在于，其只由一块母板测试板组成，包括测试设备接口、POGO PIN接口，所述POGOPIN接口与测试设备接口采用PCB走线进行连接，所述测试设备接口采用同轴接口模块与T5385ES测试设备硬件资源连接，所述POGO PIN接口与测试接口子板连接，为被测器件DUT提供电源及输入输出信号。本发明提供的T5385ES测试设备改进型接口母板设计，用POGO PIN连接器替代传统的矩形电连接器、印制板电连接器，用印制板走线替代低频线缆、数据线缆，使测试设备接口装置更加小巧、轻薄，更节约空间，简化装配流程，易于维修，而且传输速率更快，更好的发挥T5385ES性能，满足高速存储器测试需求。
-
公开(公告)号：CN111104101A
公开(公告)日：2020-05-05
申请号：CN201911081079.4
申请日：2019-11-07
Applicant: 上海精密计量测试研究所
IPC: G06F8/30
Abstract: 本发明实施例提供了一种存在slice空洞的FPGA进位链的构造方法，其特征在于，包括步骤：判断当前位置为slice或空洞；判断前一个位置为slice或空洞；根据当前位置与前一个位置的情况，执行新建进位链或级联或者既不新建也不级联；根据上述方法遍历所有位置；以及一种采用上述方法构造的进位链的测试方法，包括：进位链贯穿多个slice，每个slice各包含一个片段，每个片段包含多个基元，其中，步骤1，判断基元的正确性；步骤2，判断相邻的每两个基元的连接关系的正确性；其中步骤1和步骤2采用测试用例进行正确性的判断。
-
公开(公告)号：CN211979182U
公开(公告)日：2020-11-20
申请号：CN201921931514.3
申请日：2019-11-07
Applicant: 上海精密计量测试研究所
IPC: G01R35/00
Abstract: 本实用新型实施例提供了一种FPGA结温测试的校准装置，其特征在于，包括设置在高低温箱内的待结温测试的FPGA，和与FPGA的结温测试管脚连接的温度AD转换器；以及设置在高低温箱外的第一数字处理单元，所述第一数字处理单元显示所述温度AD转换器输出的表征温度的数字信号；以及第一电源组和第二电源组，其中，第一电源组为FPGA模块供电，所述第二电源组为该校准装置的其他元件供电；当测试时，电源组A停止对FPGA供电，电源组B持续供电。
-
公开(公告)号：CN213042271U
公开(公告)日：2021-04-23
申请号：CN202021356576.9
申请日：2020-07-10
Applicant: 上海精密计量测试研究所
IPC: G06F11/22
Abstract: 本实用新型提供一种V4型FPGA在线配置测试接口板，所述接口板上设置有I/O接口、电源接口和配置接口；I/O接口连接被测FPGA的I/O引脚与测试设备的数字通道，对FPGA输入信号以及对输出信号进行比较判断；电源接口连接被测FPGA的电源引脚与测试设备的电源模块，对FPGA电源进行供电；配置接口与测试设备的数字通道直接连接。本实用新型解决的问题是提供一种在线配置FPGA的测试接口板，以解决配置程序容量有限的问题，以及每次配置程序加载，操作复杂、无法自动测试、效率不高的问题和减少硬件资源配置，降低测试接口板成本的问题，并且解决J750‑EX测试设备硬件资源与FPGA电源驱动电流无法匹配的问题。
-
-
-
-
-
-
-
Search Results
8
records
(took 0.028 seconds)
